一种电子设备及检测方法技术

技术编号:14131049 阅读:113 留言:0更新日期:2016-12-09 19:53
本发明专利技术公开了一种电子设备及检测方法,通过检测器确认电子设备是否处于预设状态,并在所述电子设备处于需要辐射检测系统中的处理器调成为所述处理状态的第一预设状态时,发出切换指令以控制所述处理器由所述非处理状态调整成为所述处理状态。由此可以实现可以按照用户的需求而自动调整辐射检测系统的工作状态,在有需要时再调整激活具有高功耗的辐射检测系统的主处理器,从而有效节省具有辐射检测系统的电子设备的功耗。具有节省电子设备的电力资源的技术效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
,特别是涉及一种电子设备及检测方法
技术介绍
目前,随着电子信息技术的发展,智能电子设备例如智能手机、平板电脑、笔记本电脑的普及范围正日趋广阔,并且智能电子设备的功能也日趋多样化。例如,为防止用户处于辐射强度较大的环境下,现有的智能手机或智能平板电脑中已新增集成了具有辐射检测功能的辐射检测系统,可以为用户提供实时的所在环境辐射强度检测数据。但是,如果智能电子设备中的辐射检测系统持续保持正常工作状态的话,则其整体功耗较大,这是由于一方面辐射信号采集和初始检测部分需要进行工作,另一方面辐射检测系统的微处理器需要基于采集到的辐射信号和初始检测数据进行大量的实时数据处理工作,由此造成整个辐射检测系统的功耗较大。可见,现有技术中存在着电子设备中的辐射检测系统功耗较大,如果长期保持辐射检测系统处于工作状态,而不能按照需求自动调整其工作状态时,则将极大浪费电子设备的电力资源的技术问题。
技术实现思路
本申请提供一种电子设备及检测方法,用以解决现有技术中存在着电子设备中的辐射检测系统功耗较大,如果长期保持辐射检测系统处于工作状态,而不能按照需求自动调整其工作状态时,则将极大浪费电子设备的电力资源的技术问题。本申请一方面提供了一种电子设备,包括:采集器,用以采集环境中的辐射信号;检测器,能用于检测所述电子设备是否处于预设状态,其中,如果所述电子设备处于第一预设状态,能发出第一切换指令;处理器,包括非处理状态和处理状态,能基于所述第一切换指令由所述非处理状态切换为所述处理状态,其中,所述处理器在处于所述处理状态时,能处理所述辐射信号;其中,在所述处理器处于所述处理状态时,所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。可选地,所述检测器包括辐射强度检测装置,用于确定所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态,且在所述电子设备处于所述第一预设状态,且所述处理器处于所述非处理状态时,发出所述第一切换指令。可选地,所述辐射强度检测装置,用于将表征所述辐射信号的辐射强度的参数信号与预设电路中的电路信号进行比较,在所述参数信号的强度大于等于所述电路信号的强度时,确定所述电子设备处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。可选地,所述检测器包括:运动检测装置,用于确定所述电子设备是否处于运动的第一预设状态,且在所述电子设备处于所述运动的第一预设状态时,发出所述第一切换指令。可选地,所述辐射强度检测装置包括检测状态和非检测状态;所述检测器还包括:运动检测装置,用以确定所述电子设备是否处于运动状态,并在所述电子设备处于所述运动状态,且所述辐射强度检测装置处于非检测状态时,发出第二切换指令以使所述辐射强度检测装置由所述非检测状态调整为所述检测状态。可选地,所述电子设备还包括:独立电源,用以为所述采集器、和检测器、和处理器提供工作电流,所述独立电源与为所述电子设备中的其它电子器件提供工作电流的电源不同;所述检测器,用以在所述电子设备未处于所述第一预设状态,且所述辐射强度检测装置处于非检测状态,所述处理器处于所述非处理状态时,发出待机指令以使所述独立电源为所述采集器、和检测器、和处理器提供的工作电流小于等于预设电流。可选地,所述检测器,用以在所述电子设备处于与所述第一预设状态不同的第二预设状态,且所述处理器处于所述处理状态时,发出第二切换指令,以使所述处理器由所述处理状态调整为所述非处理状态。可选地,所述电子设备包括:第一采集器,设置在所述电子设备中,且相对于所述电子设备的中心在第一方向上的位置,用以采集相对于所述电子设备在所述第一方向上的辐射信号;第二采集器,设置在所述电子设备中,且相对于所述电子设备的中心在与所述第一方向不同的第二方向上的位置,用以采集相对于所述电子设备在所述第二方向上的辐射信号;所述处理器,用以分析相对于所述电子设备的中心在所述第一方向和/或第二方向上的辐射信号,获得与所述第一方向对应的第一辐射信号的第一辐射强度参数值,和/或获得与所述第二方向对应的第二辐射信号的第二辐射强度参数值。可选地,所述电子设备还包括:固定单元,用于当所述电子设备处于固定状态时维持所述电子设备和使用者身体至少一部分的相对位置关系。另一方面,本申请实施例还提供了一种检测方法,应用于一电子设备,所述方法包括:采集环境中的辐射信号;通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态,其中,如果所述电子设备处于第一预设状态时发出第一切换指令;基于所述第一切换指令控制所述电子设备的处理器由非处理状态切换为处理状态;其中,所述处理器在处于所述处理状态时,能处理所述辐射信号,且在所述处理器处于所述处理状态时,所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。可选地,所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态,包括:通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态,其中,在所述电子设备处于所述第一预设状态,且所述处理器处于所述非处理状态时,发出所述第一切换指令。可选地,所述通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态,包括:通过所述辐射强度检测装置将表征所述辐射信号的辐射强度的参数信号与预设电路中的电路信号进行比较,在所述参数信号的强度大于等于所述电路信号的强度时,确定所述电子设备处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。可选地,所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态,包括:通过运动检测装置检测所述电子设备是否处于运动的第一预设状态,其中,在所述电子设备处于所述运动的第一预设状态时,发出所述第一切换指令。可选地,所述通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态,包括:通过运动检测装置确定所述电子设备是否处于运动状态,并在所述电子设备处于所述运动状态,且所述辐射强度检测装置处于非检测状态时,发出第二切换指令以使所述辐射强度检测装置由所述非检测状态调整为检测状态。可选地,所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态,包括:通过所述检测器在所述电子设备未处于所述第一预设状态,且所述辐射强度检测装置处于非检测状态,所述处理器处于所述非处理状态时,发出待机指令以使所述独立电源为所述采集器、和检测器、和处理器提供的工作电流小于等于预设电流;其中,所述独立电源用以为所述采集器、和检测器、和处理器提供工作电流,所述独立电源与为所述电子设备中的其它电子器件提供工作电流的电源不同。可选地,所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态,包括:通过检测器检测所述电子设备是否处于与所述第一预设状态不同的第二预设状态,其中,在所述处理器处于所述处理状态时,发出第二切换指令,以使所述处理器由所述处理状态调整为所述非处理状态。可选地,所述采集环境中的辐射信号,包括:通过第一采集器采集相对于所述电子设备在所述第一方向上的辐射信号,其中,所述第一采集器设置在所述电子设备中,且相对于所述电子设备的中心在第一方向上的位置;通过第二采集器采集相对于所述电子设备在所述第二方向上的辐射信号,其中,所述第二采本文档来自技高网...
一种电子设备及检测方法

