一种坏点检测方法、电子设备及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种坏点检测的方法、电子设备及装置，该方法包括：获取第一待检测像素点的像素值，以及与第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值，确定第一待检测像素点的像素值与第一像素值以及第二像素值之间的差分值，基于该差分值与第一预设阈值范围的关系，确定第一待检测像素点是否为坏点。简单来讲，在本发明专利技术实施例中，通过第一待检测像素点的像素值与其他两个像素点的像素值的关系来确定出该第一待检测像素点是否与其他两个像素点一致，从而通过较为简单的算法来较为准确的测算出相邻像素点之间的像素值是否一致，进而最终确定出第一待检测像素点是否为坏点。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电子
，尤其涉及一种坏点检测方法、电子设备及装置。
技术介绍
随着电子技术发展，各种便携式电子设备也越来越多，比如手机、平板电脑等便携式电子设备。这些电子设备一般都具备显示屏，而显示屏在被使用时，都会进行坏点检测，这里的坏点是指由于工艺或设计原因出现坏的电路，导致坏的像素点出现，或者是由于温度或者老化等原因出现位置和强度不固定的坏点。但是，当前对于显示屏的坏点检测方法的准确性较低。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种坏点检测方法、电子设备及装置，用以解决现有技术中对于显示屏的坏点检测方法的准确性较低的问题。其具体的技术方案如下：一种坏点检测方法，应用于一电子设备，所述方法包括：获取第一待检测像素点的像素值，以及与所述第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值；确定所述像素值与所述第一像素值以及所述第二像素值之间的差分值；基于所述差分值与第一预设阈值范围的关系，确定所述第一待检测像素点是否为坏点。可选的，分别获取第一待检测像素点的像素值，以及与所述第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值，包括：确定以所述第一待检测像素点为中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种坏点检测方法，其特征在于，应用于一电子设备，所述方法包括：获取第一待检测像素点的像素值，以及与所述第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值；确定所述像素值与所述第一像素值以及所述第二像素值之间的差分值；基于所述差分值与第一预设阈值范围的关系，确定所述第一待检测像素点是否为坏点。

【技术特征摘要】
1.一种坏点检测方法，其特征在于，应用于一电子设备，所述方法包括：获取第一待检测像素点的像素值，以及与所述第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值；确定所述像素值与所述第一像素值以及所述第二像素值之间的差分值；基于所述差分值与第一预设阈值范围的关系，确定所述第一待检测像素点是否为坏点。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，分别获取第一待检测像素点的像素值，以及与所述第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值，包括：确定以所述第一待检测像素点为中心像素点的第一像素点矩阵；在所述第一像素点矩阵中，确定出所述第一待检测像素点对应的第一参考像素点以及第二参考像素点，并获取所述第一参考像素点的第一像素值以及第二参考像素点的第二像素值。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述像素值与所述第一像素值以及所述第二像素值之间的差分值，包括：获取所述像素值与第一像素值的差值的第一绝对值以及所述像素值与所述第二像素值的差值的第二绝对值；将所述第一绝对值与所述第二绝对值之和作为所述差分值。4.如权利要求1-3中任一权项所述的方法，其特征在于，在确定所述第一待检测像素点为非坏点时，所述方法还包括：分别获取所述第一待检测像素点对应的八个像素点的像素值；获取所述像素值分别与八个像素点的像素值中每个像素值的差值的绝对值的和；判定所述绝对值的和是否处于第二预设阈值范围内；若所述绝对值的和未处于所述第二预设阈值范围内时，则确定所述第一待
\t检测点为坏点。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，分别获取所述第一待检测像素点对应的八个像素点的像素值，包括：确定出以所述第一待检测像素点作为中心像素点的第二像素点矩阵；在所述第二像素点矩阵中选取出与所述第一待检测像素点具有相同颜色通道的八个像素点；分别确定八个像素点中每个像素点的像素值。6.一种电子设备，其特征在于，包括：检测器，用于获取第一检测像素点的像素值，以及与第...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔文海，李立华，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11