一种X射线荧光探测装置制造方法及图纸

技术编号:14827665 阅读:77 留言:0更新日期:2017-03-16 14:28
本实用新型专利技术涉及一种X射线荧光探测装置,其特征在于,所述装置包括支架,设置在支架上的X射线发生系统、X射线接收系统和平移转动系统,以及信息分析与控制系统。其中,所述X射线接收系统与X射线发生系统相对设置,用于接收经X射线发生系统发出的X射线照射后待测样品产生的X荧光;所述平移转动系统,包括平移机构和转动机构,所述平移机构带动所述X射线接收系统和/或所述X射线发生系统在水平方向平移;所述转动机构带动X射线接收系统沿垂直于水平方向的轴转动。本实用新型专利技术提供的X射线荧光探测装置,可以满足各种形态样品的测试并极大地提高了测试结果的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及探测装置领域,具体而言,涉及一种X射线荧光探测装置
技术介绍
随着X射线荧光技术的不断完善,带动X射线荧光光谱仪设备的发展。作为一种快速、准确、经济、无损的物质元素组成分析方法,已被广泛应用于冶金、地质、建材、矿勘、石油、化工、电气、生物、医疗、刑侦、考古、奢侈品鉴定等诸多领域。样品探测装置是X射线荧光光谱仪中的重要部件。现有技术中的探测装置,其样品仓采用一体式固定平面结构测试面板和固定不可调的定位系统进行检测,对待测样品表观形貌要求较高,仅适用于平面形态的待测样品。而对于特殊非平面型的待测样品,测试时不平整的待检底面区域极易将水平面定位薄膜压变形,甚至将样品盘/板压离对中位置,而且难以检测到凹进去的区域,从而导致测试结果不准确。所以为满足各种形态样品的测试结果准确度要求,需要对现有的X射线荧光光谱仪的样品仓定位系统进行改进,提出功能结构更合理、使用更方便、检测结果更精确的样品仓X射线接收系统可调节装置,实现定位系统可调节功能,能够通过调节X射线接收系统的水平位移和旋转角度来提高样品待测面高度,并保证接收到的X射线强度最高,从而不仅能适用于平面型样品,也能适用于非平面型样品的检测,并通过信息分析系统和控制系统达到精准定位,保证检测结果的准确度。有鉴于此,特提出本技术。
技术实现思路
本技术的第一目的在于提供一种X射线荧光探测装置,所述的X射线荧光探测装置能能适用于平面型样品,也能适用于非平面型样品的检测并采用信息分析和控制系统和控制电机实现精准定位,保证了检测结果的高准确度。为了实现本技术的上述目的,特采用以下技术方案:本技术涉及一种X射线荧光探测装置,其特征在于,所述装置包括支架,设置在支架上的X射线发生系统、X射线接收系统和平移转动系统,以及信息分析与控制系统,其中,所述X射线接收系统与X射线发生系统相对设置,用于接收经X射线发生系统发出的X射线照射后待测样品产生的X荧光;所述平移转动系统,包括平移机构和转动机构,所述平移机构带动所述X射线接收系统和/或所述X射线发生系统在水平方向平移;所述转动机构带动X射线接收系统和/或X射线发生系统沿垂直于水平方向的轴转动。优选地,所述平移机构包括设置在所述支架上的一对滑轨、设置在所述滑轨上的第一组滑块和平移控制电机;所述X射线发生系统的两端分别固定在第一组滑块上,所述平移控制电机控制第一组滑块进而带动所述X射线发生系统沿所述滑轨平移。优选地,所述X射线发生系统的一端设有第一转动控制电机。优选地,所述转动机构包括X射线接收系统的旋转机构,所述X射线接收系统的旋转机构包括设置在支架上的横轴和第二转动控制电机,所述第二转动控制电机固定在所述横轴的一端以控制横轴转动,所述X射线接收系统设置在横轴上。优选地,所述X射线接收系统的转动机构包括横轴和第二转动控制电机,所述第二转动控制电机固定在所述横轴的一端以控制横轴转动,所述X射线接收系统设置在横轴上,所述滑轨上设置有第二组滑块,所述横轴的两端设置在所述第二组滑块上。优选地,所述X射线发生系统包括X射线发射源、设置在所述X射线发射源上方的准直器和准直器控制电机,所述准直器控制电机用于控制所述准直器移动至所述X射线发射源的正上方。优选地,所述X射线发生系统还包括1-5个滤光片、滤光片调节器和光源控制电机,所述滤光片并列地设置在滤光片调节器上,所述光源控制电机用于控制所述滤光片调节器在所述X射线发射源的上方移动。优选地,所述滤光片调节器上设置有激光发射源(2),所述滤光片调节器可以带动所述激光发射源(2)移动至所述X射线发射源的正上方。优选地,所述X射线接收系统上设置有感光传感器、传感器控制电机和感光传感器移动导轨,所述传感器控制电机用于控制所述感光传感器沿所述感光传感器移动导轨水平移动至所述X射线接收系统的接收孔正上方位置。优选地,所述信息分析与控制系统与所述平移转动系统连接,并控制平移转动系统的运转。与现有技术相比,本技术的有益效果为:1)本技术提供的X射线荧光探测装置,通过平移转动系统带动X射线接收系统或X射线发生系统在水平方向平移,或沿垂直于水平方向的轴转动,避免了待测样品测试时不平整的待检底面区域极易将水平面定位薄膜压变形,甚至将样品盘压离对中位置,而且难以检测到凹进去的区域从而导致测试结果不准确的问题,可以满足各种形态样品的测试并极大地提高了测试结果的准确度;2)本技术采用激光发射源(2)、感光传感器、信息分析和控制系统和控制电机实现精准定位,保证了检测结果的高准确度;3)本技术功能结构更合理、使用更方便、检测结果更精确。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本技术的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术的结构示意图;图2是图1的局部放大图;图3是本技术的原理示意图。附图标记:1-X射线发生系统、2-激光发射源、3-光源控制电机、4-滑块、5-导轨、6-横轴、7-传感器控制电机、8-传感器移动导轨、9-X射线接收系统、10-感光传感器、11-支架、12-平移控制电机、13-旋转控制电机、14-滤光片调节器、15-X射线发射源、16-准直器、17-准直器控制电机、18-信息接收和控制系统、19-待测面。具体实施方式下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”、仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中,术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置。在本技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。本技术的一个方面涉及一种X射线荧光探测装置,所述装置包括支架(11),设置在支架(11)上的X射线发生系统(1)、X射线接收系统(9)和平移转动系统,以及信息分析与控制系统,其中,所述X射线接收系统(9)与X射线发生系统(1)相对设置,用于接收经X射线发生系统(1)发出的X射线照射后待测样品产生的X荧光;所述平移转动系统,包括平移机构和转动机构,所述平移机构带动所述X射线接收系统(9)和/或所本文档来自技高网...
一种X射线荧光探测装置

