放置用于多位测试的单体半导体设备的系统和方法技术方案

提供了用于多位放置单体半导体设备的系统和方法。用于多位放置的系统和方法可以促进单体半导体设备的多位测试。一种方法可以包括确定要设置在测试配置中的单体半导体设备的数量。该方法还包括响应于该数量利用数据处理设备来确定测试配置。在其他实施例中，该方法可以包括将单体半导体设备放置在根据该测试配置的测试框架中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术总体上涉及半导体设备，并且更具体地，涉及放置用于多位测试的单体半导体设备的系统和方法。
技术介绍
半导体供应链通常包括很多数量的不同部门。例如，半导体设计公司可以提供半导体设计布板给半导体制造商。半导体制造商可以将半导体设备制造在半导体晶片上。半导体制造商可以提供晶片给设备组装者，用于设备切割和封装。在组装过程期间，设备组装者可以测试单体半导体设备以确保单体半导体设备是可操作的。在其他供应链模式中，设备组装者可以提供单体半导体设备的封装给设备测试者用于独立测试。可以通过将半导体设备捆扎在带条中并且将带条卷成卷筒来封装半导体设备以用于运输。当在本文中使用时，术语\封装\是指用于运输单体半导体设备的运输封装，而不是包括壳体和用于与半导体设备相互作用的外部电连接的半导体芯片封装。替代地，半导体设备可以封装在叠片、带盘等中用于运输。设备测试的现有技术方法包括用单位测试探头一个接一个地测试单体半导体设备。
技术实现思路
提供了用于多位放置单体半导体设备的系统和方法。在其他实施例中，用于多位放置的系统和方法可以促进单体半导体设备的多位测试。根据本专利技术的实施例，一种方法可以包括确定要设置在测试配置中的单体半导体设备的数量。该方法还可以包括响应于该数量利用数据处理设备确定测试配置。在其他实施例中，该方法可以包括将单体半导体设备放置在根据该测试配置的测试框架中。该方法的一些实施例还可以包括确定要使用来测试单体半导体设备的测试探头配置，并且识别增强测试探头的使用的测试配置。附加地，该方法可以包括优化测试配置以最小化测试单体半导体设备的成本。在一些实施例中，确定测试配置可以包括确定在单体半导体设备之间的间隔。在该方法的一些实施例中，该方法可以包括产生响应于测试配置的框架映射，框架映射限定单体半导体设备在测试框架上的布置。产生框架映射可以还包括识别单体半导体设备沿着框架的第一轴线的间隔。在该方法的其他实施例中，产生框架映射可以包括识别单体半导体设备沿着框架的第二轴线的间隔。还在该方法的其他实施例中，产生框架映射可以包括识别单体半导体设备相对于在框架上的参考点的径向位置。在该方法的一些实施例中，该方法可以还包括识别在一组份单体半导体设备中的单体半导体设备的数量。该方法可以还包括响应于确定该数量小于阈值而将单体半导体设备指定为废料。附加地，该方法可以包括响应于确定期望测试成品率没有满足阈值而将单体半导体设备指定为废料。一些实施例中，该方法可以包括根据测试配置来放置单体半导体设备。该方法可以还包括测试一组单体半导体设备，该组单体半导体设备根据测试配置布置。根据本专利技术的这些和其他实施例，一种系统可以包括处理设备，其配置为，接收要布置在阵列中的单体半导体设备的数量，并且响应于该数量利用数据处理设备来确定测试配置。该系统可以还包括放置设备，其配置为根据测试配置将单体半导体设备放置在测试框架中。附加地，在一些实施例中，该系统可以包括多位测试探头，其配置为接触单体半导体设备并且同步进行在多个单体半导体设备上的电测试。该系统可以还包括运输封装分隔器，配置为将第一组单体半导体设备与第二组单体半导体设备分隔。在这些实施例中，可以在第一份中制造第一组单体半导体设备并且在第二份中制造第二组单体半导体设备。在一些实施例中，该系统可以还包括测试设备，其被配置为测试在测试框架中的单体半导体设备。测试设备可以包括测试探头。附加地，处理设备可以配置为响应于测试探头的配置来确定测试配置。从本文包括的附图、说明书和权利要求，本专利技术的技术优点对本领域的技术人员来说是显而易见的。实施例的目的和优点将至少由特别在权利要求中指出的元件、特征和组合来实现和完成。可以理解前面的一般性描述和后面的详细描述是示例性示例，并且不限制在本专利技术中提出的权利要求。附图说明本专利技术借由示例图示并且不由附图限制，其中相同参考标记表示相似元件。在附图中的元件被简单和清晰地图示，并且不需要按规格画出。图1为图示根据本专利技术实施例用于多位放置单体半导体设备的示例系统的原理性方框图。图2为图示根据本专利技术实施例用于多位放置单体半导体设备的示例处理设备的原理性方框图。图3为图示根据本专利技术实施例用于多位放置单体半导体设备的数据处理系统的示例的原理性方框图。图4为图示根据本专利技术实施例的示例测试探头的视图。图5为图示根据本专利技术实施例用于多位放置单体半导体设备的方法的示例的流程图。图6为图示根据本专利技术实施例用于多位放置单体半导体设备的方法的另一个示例的流程图。图7为图示根据本专利技术实施例用于多位放置单体半导体设备的方法的另一个示例的流程图。