一种新型架构的光强度检测系统技术方案

一种新型架构的光强度检测系统，包括主机模块、光强采集模块、从机核心控制器和显示模块；系统主机应用C#编程语言实现程序对程控电源、PLC、光强板的控制和数据接收、处理，并进行光强标定和二次校准，实现数据在极坐标、直角坐标和数据列表中显示；本发明专利技术系统采用主从式光强度检测系统测试结果精确，可广泛应用于光源与照明的检测领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于检测
具体涉及一种新型架构的光强度检测系统。
技术介绍
LED作为21世纪绿色照明新光源，具有亮度高、寿命长、节能环保等优点；目前国内已形成7个国家半导体照明工程产业化基地，成为世界照明电器的生产大国和出口大国，如何对半导体照明产品进行检测成为检测实验室建设中的一个重要方面。光强是光源的一个基本属性，它考虑了人的视觉因素和光学特点，同时也是光源的属性；光源光强探测是光电企业重点研究的项目之一；在我国能源压力日趋严峻的形势下，加快新光源产业的发展，促进节能减排，保障新光源产品的质量，是可持续发展的必然选择。
技术实现思路
技术问题：针对上述现有技术存在的问题，本专利技术提供一种新型架构的光强度检测系统。技术方案：本专利技术涉及一种新型架构的光强度检测系统，包括主机模块、光强采集模块、从机核心控制器和显示模块；系统主机应用C#编程语言实现程序对程控电源、PLC、光强板的控制和数据接收、处理，并进行光强标定和二次校准，实现数据在极坐标、直角坐标和数据列表中显示。一种新型架构的光强度检测系统，其特征是：所述光强采集模块由信号调理电路、A/D转换器、MCU、复位电路和PSU电源模块组成。所述从机核心控制器采用以ARM CortexM3为内核的STM32F107芯片。本专利技术具有以下有益效果：1、本专利技术系统采用主从式光强度检测系统测试结果精确，可广泛应用于光源与照明的检测领域。2、本专利技术系统对接收到的数据做优化处理并转换为需要的格式，样品测试的曲线分别在极坐标、直角坐标和数据列表中显示，便于数据分析。附图说明图1为本专利技术系统整体结构框图。图2为本专利技术中光强采集电路框图。图3为本专利技术中数据处理流程图。具体实施方式下面结合附图及实施例进一步说明本专利技术的技术方案。如图1所示，一种新型架构的光强度检测系统，包括主机模块、光强采集模块、从机核心控制器和显示模块；系统主机应用C#编程语言实现程序对程控电源、PLC、光强板的控制和数据接收、处理，并进行光强标定和二次校准，实现数据在极坐标、直角坐标和数据列表中显示。如图2所示，所述光强采集模块由信号调理电路、A/D转换器、MCU、复位电路和PSU电源模块组成；模数转换电路采用AD7356芯片，由于模数转换的工作特性，会出现混叠现象，而AD7356芯片本身自带抗混叠滤波器，有利于电路的设计；此外，转换器芯片内置的输入钳位保护电路可以承受高达±16.5V的电压，是具有高输入阻抗和片内滤波功能的单电源，因此不需要外加双极性电源以及驱动运算放大器。如图3所示，光强板通电时，电路中有暗电流和噪声等干扰信号，如果测试的环境并不是全黑暗的条件，外界也会出现干扰信号，把干扰信号过滤，需要进行包括暗电流与噪声的背景检测；背景检测的条件与常规检测的条件应保持一致，但光源应处于关闭状态，将读取的背景信号保存至配置文件中；常规测试读取到的信号减去背景信号得到光源的光强信号，这时得到的光强信号只是相对值，与实际光强值存在一定函数关系，因此需要通过光强板测量标准灯的数据，再与标准灯的真实数据进行匹配，计算出光强标定系数，利用光强标定系数标定待测光源的光强值。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型架构的光强度检测系统，其特征在于：包括主机模块、光强采集模块、从机核心控制器和显示模块；系统主机应用C#编程语言实现程序对程控电源、PLC、光强板的控制和数据接收、处理，并进行光强标定和二次校准，实现数据在极坐标、直角坐标和数据列表中显示。

【技术特征摘要】
1.一种新型架构的光强度检测系统，其特征在于：包括主机模块、光强采集模块、从机核心控制器和显示模块；系统主机应用C#编程语言实现程序对程控电源、PLC、光强板的控制和数据接收、处理，并进行光强标定和二次校准，实现数据在极坐标、直角坐标和数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙祝兵，
申请(专利权)人：孙祝兵，
类型：发明
国别省市：安徽;34