一种测量零件上的斜面交点距离尺寸的量规制造技术

技术编号:14830104 阅读:73 留言:0更新日期:2017-03-16 16:12
本实用新型专利技术提供一种测量零件上的斜面交点距离尺寸的量规,测量块固定于底板的右前角,其左后角设有与测量块的后面向左延伸的延伸面之间形成与零件上的限位角相等的测量角的测量斜面,定位块整体固定于底板上并位于测量块的左后方且其前面位于测量块的后面的前方,其后面与右侧面的交点到测量块的测量斜面的基本测量垂直距离大于零件的凸起部的底基面的右端与本体的左基面的顶端的交点至限位斜面的垂直距离,塞规包括塞规本体和连接于该塞规本体两端的其宽度分别等于基本测量垂直距离减去垂直距离的最大值或最小值的通端和止端,而垂直距离等于零件的本体的宽度加上斜面交点距离与零件上的限位角的正切的商,再乘以限位角的正弦值。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及机械测量,具体涉及一种测量零件上的斜面交点距离尺寸的量规
技术介绍
参见图1所示,在一些特殊机械中有一种起限位作用的零件5,其包括具有宽度t的本体5-1和由该本体5-1左端向左伸出的在装配时起装配定位作用的凸起部5-2,该凸起部5-2的底面为底基面A、本体5-1的左侧面位于凸起部5-2的底基面A之下的部分为左基面B,本体5-1的右侧面和底面之间设有由底面的左侧向上向右倾斜且远低于凸起部5-2的底基面A的起限位作用的限位斜面G。该限位斜面G的向上向外倾斜延伸的延伸线与本体5-1的底基面A水平向右延伸的延伸线之间形成限位角β1,而凸起部5-2的底基面A向右延伸的延伸线至限位角β1的顶点的距离,即底基面A向右延伸的延伸线至限位斜面G与本体5-1的右侧面的交点之间的垂直距离为斜面交点距离Z。该斜面交点距离Z直接影响零件5装配时的限位性能,是零件5是否合格的一个关键值,必须控制在其允许的最大尺寸和最小尺寸范围之内。因此,检测必须准确可靠。该斜面交点距离Z是一个点到一个面的距离,虽然可以采用三坐标机进行检测。然而,由于三坐标机体积庞大,使用环境要求较高,不能在生产现场使用。因而,采用三坐标机检测该斜面交点距离Z,只能将零件5转运到三坐标机所在处进行,检测很不方便,效率较低。同时,三坐标机价格昂贵,专门配制三坐标机检测该斜面交点距离Z,成本也较高。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种测量方便、效率较高的测量零件上的斜面交点距离尺寸的量规。为解决上述技术问题,本技术采取如下技术方案:一种测量零件上的斜面交点距离尺寸的量规,包括底板、测量块、塞规、定位块,其特征在于:所述测量块整体为矩形,固定于底板的右前角,其左后角设有测量斜面,该测量斜面与测量块的后面向左延伸的延伸面之间形成测量角,所述测量角与零件上的限位角相等,所述定位块整体为矩形、固定于底板上并位于测量块的左后方且其前面位于测量块的后面的前方,其后面与右侧面的交点到测量块的测量斜面的基本测量垂直距离大于零件的凸起部的底基面的右端与本体的左基面的顶端的交点至限位斜面的垂直距离,所述塞规包括塞规本体和连接于该塞规本体两端的通端和止端,所述通端的宽度等于所述基本测量垂直距离减去垂直距离的最大值,所述止端的宽度等于所述基本测量垂直距离减去垂直距离的最小值,其中,垂直距离等于零件的本体的宽度加上斜面交点距离与零件上的限位角的正切的商,再乘以限位角的正弦值。进一步地,所述基本测量垂直距离大于垂直距离约10mm。进一步地,所述定位块和测量块均采用螺钉或者销固定在底板上。进一步地,所述测量块的前面位于测量块的后面的前方尺寸等于零件的斜面交点距离的值加上15mm。与现有技术三坐标机相比,本技术包含如下有益效果:1、结构简单、制造容易,成本很低。2、可以在工作现场使用,测量比较方便、准确,测量效率较高。附图说明图1是零件的结构示意图;图2是本技术的使用状态示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术的优选实施方式做详细说明。参见图2,本技术测量零件上的斜面交点距离尺寸的量规,包括底板1、测量块2、塞规3、定位块4。由图2可见,所述测量块2整体为矩形,固定于底板1的右前角,其左后角设有测量斜面H,该测量斜面H与测量块2的后面向左延伸的延伸面(即图2中的虚线)之间形成测量角β2,所述测量角β2与零件上的限位角β1相等,所述定位块4整体为矩形、固定于底板1上并位于测量块2的左后方且其前面位于测量块2的后面的前方,其后面E与右侧面F的交点K到测量块2的测量斜面H的基本测量垂直距离d大于零件5的凸起部5-2的底基面A的右端与本体5-1的左基面B的顶端的交点至限位斜面G的垂直距离S,所述塞规3包括塞规本体3-2和连接于该塞规本体3-2两端的通端3-1和止端3-3,所述通端3-1的宽度H1等于所述基本测量垂直距离d减去垂直距离S的最大值,所述止端3-3的宽度H2等于所述基本测量垂直距离d减去垂直距离S的最小值,其中,垂直距离S等于零件5的本体5-1的宽度t加上斜面交点距离Z与零件上的限位角β1的正切的商,再乘以限位角β1的正弦值。该垂直距离S是为了使本技术的量规能够方便,准确可靠地测量斜面交点距离Z而通过将斜面交点距离Z转换为测量零件5的凸起部5-2的底基面A的右端与本体5-1的左基面B的交点至限位斜面G的垂直距离而设定的。这样一来,只要将塞规3的通端3-1或止端3-3的两个侧面分别贴靠在零件5的限位斜面G和测量块2的测量斜面H之间并前后移动,就能够根据塞规3的通端3-1或止端3-3的两个侧面分别贴靠在零件5的限位斜面G和测量块2的测量斜面H之间是否能够从前至后地移动通过,进而判断零件5的斜面交点距离Z是否合格。因此,与三坐标机相比,本技术的量规结构简单、制造容易,成本很低,本技术的量规可以在工作现场使用,测量比较方便、测量效率较高。所述基本测量垂直距离d大于垂直距离S约10mm。这样能够保证塞规3的通端3-1和止端3-3的宽度设计在10mm左右,防止塞规3的通端3-1和止端3-3的宽度太小而发生变形,同时还方便了塞规3的制造。由图2可见,所述定位块4和测量块2均采用螺钉固定在底板1上。这使得定位块4和测量块2的拆卸、装配及位置距离的调整均十分方便容易。当然,所述定位块4和测量块2均采用销子固定在底板1上。这同样使得定位块4和测量块2的拆卸、装配及位置距离的调整均十分方便容易。所述测量块2的前面位于测量块2的后面的前方尺寸等于零件5的斜面交点距离Z的值加上15mm。这样能够确保测量块2的测量斜面H与零件5的限位斜面G之间平行相对,并能够保证保证塞规3的通端3-1和止端3-3能够比较方便地进行测量。本技术使用过程如下;将零件5的左基面B靠在定位块4的右侧面F上并向前滑动,使零件5的底基面A紧靠在定位块4的后面E上;将零件5压紧定位块4的右侧面F,并使零件5的底基面A紧靠定位块4的后面E,再将塞规3的通端3-1或止端3-3的两个侧面分别贴靠在零件5的限位斜面G和测量块2的测量斜面H之间并前后移动;判断零件5的斜面交点距离Z是否合格,如果塞规3的通端3-1的两个侧面分别贴靠在零件5的限位斜面G和测量块2的测量斜面H之间并能够从前至后地移动通过,而塞规3的止端3-3的两个侧面分别贴靠在零件5的限位斜面G和测量块2的测量斜面H之间但是不能够从前至后地移动通过,则判断零件5的斜面交点距离Z合格;反之,如果塞规3的通端3-1的两个侧面分别贴靠在零件5的限位斜面G和测量块2的测量斜面H之间但是不能够从前至后地移动通过,而塞规3的止端3-3的两个侧面分别贴靠在零件5的限位斜面G和测量块2的测量斜面H之间并能够从前至后地移动通过,则判断零件5的斜面交点距离Z不合格。上面对本技术的优选实施方式所做的详细说明仅仅是对本技术作出的举例说明。本技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施方式进行各种各样的修改、补充或采用类似的方式替代,但并不会偏离本技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。本文档来自技高网
...
一种测量零件上的斜面交点距离尺寸的量规

