【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于测量
,具体涉及一种低频低噪声测量放大器。
技术介绍
低频噪声是表征半导体器件质量和可靠性的一个重要敏感参数,然而,常温下电子器件低频噪声极其微弱,其噪声电压往往集中于nV级别,这给噪声的测量带来了很大的困难。GaAsFET(砷化镓场效应晶体管)具有超低噪声系数,被广泛用来设计前置低噪声放大器,但是GaAsFET适用于在高频、超高频以及微波无线电频放大器电路,无法满足对低频放大器的设计要求,因此迫切需要设计出能应用于低频超低噪声放大同时具有类似于GaAsFET超低噪声系数的放大器。
技术实现思路
技术问题:针对上述现有技术存在的问题,本专利技术提供一种低频低噪声测量放大器。技术方案:一种低频低噪声测量放大器,其特征在于:包括噪声匹配变压器、前置级放大电路、带通滤波器和后级放大电路四部分。所述前置级放大电路包括与信号源阻抗能匹配的变压器及低噪声前置放大器。所述带通滤波器由二阶巴特沃斯低通滤波器与四阶巴特沃斯高通滤波器组成。本专利技术具有以下有益效果:1、本专利技术噪声测量放大器的噪声系数和共模抑制比远大于市场上大部分低频低噪声放大器的数值,并且设计电路满足0.90Hz~80.20kHz范围内对低频噪声测量的要求。2、本专利技术选用了由分立器件SSM2220组成差放,消除电路共模信号,运用超低噪声运放ADA4898,组建二级放大电路。附图说明图1为本专利技术系统结构图。图2为本专利技术中前置放大器电路原理图。图3为本专利技术中后置放大器电路原理图。图4为本专利技术中带通滤波器电路原理图。具体实施方式下面结合附图及实施例进一步说明本专利技术的技 ...
【技术保护点】
低频低噪声测量放大器,其特征在于:包括噪声匹配变压器、前置级放大电路、带通滤波器和后级放大电路四部分。
【技术特征摘要】
1.低频低噪声测量放大器,其特征在于:包括噪声匹配变压器、前置级放大电路、带通滤波器和后级放大电路四部分。2.根据权利要求1所述低频低噪声测量放大器...
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