【技术实现步骤摘要】
201610256731
【技术保护点】
一种X射线荧光光谱法快速测定食盐中微量元素的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)取食盐样品作粉碎处理，达到颗粒度为30‑50目；2)将粉碎后的食盐样品制成待测食盐样品；3)利用X荧光光谱法测量待测食盐样品的X荧光强度；4)通过下列公式1计算出待测食盐样品中选定元素的含量,公式1：其中，X为X射线荧光强度，Y为选定元素的质量百分比含量，K为固定参数。
【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光光谱法快速测定食盐中微量元素的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)取食盐样品作粉碎处理，达到颗粒度为30-50目；2)将粉碎后的食盐样品制成待测食盐样品；3)利用X荧光光谱法测量待测食盐样品的X荧光强度；4)通过下列公式1计算出待测食盐样品中选定元素的含量,公式1：其中，X为X射线荧光强度，Y为选定元素的质量百分比含量，K为固定参数。2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱法快速测定食盐中微量元素的方法，其特征在于，K数值的计算方法包括：a)提供一系列具有不同选定元素含量的标准食盐样品，经粉碎至粒径为30-50目，再压实，形成一系列标准样品；b)利用X荧光光谱法测量各标准食盐样品的X射线荧光强度，并分别根据各标准食盐样中选定元素的含量与所对应的X射线荧光强度制作标准曲线；c)通过下述线性回归方程，计算出固定参数K和b，K=Σi=1nX2Y2-nX2Y2‾&Sigma...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨振，杨剑，
申请(专利权)人：苏州三值精密仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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