【技术保护点】
一种测量零件上的斜面交点距离尺寸的量规,包括底板(1)、测量块(2)、塞规(3)、定位块(4),其特征在于:所述测量块(2)整体为矩形,固定于底板(1)的右前角,其左后角设有测量斜面(H),该测量斜面(H)与测量块(2)的后面向左延伸的延伸面之间形成测量角(β2),所述测量角(β2)与零件上的限位角(β1)相等,所述定位块(4)整体为矩形、固定于底板(1)上并位于测量块(2)的左后方且其前面位于测量块(2)的后面的前方,其后面(E)与右侧面(F)的交点(K)到测量块(2)的测量斜面(H)的基本测量垂直距离(d)大于零件(5)的凸起部(5‑2)的底基面(A)的右端与本体(5‑1)的左基面(B)的顶端的交点至限位斜面(G)的垂直距离(S),所述塞规(3)包括塞规本体(3‑2)和连接于该塞规本体(3‑2)两端的通端(3‑1)和止端(3‑3),所述通端(3‑1)的宽度(H1)等于所述基本测量垂直距离(d)减去垂直距离(S)的最大值,所述止端(3‑3)的宽度(H2)等于所述基本测量垂直距离(d)减去垂直距离(S)的最小值,其中,垂直距离(S)等于零件(5)的本体(5‑1)的宽度(t)加上斜面交点距离(Z)与零件上的限位角(β1)的正切的商,再乘以限位角(β1)的正弦值。...

【技术特征摘要】
1.一种测量零件上的斜面交点距离尺寸的量规,包括底板(1)、测量块(2)、塞规(3)、定位块(4),其特征在于:所述测量块(2)整体为矩形,固定于底板(1)的右前角,其左后角设有测量斜面(H),该测量斜面(H)与测量块(2)的后面向左延伸的延伸面之间形成测量角(β2),所述测量角(β2)与零件上的限位角(β1)相等,所述定位块(4)整体为矩形、固定于底板(1)上并位于测量块(2)的左后方且其前面位于测量块(2)的后面的前方,其后面(E)与右侧面(F)的交点(K)到测量块(2)的测量斜面(H)的基本测量垂直距离(d)大于零件(5)的凸起部(5-2)的底基面(A)的右端与本体(5-1)的左基面(B)的顶端的交点至限位斜面(G)的垂直距离(S),所述塞规(3)包括塞规本体(3-2)和连接于该塞规本体(3-2)两端的通端(3-1)和止端(3-3),所述通端(3...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄坤河刘琴李小春
申请(专利权)人:重庆望江工业有限公司
类型:新型
国别省市:重庆;50

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1