一种用于深井探测的X射线荧光测井探管制造技术

本发明专利技术提供了一种用于深井探测的X射线荧光测井探管，包括：设置于管体(1)内的激发源(4)、探测器、核脉冲信号处理电路、电源电路、通讯电路和冷却装置，所述的管体(1)上开设有探测窗口(2)；所述的冷却装置将探测器密封于管体(1)内，并通过电源电路驱动其冷却探测器。本发明专利技术的探管通过采用简单的电制冷结构，使其能够在高温、高压环境下实现X射线荧光测井，直接测量井壁元素含量，从而适合应用在野外的地质勘查中；且该探管所实现的仪器结构简单，通过将冷却装置集成于管体内部，降低了探管的空间，使其能够在小口径测井中使用，满足矿产勘查的需求。

【技术实现步骤摘要】
201610220817

【技术保护点】
一种用于深井探测的X射线荧光测井探管，其特征在于，包括：设置于管体(1)内的激发源(4)、探测器、核脉冲信号处理电路、电源电路、通讯电路和冷却装置，所述的管体(1)上开设有探测窗口(2)；所述的探测器用于采集由激发源(4)激发井壁后产生的X射线，并转化为核脉冲信号，所述的核脉冲信号处理电路将核脉冲信号进行脉冲幅度处理后，将生成的数字信号累计形成X射线荧光谱线，所述的通讯电路用于将X射线荧光谱线传输至地面，所述的电源电路用于为X射线荧光测井探管供电，所述的冷却装置将探测器密封于管体(1)内，并通过电源电路驱动其冷却探测器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王秀明，葛良全，徐德龙，张庆贤，陈德华，曾国强，丛健生，杨强，
申请(专利权)人：中国科学院声学研究所，成都理工大学，
类型：发明
国别省市：北京;11