一种倒车雷达自动测试装置制造方法及图纸

技术编号:14464171 阅读:57 留言:0更新日期:2017-01-20 15:53
本实用新型专利技术公开一种倒车雷达自动测试装置,包括测试架、三轴移动模块、三轴移动控制器、移动定位模块、移动定位控制器及测试画布;承载测试障碍物的三轴移动模块安装在测试架上,三轴移动模块沿测试架X轴、Y轴及Z轴方向移动,驱使测试障碍物位于测试画布的不同坐标位置,用于控制三轴移动模块移动模式的三轴移动控制器与三轴移动模块通讯连接;承载倒车雷达的移动定位模块安装在测试机架上,控制倒车雷达位置坐标,用于控制移动定位模块运动模式的移动定位控制器与移动定位模块通讯连接。本实用新型专利技术可以实现自动测试倒车雷达性能,提高测试效率及测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及自动测试装置,尤其是指一种倒车雷达自动测试装置。
技术介绍
倒车雷达广泛应用于车辆倒车辅助,在设计或开发倒车雷达时,需进行倒车雷达性能测试,以保证倒车雷达系统的准确性和可靠性。现有技术中,倒车雷达的性能测试方法一般采用人工检测方法,在倒车雷达探测区域范围内选取若干坐标点,手持障碍物依次立于所选取的坐标点,观察车载的倒车雷达是否能正确探测障碍物位置信息,从而实现倒车雷达性能测试,其缺陷在于:所述倒车雷达的性能测试方法测试不准确,测试效率低下,自动化程度低。有鉴于此,本技术提出一种克服所述缺陷的倒车雷达自动测试装置,本案由此产生。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种倒车雷达自动测试装置,以实现自动测试倒车雷达性能,提高测试效率及测试的准确性。为达成上述目的,本技术的解决方案为:一种倒车雷达自动测试装置,包括测试架、三轴移动模块、三轴移动控制器、移动定位模块、移动定位控制器及测试画布;承载测试障碍物的三轴移动模块安装在测试架上,三轴移动模块沿测试架X轴、Y轴及Z轴方向移动,驱使测试障碍物位于测试画布的不同坐标位置,用于控制三轴移动模块移动模式的三轴移动控制器与三轴移动模块通讯连接;承载倒车雷达的移动定位模块安装在测试机架上,控制倒车雷达位置坐标,用于控制移动定位模块运动模式的移动定位控制器与移动定位模块通讯连接。进一步,测试画布置于测试架底部,三轴移动模块驱使测试障碍物于测试画布上方沿测试架X轴、Y轴及Z轴方向移动。采用上述方案后,本技术通过三轴移动控制器控制三轴移动模块沿测试架X轴、Y轴及Z轴方向移动,驱使测试障碍物位于测试画布的不同坐标位置,同时,通过移动定位控制器控制移动定位模块改变倒车雷达的坐标位置和扫描角度,进而实现自动化测试倒车雷达性能,提高测试效率及测试的准确性。附图说明图1是本技术的立体组合图;图2是本技术的主视图;图3是本技术的俯视图;图4是本技术移动定位模块的主视图;图5是本技术移动定位模块的俯视图。标号说明测试架1三轴移动模块2测试障碍物21三轴移动控制器3移动定位模块4移动定位控制器5测试画布6。具体实施方式以下结合附图及具体实施例对本技术做详细描述。参阅图1至图5所示,本技术揭示的一种倒车雷达自动测试装置,包括测试架1、三轴移动模块2、三轴移动控制器3、移动定位模块4、移动定位控制器5及测试画布6。三轴移动模块2安装在测试架1上,三轴移动模块2承载测试障碍物21。三轴移动模块2沿测试架1X轴、Y轴及Z轴方向移动,将测试架1长度方向定义为X轴方向,将测试架1宽度方向定义为Y轴方向,将测试架1高度方向定义为Z轴方向,驱使测试障碍物21位于测试画布6的不同坐标位置,测试画布6上布满方格坐标。三轴移动控制器3与三轴移动模块2通讯连接,三轴移动控制器3用于控制三轴移动模块2移动模式,即控制三轴移动模块2分别沿测试架1X轴、Y轴及Z轴不同方向移动。三轴移动模块2为现有常规技术,其具体结构此处不赘述。移动定位模块4安装在测试机架1上,移动定位模块4承载倒车雷达(图中未示出),移动定位模块4控制倒车雷达位置坐标,控制倒车雷达的扫描角度,控制倒车雷达的高度及前后移动距离等。移动定位控制器5与移动定位模块4通讯连接,移动定位控制器5用于控制移动定位模块4的运动模式,如移动定位模块4的前后移动,上下移动,或者控制倒车雷达的倾斜度。移动定位模块4为现有常规技术手段,其具体结构此处不赘述。本实施例中,测试画布6置于测试架1底部,三轴移动模块2驱使测试障碍物21于测试画布6上方沿测试架X轴、Y轴及Z轴方向移动。本技术通过三轴移动控制器3控制三轴移动模块2沿测试架X轴、Y轴及Z轴方向移动,驱使测试障碍物21位于测试画布的不同坐标位置,同时,通过移动定位控制器5控制移动定位模块4改变倒车雷达的坐标位置和扫描角度,进而实现自动化测试倒车雷达性能,提高测试效率及测试的准确性。以上所述仅为本技术的优选实施例,并非对本案设计的限制,凡依本案的设计关键所做的等同变化,均落入本案的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种倒车雷达自动测试装置,其特征在于:包括测试架、三轴移动模块、三轴移动控制器、移动定位模块、移动定位控制器及测试画布;承载测试障碍物的三轴移动模块安装在测试架上,三轴移动模块沿测试架X轴、Y轴及Z轴方向移动,驱使测试障碍物位于测试画布的不同坐标位置,用于控制三轴移动模块移动模式的三轴移动控制器与三轴移动模块通讯连接;承载倒车雷达的移动定位模块安装在测试机架上,控制倒车雷达位置坐标,用于控制移动定位模块运动模式的移动定位控制器与移动定位模块通讯连接。

【技术特征摘要】
1.一种倒车雷达自动测试装置,其特征在于:包括测试架、三轴移动模块、三轴移动控制器、移动定位模块、移动定位控制器及测试画布;承载测试障碍物的三轴移动模块安装在测试架上,三轴移动模块沿测试架X轴、Y轴及Z轴方向移动,驱使测试障碍物位于测试画布的不同坐标位置,用于控制三轴移动模块移动模式的三轴移动控制器与三轴移...

【专利技术属性】
技术研发人员:孔祥光林辉勇陈海良吴金宗陈彬
申请(专利权)人:同致电子科技厦门有限公司
类型:新型
国别省市:福建;35

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