【技术保护点】
一种电子设备,包括:采集器,用以采集环境中的辐射信号;检测器,能用于检测所述电子设备是否处于预设状态,其中,如果所述电子设备处于第一预设状态,能发出第一切换指令;处理器,包括非处理状态和处理状态,能基于所述第一切换指令由所述非处理状态切换为所述处理状态,其中,所述处理器在处于所述处理状态时,能处理所述辐射信号;其中,在所述处理器处于所述处理状态时,所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。

【技术特征摘要】
1.一种电子设备,包括:采集器,用以采集环境中的辐射信号;检测器,能用于检测所述电子设备是否处于预设状态,其中,如果所述电子设备处于第一预设状态,能发出第一切换指令;处理器,包括非处理状态和处理状态,能基于所述第一切换指令由所述非处理状态切换为所述处理状态,其中,所述处理器在处于所述处理状态时,能处理所述辐射信号;其中,在所述处理器处于所述处理状态时,所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。2.如权利要求1所述的电子设备,其特征在于,所述检测器包括辐射强度检测装置,用于确定所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态,且在所述电子设备处于所述第一预设状态,且所述处理器处于所述非处理状态时,发出所述第一切换指令。3.如权利要求2所述的电子设备,其特征在于,所述辐射强度检测装置,用于将表征所述辐射信号的辐射强度的参数信号与预设电路中的电路信号进行比较,在所述参数信号的强度大于等于所述电路信号的强度时,确定所述电子设备处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。4.如权利要求1所述的电子设备,其特征在于,所述检测器包括:运动检测装置,用于确定所述电子设备是否处于运动的第一预设状态,且在所述电子设备处于所述运动的第一预设状态时,发出所述第一切换指令。5.如权利要求2所述的电子设备,其特征在于,所述辐射强度检测装置包括检测状态和非检测状态;所述检测器还包括:运动检测装置,用以确定所述电子设备是否处于运动状态,并在所述电子设备处于所述运动状态,且所述辐射强度检测装置处于非检测状态时,发出第二切换指令以使所述辐射强度检测装置由所述非检测状态调整为所述检测状态。6.如权利要求5所述的电子设备,其特征在于,所述电子设备还包括:独立电源,用以为所述采集器、和检测器、和处理器提供工作电流,所述独立电源与为所述电子设备中的其它电子器件提供工作电流的电源不同;所述检测器,用以在所述电子设备未处于所述第一预设状态,且所述辐射强度检测装置处于非检测状态,所述处理器处于所述非处理状态时,发出待机指令以使所述独立电源为所述采集器、和检测器、和处理器提供的工作电流小于等于预设电流。7.如权利要求1-6任一权利要求所述的电子设备,其特征在于,所述检测器,用以在所述电子设备处于与所述第一预设状态不同的第二预设状态,且所述处理器处于所述处理状态时,发出第二切换指令,以使所述处理器由所述处理状态调整为所述非处理状态。8.如权利要求7所述的电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:第一采集器,设置在所述电子设备中,且相对于所述电子设备的中心在第一方向上的位置,用以采集相对于所述电子设备在所述第一方向上的辐射信号;第二采集器,设置在所述电子设备中,且相对于所述电子设备的中心在与所述第一方向不同的第二方向上的位置,用以采集相对于所述电子设备在所述第二方向上的辐射信号;所述处理器,用以分析相对于所述电子设备的中心在所述第一方向和/或第二方向上的辐射信号,获得与所述第一方向对应的第一辐射信号的第一辐射强度参数值,和/或获得与所述第二方向对应的第二辐射信号的第二辐射强度参数值。9.如权利要求8所述的电子设备,其特征在于,所述电子设备还包括:固定单元,用于当所述电子设备处于固定状态时维持所述电子设备和使用者身体至少一部分的相对位置关系。10.一种检测方法,应用于一电子设备,所述方法包括:采集环境中的辐射信号;通过检测器检测所述电...

【专利技术属性】
技术研发人员:闫文林
申请(专利权)人:联想北京有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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