一种集成固相萃取柱的表面增强拉曼检测芯片制造技术

本发明专利技术公开了一种集成固相萃取柱的表面增强拉曼检测芯片，包括芯片本体，所述芯片本体包括下层基片、中层基片和上层基片，下层基片和上层基片之间设置为中层基片，上层基片包括进样口、出样口、微粒引入通道入口、填充柱床通道和坝结构，中层基片包括样品检测池、样品出口、筛板槽、微流通道和样品入口，下层基片包括第二硬质基板、第二粘结层、金属覆盖膜、金属柱、微流道、第一粘结层和第一硬质基板。本发明专利技术通过设置在测试芯片的检测区设置具有三维增益柱面的金属柱群，大大增加了检测区与待测分子的接触面积，大幅提升了增益系数和检测灵敏度，通过设置的微粒引入通道，可实现微粒的填充与更新，结构简单，使用方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测芯片
，具体为一种集成固相萃取柱的表面增强拉曼检测芯片。
技术介绍
固相萃取(SPE)技术广泛应用于分离/纯化，浓缩或富集痕量待测物、除去干扰物，提高待测物的浓度和检测灵敏度，是一种常用和重要的样品预处理方法。利用芯片微加工技术所形成的微流通道结构在微流控平台上完成SPE操作具有许多常规SPE技术所不及的优点，比如萃取速度快，样品/试剂消耗低，可于其他操作单元集成等。表面增强拉曼技术(SurfaceEnhancedRamanScattering，SERS)是指借助粗糙金属表面或金属纳米结构增强吸附分子的拉曼信号的技术，它可以使拉曼信号增强1010～1011倍，这意味着它能检测单个分子，由于其具有超高的灵敏度，ERS技术已被广泛应用于化学、生物学、医学等领域。现有的检测芯片存在着由于测试芯片的检测区设置的为纳米柱群，造成检测芯片的增益系数和检测灵敏度较差；检测芯片的微粒填充与更新不便；检测芯片不能较好的将固相萃取技术和表面增强拉曼技术相结合，使得检测芯片的检测灵敏度和速度仍需提高等问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种集成固相萃取柱的表面增强拉曼检测芯本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成固相萃取柱的表面增强拉曼检测芯片，包括芯片本体（1），其特征在于：所述芯片本体（1）包括下层基片（2）、中层基片（3）和上层基片（4），下层基片（2）和上层基片（4）之间设置为中层基片（3），上层基片（4）包括进样口（5）、出样口（6）、微粒引入通道入口（7）、填充柱床通道（8）和坝结构（9），中层基片（3）包括样品检测池（31）、样品出口（32）、筛板槽（33）、微流通道（34）和样品入口（35），下层基片（2）包括第二硬质基板（21）、第二粘结层（22）、金属覆盖膜（23）、金属柱（24）、微流道（25）、第一粘结层（26）和第一硬质基板（27）。

【技术特征摘要】
1.一种集成固相萃取柱的表面增强拉曼检测芯片，包括芯片本体（1），其特征在于：所述芯片本体（1）包括下层基片（2）、中层基片（3）和上层基片（4），下层基片（2）和上层基片（4）之间设置为中层基片（3），上层基片（4）包括进样口（5）、出样口（6）、微粒引入通道入口（7）、填充柱床通道（8）和坝结构（9），中层基片（3）包括样品检测池（31）、样品出口（32）、筛板槽（33）、微流通道（34）和样品入口（35），下层基片（2）包括第二硬质基板（21）、第二粘结层（22）、金属覆盖膜（23）、金属柱（24）、微流道（25）、第一粘结层（26）和第一硬质基板（27）。2.根据权利要求1所述的一种集成固相萃取柱的表面增强拉曼检测芯片，其特征在于：所述上层基片（4）的两端分别设置为进样口（5）和出样口（6），上层基片（4）的底部设置设置有坝结构（9），坝结构（9）数量为2个，坝结构（9）之间设置有填充柱床通道（8），坝结构（9）的一侧设置有微粒引入通道入口（7）...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘金杰，吴敏芳，徐静，赵春城，胡勇，蒋韦艳，
申请(专利权)人：无锡艾科瑞思产品设计与研究有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32