投影测量治具及测量方法技术

技术编号:14899199 阅读:91 留言:0更新日期:2017-03-29 14:18
本发明专利技术涉及一种投影测量治具及测量方法,投影测量治具包括:透明基板,所述透明基板用于承载待测量工件且布设有多个通孔;固定板,与所述透明基板的侧边抵持,用于固定所述透明基板;多个定位销,分别插接于所述多个通孔,用于将所述待测量工件固定于所述透明基板。上述投影测量治具,由于透明基板设置有通孔及定位销,使得可以在透明基板上对不同尺寸规格的产品进行投影测量,整体结构简单、操作便捷,测量效率高,成本低,能适应对不同产品进行快速测量的要求,通用性高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量工装领域,特别是涉及一种投影通用测量治具及测量方法。
技术介绍
传统的投影测量仪上配备有工作台,工作台上设置有工位,对产品进行投影测量时,将工件卡在工位进行测量,随着3C产品需求的日益增长,对各类3C产品的开发周期越来越短,测量任务重,而各类3C产品规格不一,其外壳形状也不一,需要使用不同的治具对其测量,导致测量效率低,成本也增加,传统的投影测量治具难以满足对产品的测量需求。
技术实现思路
基于此,有必要提供一种成本低、测量效率高且通用性高的投影测量治具及测量方法。一种投影测量治具,包括:透明基板,所述透明基板用于承载待测量工件且布设有多个通孔;固定板,与所述透明基板的侧边抵持,用于固定所述透明基板;多个定位销,分别插接于所述多个通孔,用于将所述待测量工件固定于所述透明基板。在其中一个实施例中,所述定位销包括第一定位销和第二定位销,所述第一定位销与所述待测量工件的底面抵持接触,用于支撑所述待测量工件,所述第二定位销与所述待测量工件的侧壁抵持接触。在其中一个实施例中,其还包括设置在所述透明基板顶面的定位块,所述定位块沿高度方向开设有适配于所述第二定位销的长孔,所述第二定位销插接于所述长孔内并伸入所述通孔,所述定位块的侧壁与所述待测量工件的侧壁抵持。在其中一个实施例中,所述定位块包括第一定位块和第二定位块,所述第一定位块、第二定位块皆呈L型,所述第一定位块、第二定位块的内侧壁分别与所述待测量工件的两个边角的邻接的两个侧壁抵持。在其中一个实施例中,所述第一定位块、第二定位块与所述待测量工件相对的两个侧壁分别凸出设置有定位凸台,所述定位凸台与所述待测量工件的侧壁抵持。在其中一个实施例中,所述通孔包括呈矩阵布设的多个第一通孔、并排布设于靠近所述透明基板侧边及两排所述第一通孔之间的多个第二通孔,所述第一定位销插设于所述第一通孔,所述第二定位销插设于所述第二通孔。在其中一个实施例中,所述第一定位销包括同轴设置的直杆部和头部,所述直杆部和头部皆呈圆柱状,所述直杆部的直径小于所述头部的直径。在其中一个实施例中,所述透明基板呈矩形,所述固定板包括分别抵靠在所述透明基板相邻的两个侧边的第一固定板、第二固定板,所述第二固定板的一端与所述第一固定板抵持。一种利用上述投影测量治具的测量方法,步骤包括:提供待测量工件,所述待测量工件的底面为平面;将所述第二定位销穿过所述第一定位块的长孔及对应的第一通孔,使所述第一定位块固定于所述透明基板;将所述待测量工件放置于所述透明基板的顶面并使所述待测量工件的一个边角的邻接的两个侧壁与所述第一定位块的两个定位凸台抵持;将所述第二定位块放置于所述透明基板的顶面并使所述第二定位块的两个定位凸台于所述待测量工件的另一个边角的邻接的两个侧壁抵持,将所述第二定位销穿过所述第二定位块的长孔及对应的第一通孔,使所述待测量工件固定于所述透明基板;开启投影仪,对所述透明基板上的待测量工件进行测量,获得待测量工件的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。一种利用上述投影测量治具的测量方法,步骤包括:提供待测量工件,所述待测量工件的正、反面分别具有凹凸部;根据所述待测量工件反面凹凸部的分布,在所述透明基板上插设多个所述第一定位销;将多个所述第二定位销分别插设于多个所述第二通孔;将所述待测量工件放置于所述透明基板的顶面,所述第一定位销与所述待测量工件反面未设置有凹凸部的部位抵持,同时使所述待测量工件的一个侧壁与多个所述第二定位销抵靠;开启投影仪,对所述透明基板上的待测量工件进行测量,获得待测量工件的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。上述投影测量治具,由于透明基板设置有通孔及定位销,使得可以在透明基板上对不同尺寸规格的产品进行投影测量,整体结构简单、操作便捷,测量效率高,成本低,能适应对不同产品进行快速测量的要求,通用性高。附图说明图1为本专利技术投影测量治具实施例的立体结构示意图;图2为本专利技术投影测量治具实施例的俯视结构示意图;图3为本专利技术投影测量治具另一实施例的立体结构示意图;图4为本专利技术投影测量治具另一实施例的俯视结构示意图;图5为正反面具有凹凸部的待测量工件的立体结构示意图;图6为第一定位销支撑待测量工件的仰视结构示意图;图7为第一定位销的侧视结构示意图;图8为同时对不同类型的待测量工具进行装夹的俯视结构示意图;图9为本专利技术投影测量治具的测量方法实施例的流程框图;图10为本专利技术投影测量治具的测量方法另一实施例的流程框图。具体实施方式为了便于理解本专利技术,下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施方式。但是,本专利技术可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施方式。相反地,提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。需要说明的是,当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参阅图1、图2,本专利技术提供的投影测量治具,包括透明基板100、固定板200及多个定位销,透明基板100用于承载待测量工件,透明基板100上布设有多个通孔110,待测量工件和透明基板100的顶面贴合,待测量工件可以但不限于是3C类产品,如手机、平板电脑、导航仪、电子书的外壳;固定板200和透明基板100的侧边抵持,用以固定透明基板100;多个定位销分别插接于透明基板100上的多个通孔110,用于对待测量工件进行定位并且将待测量工件固定于透明基板100。操作时,透明基板100及固定板200放置于工作台600上,透明基板100的侧边与工作台的侧边平行。由于设置有通孔110及定位销,使得可以在透明基板100上对不同尺寸规格的产品进行投影测量,整体结构简单、操作便捷,测量效率高,成本低,能适应对不同产品进行快速测量的要求。如图1、图2及图6、图7所示,在一实施例中,定位销包括第一定位销330和第二定位销300,第一定位销330与待测量工件的底面抵持接触,用以支撑待测量工件,第二定位销300与待测量工件的侧壁抵持接触,用于对待测量工件进行定位。透明基板100上的通孔110可以设置为圆孔,第一定位销330、第二定位销300适配插接于圆孔。如图1至图3所示,对简单的待测量工件,例如底面为平整或大部分平整的待测量工件,可以在透明基板100上增加定位块,用于对待测量工件进行定位。定位块沿高度方向开设有适配于第二定位销300的长孔411,第二定位销300插设于长孔411并伸入透明基板100的通孔110内(图1中未示出),定位块400的内侧壁与待测量工件的侧壁抵持。更为详细的,定位块400包括第一定位块410、第二定位块420,两个定位块的尺寸大小轮廓可以设置成相同的。第一定位块410、第二定位块420可本文档来自技高网
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投影测量治具及测量方法

