一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置，装置包括：测试软件，与读卡器相连，用于读取智能卡与读卡器之间的通讯指令并显示；干扰噪声发生器，用于产生干扰信号，发送给智能卡；智能卡，接收干扰信号，出现CPU跑飞，在数据区写数据，确定智能卡跑飞次数；读卡器，用于同智能卡通讯。本发明专利技术还提供了一种评估智能卡CPU抗干扰能力的测试方法，采用本发明专利技术所述的装置和方法，可以提高统计智能卡抗干扰能力的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试方法，这种测试方法特别用于评估高可靠性智能卡芯片CPU的抗干扰能力。
技术介绍
智能卡的使用环境中，芯片不可避免受到来自系统外部的电磁信号干扰信号以及内部的自干扰信号，这些干扰信号导致智能卡芯片CPU跑飞，使系统异常运行，有时会寻址到逻辑指令中指定以外的地址上，当逻辑指令中指定以外的地址上存在某个逻辑指令时，就会执行该逻辑指令，当该逻辑指令刚好为写指令时，就会发生非正常改写存储器数据的情况。目前，对芯片CPU本身的抗干扰能力进行评估时，一般采用实际应用写指令外加环境干扰的方式进行，以智能卡功能是否正常为判定结果，跑飞时，改写的是关键数据，会出现智能卡功能不正常，但是，也有可能发生多次存储器数据改写，只有一次改写的是关键数据，用功能是否正常测试智能卡CPU抗干扰能力的随机性大，不完全真实反应其抗干扰能力。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了准确评估智能卡芯片CPU的抗干扰能力。实施本专利技术测试方法的测试系统，包括测试软件、被本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置，其特征在于，该装置包括：测试软件，与读卡器相连，用于读取智能卡与读卡器之间的通讯指令并显示；干扰噪声发生器，用于产生干扰信号，发送给智能卡；智能卡，接收干扰信号，出现CPU跑飞，在数据区写数据，确定智能卡跑飞次数；读卡器，用于同智能卡通讯。

【技术特征摘要】
1.一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置，其特征在于，该装置
包括：
测试软件，与读卡器相连，用于读取智能卡与读卡器之间的通讯指令并显示；
干扰噪声发生器，用于产生干扰信号，发送给智能卡；
智能卡，接收干扰信号，出现CPU跑飞，在数据区写数据，确定智能卡跑飞
次数；
读卡器，用于同智能卡通讯。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
测试软件，向读卡器循环发送非写指令，接收读卡器发送的执行结果；
读卡器，用于将非写指令发送给智能卡，将智能卡的执行结果发送给测试软
件。
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，
所述智能卡，出现跑飞时，执行CPU跑飞验证函数，在数据区写数据，并将
执行...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨利华，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11