图8为图示根据本专利技术实施例放置在测试框架中的一组单体半导体设备的另一个示例的视图。图9为图示根据本专利技术实施例以水平侧向间隔布置的一组单体半导体设备的另一个示例的视图。图10为图示根据本专利技术实施例以竖直侧向间隔布置的一组单体半导体设备的另一个示例的视图。图11为图示根据本专利技术实施例绕着在测试框架上的参考点布置的一组单体半导体设备的另一个示例的视图。图12为图示根据本专利技术实施例用于根据本专利技术实施例多位放置单体半导体设备的框架映射的另一个示例的视图。具体实施例图1为图示根据本专利技术实施例用于多位放置单体半导体设备的示例系统的原理性方框图。如图1所示，系统100可以包括测试配置处理器102。测试配置处理器102可以接收关于运输封装104a和关于测试设备112的信息并且从在测试框架110中的运输封装104a产生用于放置单体半导体设备的测试配置，其至少可以大体上为晶片形用于多位测试。例如，测试配置处理器102可以接收要布置的单体半导体设备的数量。测试配置处理器102可以然后确定响应于该数量的测试配置以及确定要使用在测试设备112中的测试探头的探头配置。测试探头配置信息可以包括位于测试探头上的触片的数量、朝向、尺寸和间距。在某些实施例中，运输封装104a可以是多份封装，意味着将制造在不同份中的单体半导体设备包括在相同运输封装104a中。在一些实施例中，这些份可以由封装分隔器106分隔。在这些和其他实施例中，测试配置处理器102可以使用份信息指导封装分隔器106如何分隔在运输封装104a中的单体半导体设备。在替代实施例中，封装分隔器106可以例如使用印记在运输封装104a上的运输和封装信息等自动地确定份信息。在这些实施例中，运输封装分隔器106可以提供份信息给测试配置处理器102，其可以使用份信息来更新测试配置。例如，份信息可以修改由测试配置处理器102接收的数量信息。在一些实施例中，测试配置处理器102可以确定用于放置单体半导体设备的测试配置。在这些实施例中，测试配置处理器102可以提供测试配置给放置设备108。例如，测试配置处理器102可以经由对等或网络连接来提供测试配置给放置设备108。替代地，测试配置处理器102可以产生测试配置文件，其可以被上传或甚至被使用来配置放置设备108。放置设备108可以然后从运输封装分隔器106或直接从运输封装104a接收单体半导体设备。放置设备108可以配置为根据由测试配置处理器102提供的测试配置来放置单体半导体设备到测试框架110。一旦单体半导体设备被放置在测试框架110中，单体半导体设备的多点测试可以由测试设备112实施。在该实施例中，测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，包括：确定要设置在测试配置中的单体半导体设备的数量；以及响应于该数量利用数据处理设备确定测试配置，其中测试配置可布置在测试框架上，其允许由多点测试探头来多点测试探测单体半导体设备。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.05.23 US 62/002,7011.一种方法，包括：确定要设置在测试配置中的单体半导体设备的数量；以及响应于该数量利用数据处理设备确定测试配置，其中测试配置可布置在测试框架上，其允许由多点测试探头来多点测试探测单体半导体设备。2.如权利要求1所述的方法，其中确定测试配置包括：确定要使用来测试单体半导体设备的测试探头配置；以及识别增强测试探头的使用的测试配置。3.如权利要求2所述的方法，还包括优化测试配置以使测试探头需要的触片数量最少。4.如权利要求2所述的方法，其中测试探头配置用于测试在分割前的晶片上的设备，并且测试配置被配置为将单体半导体设备布置在大体上晶片形的测试框架上以允许测试探头测试单体半导体设备。5.如权利要求1所述的方法，其中确定测试配置还包括确定在单体半导体设备之间的间距。6.如权利要求1所述的方法，还包括响应于测试配置时产生框架映射，框架映射限定单体半导体设备在测试框架上的布置。7.如权利要求6所述的方法，其中产生框架映射还包括识别沿着框架第一轴线的单体半导体设备的间距。8.如权利要求7所述的方法，其中产生框架映射还包括识别沿着框架第二轴线的单体半导体设备的间距。9.如权利要求6所述的方法，其中产生框架映射还包括识别单体半导体设备相对于在框架上的参考点的径向位置。10.如权利要求1所述的方法，还包括确定在一组份单体半导体设备中的单体半导体设备的数量。11.如权利要求1所述的方法，还包括响应于确定该数量小于阈值，将单体半导体设备指定为废料。12.如权利要求1所述的方法，还包括响应于确定期望测试成品率小于阈值，将单体半...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·J·加布里埃尔三世，黄彦凯，
申请(专利权)人：美国思睿逻辑有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US