【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种孔深度检具，具体地说是一种能够测量两个具有不同深度偏差的孔深度的检具。
技术介绍
在机械加工领域，由于不同的功能要求，会对孔的深度有一定的控制。当孔深度的公差带很大时，常规的测量方式是用普通的卡尺或深度尺直接测量，但是当孔深度的公差带很小时，用常规测量方式已不能满足测量要求，会造成很大的误差。另外，在汽车零部件加工领域，在一个产品上经常会出现两个有相同的深度基本值A，相同的直径D，相同的下偏差值，但是公差带不同的被测孔，对于以上情况，至今尚没有一种能够分别对其深度进行测量的检具。
技术实现思路
本专利技术的目的是要提供一种孔深度检具，能够测量两个有相同的深度基本值A，相同的直径D，相同的下偏差值，但是公差带不同的被测孔的深度是否合格。为了实现上述目的，本专利技术的技术方案是：由测量套、定位螺钉、滑动柱所组成，测量套与滑动柱间隙配合，定位螺钉安装在测量套上的相应位置上，其顶端与滑动柱上的左开口槽配合。测量套由左顶面、右顶面、窗口底面、定位面所组成，左顶面、右顶面的内孔边缘呈尖角状；定位面与滑动柱呈垂直状；左顶面和右顶面形成高度差C，C为一个被测孔的深度公差值。滑动柱由下测量柱、上导柱、左开口槽、右开口槽、上顶面以及下底面所组成，下测量柱位于上导柱的下方，下测量柱的下端面和上导柱的上端面边缘都呈尖角状；在上导柱上开有右开口槽；右开口槽形成上顶面和下底面，其高度差为B，B为另一个被测孔的深度公差值。下测量柱的直径D为被测孔直径的下偏差。实际使用时，下测量柱插入到被测孔中，定位面与被测孔平面贴平；如果上导柱的上端面的边缘处于左顶面和右顶面的高度差之...
【技术保护点】
一种孔深度检具，由测量套（1）、定位螺钉（2）、滑动柱（3）所组成，其特征在于：测量套（1）与滑动柱（3）间隙配合，定位螺钉（2）安装在测量套（1）上的相应位置上，其顶端与滑动柱（3）上的左开口槽（321）配合。
【技术特征摘要】
1.一种孔深度检具，由测量套（1）、定位螺钉（2）、滑动柱（3）所组成，其特征在于：测量套（1）与滑动柱（3）间隙配合，定位螺钉（2）安装在测量套（1）上的相应位置上，其顶端与滑动柱（3）上的左开口槽（321）配合。2.根据权利要求1所述的一种孔深度检具，其特征在于：测量套（1）由左顶面（11）、右顶面（12）、窗口底面（13）、定位面（14）所组成，左顶面（11）、右顶面（12）的内孔边缘呈尖角状；定位面（14）与滑动柱（3）呈垂直状；左顶面（11）和右顶面（12...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛博文，郭建东，
申请(专利权)人：中信戴卡股份有限公司，
类型：发明
国别省市：河北;13
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