一种分析天平制造技术
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种分析装置，具体的说是一种分析天平。
技术介绍
分析天平是一种用于物品称重的精密仪器，精确度至少达到0.001克。由于分析天平的精确度高，因而很容易受风，湿度等外界因素的影响，而分析天平封闭罩内的湿度与周围环境的空气湿度几乎一致，当湿度过高时，测量物品称重时不断吸收水分，产生称重误差，影响实验结果。目前天平在称量物品时，由于一些物品本身带静电，会对天平的称重传感器产生干扰，继而影响精准度。
技术实现思路
本技术的目的在于克服上述不足之处，从而提供一种钢体平整度检测装置。本技术是通过下述技术方案解决上述技术问题的：一种分析天平，包括：封闭罩1、底座2、支撑架3、天平本体4和托盘5，所述底座2的上方安装有封闭罩1，所述底座2的下方安装有支撑架3，所述天平本体4固定在封闭罩1内，所述天平本体4的两侧设有托盘5，所述托盘5上安装有称重传感器6，所述称重传感器6通过导线7与显示屏8连接，所述封闭罩1内部安装有湿度监测仪9。优选的，所述封闭罩1为由PCB板制成的透明封闭罩。优选的，所述封闭罩1上开设有侧门10。优选的，所述湿度监测仪9上还安装有声控报警器11。优选的，所述支撑架3上设有缓冲弹簧12。本技术的有益效果：本技术通过设置PCB板封闭罩，能够有效防止静电干扰，提高称重精准度。在原有的基础上增加了封闭罩和支撑架，而且封闭罩上侧开有侧门，称量物品时可以打开上侧侧门进行称量，减少了因为风力等外界因素的影响；支撑架上设有缓冲弹簧，可以减少支撑架所受的压力，无形中延长了天平的使用寿命。附图说明图1为本技术的结构示意图图中：1-封闭罩；2-底座；3-支撑架；4-...
【技术保护点】
一种分析天平，包括：封闭罩(1)、底座(2)、支撑架(3)、天平本体(4)和托盘(5)，所述底座(2)的上方安装有封闭罩(1)，所述底座(2)的下方安装有支撑架(3)，所述天平本体(4)固定在封闭罩(1)内，所述天平本体(4)的两侧设有托盘(5)，所述托盘(5)上安装有称重传感器(6)，所述称重传感器(6)通过导线(7)与显示屏(8)连接，所述封闭罩(1)内部安装有湿度监测仪(9)。
【技术特征摘要】
1.一种分析天平，包括：封闭罩(1)、底座(2)、支撑架(3)、天平本体(4)和托盘(5)，所述底座(2)的上方安装有封闭罩(1)，所述底座(2)的下方安装有支撑架(3)，所述天平本体(4)固定在封闭罩(1)内，所述天平本体(4)的两侧设有托盘(5)，所述托盘(5)上安装有称重传感器(6)，所述称重传感器(6)通过导线(7)与显示屏(8)连接，所述封闭罩(1)内部安装有湿度监测仪...
【专利技术属性】
技术研发人员：李健，邵芸，
申请(专利权)人：无锡广兴东茂科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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