【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及零件的测量方法,尤其涉及一种薄壁曲面零件测量方法。
技术介绍
在工业部门,为节省材料、减轻重量而大量应用薄壁件做壳体,薄壁零件具有易成型加工、成本低和易于批量生产等优点,但是它在成型过程容易变形,导致加工精度很难保证,给测量带来不便。通常采用在工装上点压方式进行测量,即,用压块压在零件外表面用三坐标测量机测量,但此方法因受力不均容易导致被测量的薄壁零件二次变形,从而引起测量误差,且一些弹性模量小的脆性材料压在薄壁零件的表面容易压坏薄壁零件导致报废。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足,本专利技术提供一种薄壁曲面零件测量方法,将薄壁曲面零件放在检验工装上,在上面铺上一层厚度均匀的薄膜,将薄膜内抽成一定条件的负压,薄壁曲面零件在均匀大气压力下紧紧贴合于检验工装上。为此,本专利技术提供了薄壁曲面零件的测量方法,包括如下步骤:S1、将薄壁曲面零件建模;S2、设计检验工装;S3、将薄壁曲面零件放在检验工装上,在上面铺上薄膜,将薄膜内抽成一定条件的负压;S4、用模型做参考通过接触式三坐标测量机测量薄膜上的点,根据气压P计算应变;S5、通过应变和薄膜厚度补偿计算被测薄壁曲面零件的实际偏差,实现薄壁曲面零件测量。进一步地,所述步骤S1中,设计薄壁曲面零件的被测量理论曲面作为测量参考的模型。进一步地,所述步骤S2中,检验工装上留有基准用来建立坐标系方便测量。所述基准可以有很多种,比如三相垂直的平面、两点或一平面。进一步地,所述坐标系有选择地为笛卡尔坐标系或球坐标系中的一种。进一步地,所述步骤S2中,根据模型设计好检验工装后,用接触式三坐标测量机根据基准测量检验 ...
【技术保护点】
一种薄壁曲面零件测量方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、将薄壁曲面零件建模;S2、设计检验工装;S3、将薄壁曲面零件放在检验工装上,在上面铺上薄膜,将薄膜内抽成一定条件的负压;S4、用模型做参考通过接触式三坐标测量机测量薄膜上的点,根据气压P计算应变;S5、通过应变和薄膜厚度补偿计算被测薄壁曲面零件的实际偏差,实现薄壁曲面零件测量。
【技术特征摘要】
1.一种薄壁曲面零件测量方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、将薄壁曲面零件建模;S2、设计检验工装;S3、将薄壁曲面零件放在检验工装上,在上面铺上薄膜,将薄膜内抽成一定条件的负压;S4、用模型做参考通过接触式三坐标测量机测量薄膜上的点,根据气压P计算应变;S5、通过应变和薄膜厚度补偿计算被测薄壁曲面零件的实际偏差,实现薄壁曲面零件测量。2.根据权利要求1所述的一种薄壁曲面零件测量方法,其特征在于,所述步骤S1中,设计薄壁曲面零件的被测量理论曲面作为测量参考的模型。3.根据权利要求1所述的一种薄壁曲面零件测量方法,其特征在于,所述步骤S2中,检验工装上留有基准用来建立坐标系方便测量。4.根据权利要求3所述的一种薄壁曲面零件测量方法,其特征在于,所述坐标系有选择地为笛卡尔坐标系或球坐标系中的一种。5.根据权利要求3所述的一种薄壁曲面零件测量方法,其特征在于,所述步骤S2中,根据模型设计好检验工装后,用接触式三坐标测量机根据基准测量检验工装是否达到设计要求。6.根据权利要求1所述的一种薄壁曲面...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈胜昔,胡元刚,刘恩国,苏安军,范泽林,童万鹏,
申请(专利权)人:湖南中岳显控科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:湖南;43
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