【技术保护点】
一种投影测量治具,其特征在于,包括:透明基板,所述透明基板用于承载待测量工件且布设有多个通孔;固定板,与所述透明基板的侧边抵持,用于固定所述透明基板;多个定位销,分别插接于所述多个通孔,用于将所述待测量工件固定于所述透明基板。

【技术特征摘要】
1.一种投影测量治具,其特征在于,包括:透明基板,所述透明基板用于承载待测量工件且布设有多个通孔;固定板,与所述透明基板的侧边抵持,用于固定所述透明基板;多个定位销,分别插接于所述多个通孔,用于将所述待测量工件固定于所述透明基板。2.根据权利要求1所述的投影测量治具,其特征在于,所述定位销包括第一定位销和第二定位销,所述第一定位销与所述待测量工件的底面抵持接触,用于支撑所述待测量工件,所述第二定位销与所述待测量工件的侧壁抵持接触。3.根据权利要求2所述的投影测量治具,其特征在于,其还包括设置在所述透明基板顶面的定位块,所述定位块沿高度方向开设有适配于所述第二定位销的长孔,所述第二定位销插接于所述长孔内并伸入所述通孔,所述定位块的侧壁与所述待测量工件的侧壁抵持。4.根据权利要求3所述的投影测量治具,其特征在于,所述定位块包括第一定位块和第二定位块,所述第一定位块、第二定位块皆呈L型,所述第一定位块、第二定位块的内侧壁分别与所述待测量工件的两个边角的邻接的两个侧壁抵持。5.根据权利要求4所述的投影测量治具,其特征在于,所述第一定位块、第二定位块与所述待测量工件相对的两个侧壁分别凸出设置有定位凸台,所述定位凸台与所述待测量工件的侧壁抵持。6.根据权利要求2所述的投影测量治具,其特征在于,所述通孔包括呈矩阵布设的多个第一通孔、并排布设于靠近所述透明基板侧边及两排所述第一通孔之间的多个第二通孔,所述第一定位销插设于所述第一通孔,所述第二定位销插设于所述第二通孔。7.根据权利要求2所述的投影测量治具,其特征在于,所述第一定位销包括同轴设置的直杆部和头部,所述直杆部和头部皆呈圆柱状,所述直杆部的直径小于所述头部的直径。8.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊小虎
申请(专利权)人:东莞长盈精密科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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