【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示面板的检测领域,具体地,涉及一种对显示面板进行自动检测的方法、一种执行所述方法的检测系统和一种对多个显示面板进行批量检测的批量检测方法。
技术介绍
随着显示面板的出货量逐年增加,产线模组质量检测环节的任务量也随之增加。目前,主要依靠人工检测显示面板是否存在不良。但是,检测结果受到工作人员的工作经验、工作态度、长时间工作后的视疲劳等因素的影响,并且,人眼有时难以分辨显示面板上的不良。因此,如何提高检测检测结果的准确性成为本领域亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种对显示面板进行自动检测的方法、一种执行所述检测方法的检测系统和一种对显示面板进行批量检测的方法。利用所述方法检测显示面板能够提高检测结果的准确性。为了实现上述目的,作为本专利技术的一个方面,提供一种对显示面板进行自动检测的方法,其中,所述方法包括:控制待检测的显示面板显示测试图像;从所述显示面板的外部采集所述显示面板所显示的图像;采集所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值;根据采集的所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值判断所述显示面板上是否存在不良。优选地,从所述显示面板的外部采集所述显示面板所显示的图
像的步骤包括:利用摄像头对显示测试图像的显示面板进行拍摄,以获得所述显示面板所显示的图像。优选地,根据采集的所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值判断所述显示面板上是否存在不良的步骤包括:计算采集的所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值与所述测试图像的各个相应的像素的灰阶值的差值;当采集的所述显示面板所显示的图像中存在不良像 ...
【技术保护点】
一种对显示面板进行自动检测的方法,其特征在于,所述方法包括:控制待检测的显示面板显示测试图像;从所述显示面板的外部采集所述显示面板所显示的图像;采集所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值;根据采集的所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值判断所述显示面板上是否存在不良。
【技术特征摘要】
1.一种对显示面板进行自动检测的方法,其特征在于,所述方法包括:控制待检测的显示面板显示测试图像;从所述显示面板的外部采集所述显示面板所显示的图像;采集所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值;根据采集的所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值判断所述显示面板上是否存在不良。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,从所述显示面板的外部采集所述显示面板所显示的图像的步骤包括:利用摄像头对显示测试图像的显示面板进行拍摄,以获得所述显示面板所显示的图像。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据采集的所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值判断所述显示面板上是否存在不良的步骤包括:计算采集的所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值与所述测试图像的各个相应的像素的灰阶值的差值;当采集的所述显示面板所显示的图像中存在不良像素时,则判定所述显示面板针对该幅测试图像在所述不良像素处存在不良,其中,所述不良像素为采集的所述显示面板所显示的图像中灰阶值与所述测试图像上相应的像素的灰阶值之间的差值不在预定范围内的像素。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试图像为纯色测试图像,根据采集的所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值判断所述显示面板上是否存在不良的步骤包括:计算所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值与所述显
\t示面板所显示的图像的其余所有像素的灰阶值之间的差值,当采集的所述显示面板所显示的图像中存在不良像素时,则判定所述显示面板针对该幅测试图像在所述不良像素处存在不良,其中,所述不良像素为采集的所述显示面板所显示的图像中灰阶值与其余所有像素中至少80%的像素的灰阶值之间的差值超出预定范围的像素。5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,在控制待检测的显示面板显示测试图像的步骤中,控制待检测的显示面板显示多幅互不相同的测试图像;根据采集的所述显示面板所显示的图像的各个像素的灰阶值判断所述显示面板上是否存在不良的步骤包括:当显示面板针对至少两幅所述测试图像判断的不良像素的位置相同时,则判定所述显示面板在所述不良像素处发生不良。6.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:当判定所述显示面板在所述不良像素处发生不良时,根据发生所述不良像素的灰阶值、所述不良像素的位置以及所述不良像素的数量判断所述显示面板的不良类型。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,根据所述不良像素的灰阶值、所述不良像素的位置以及所述不良像素的数量判断所述显示面板的不良类型包括:当所述不良像素包括采集的所述显示面板所显示的图像中的一个或几个灰阶值大于相应测试图像中的相应像素的灰阶值、且与相应测试图像中的相应像素的灰阶值之差不在所述预定范围内的像素时,则判定所述显示面板的不良为亮点;当所述不良像素包括采集的所述显示面板所显示的图像中的成列的或者成行的灰阶值大于相应的测试图像中的相应像素的灰阶值、且与相应测试图像中的相应像素的灰阶值之差不在所述预定范围内
\t的像素时,则判定所述显示面板的不良为亮线。8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:记录并存储所述显示面板的不良类型。9.根据权利要求1至4中任意一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:当所述显示面板存在不良时,对所述显示面板上的不良区域进行标记。10.一种多个显示面板的批量检测方法,其特征在于,所述批量检测方法包括利用权利要求1至9中任意一项所述的方法对多个所述显示面板进行检测。11.根据权利要求10所述的批量检测方法,其特征在于,所述批量检测方法还包括:根据所述显示面板的不良类型对所述显示面板进行分组,同一组中所包括的显示面板具有相同的不良类型。12.一种用于自动检测显示面板的检测系统,其特征在于,所述检测系统包括:点灯模块,所述点灯模块用于控制待检测的显示面板显示测试图像;图像采集模块,所述图像采集模块用于从所述显示面板的外部采集所述显示面板所显示的图像...
【专利技术属性】
技术研发人员:宫心峰,郭宝磊,次刚,吴昊,安娜,刘楠,王寰宇,马晓,刘旭忠,罗宗玮,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,北京京东方光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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