【技术保护点】
一种X射线荧光探测装置,其特征在于,所述装置包括支架,设置在支架上的X射线发生系统、X射线接收系统和平移转动系统,以及信息分析与控制系统,其中,所述X射线接收系统与X射线发生系统相对设置,用于接收经X射线发生系统发出的X射线照射后待测样品产生的X荧光;所述平移转动系统,包括平移机构和转动机构,所述平移机构带动所述X射线接收系统和/或所述X射线发生系统在水平方向平移;所述转动机构带动X射线接收系统沿垂直于水平方向的轴转动。

【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光探测装置,其特征在于,所述装置包括支架,设置在支架上的X射线发生系统、X射线接收系统和平移转动系统,以及信息分析与控制系统,其中,所述X射线接收系统与X射线发生系统相对设置,用于接收经X射线发生系统发出的X射线照射后待测样品产生的X荧光;所述平移转动系统,包括平移机构和转动机构,所述平移机构带动所述X射线接收系统和/或所述X射线发生系统在水平方向平移;所述转动机构带动X射线接收系统沿垂直于水平方向的轴转动。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述平移机构包括设置在所述支架上的一对滑轨、设置在所述滑轨上的第一组滑块和平移控制电机;所述X射线发生系统的两端分别固定在第一组滑块上,所述平移控制电机控制第一组滑块进而带动所述X射线发生系统沿所述滑轨平移。3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述X射线发生系统的一端设有第一转动控制电机。4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述转动机构包括X射线接收系统的旋转机构,所述X射线接收系统的旋转机构包括设置在支架上的横轴和第二转动控制电机,所述第二转动控制电机固定在所述横轴的一端以控制横轴转动,所述X射线接收系统设置在横轴上。5.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述X射线接收系统的转动机构包括横...

【专利技术属性】
技术研发人员:丁娇娇母海亮王雅西
申请(专利权)人:北京至一恒盛技术服务有限公司
类型:新型
国别省市:北京;11

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