用于操纵粒子的设备和方法技术

本公开涉及用于操纵粒子的设备和方法。具体地，一种粒子操纵设备，包括：衬底和微通道，所述微通道被包括在所述衬底中并且被配置来接收在其中包括粒子的流体。偏置结构被形成在所述衬底中、与所述微通道相邻但在微通道之外。偏置结构被配置来从所述微通道以外在一个频率处分配辐射以便偏置在所述微通道内的所述粒子的运动。

【技术实现步骤摘要】
201610080815

【技术保护点】
一种粒子操纵设备，包括：衬底；微通道，所述微通道被包括在所述衬底中并且被配置来接收在其中包括粒子的流体；和至少一个偏置结构，所述至少一个偏置结构在所述衬底上形成、与所述微通道相邻但在所述微通道之外，所述至少一个偏置结构被配置来从所述微通道以外以一个频率分配辐射以偏置在所述微通道内的所述粒子的运动。

【技术特征摘要】
2015.02.05 US 14/615,1691.一种粒子操纵设备，包括：衬底；微通道，所述微通道被包括在所述衬底中并且被配置来接收在其中包括粒子的流体；和至少一个偏置结构，所述至少一个偏置结构在所述衬底上形成、与所述微通道相邻但在所述微通道之外，所述至少一个偏置结构被配置来从所述微通道以外以一个频率分配辐射以偏置在所述微通道内的所述粒子的运动。2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述微通道包括被配置来分离被所述偏置结构偏置的粒子的多个路径。3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述微通道包括用于捕捉被所述偏置结构偏置的粒子的至少一个腔室。4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述微通道包括用于检测粒子的至少一个腔室，并且所述设备进一步包括图像传感器，所述图像传感器被配置来检测所述至少一个腔室中的所述粒子的特性。5.根据权利要求1所述的设备，其中，所述微通道被集成在所述衬底中。6.根据权利要求1所述的设备，其中，所述微通道被集成在可与所述衬底分离的可移除的区域中。7.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个偏置结构包括被配置来生成辐射以将介电电泳力施加至所述粒子的至少一个天线。8.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个偏置结构生成辐射以将介电电泳力施加至所述粒子以使得所述辐射包括太赫兹范围的电磁辐射、声波能量或磁场中的一个或多个。9.一种粒子操纵设备，包括：芯片，包括：衬底；微通道，所述微通道被包括在所述衬底中并且被配置来接收在其中包括粒子的流体；和至少一个偏置结构，所述至少一个偏置结构在所述衬底上形成、与所述微通道相邻但在所述微通道之外，所述至少一个偏置结构被配置来从所述微通道以外以一个频率分配辐射以偏置在所述微通道内的所述粒子的运动；和控制模块，包括：生成电路，被配置来生成用于激发所述偏置结构的信号。10.根据权利要求9所述的设备，其中，所述微通道包括以下中的一个或多个：被配置来分离被所述偏置结构偏置的粒子的多个路径；用于捕捉被所述偏置结构偏置的粒子的至少一个腔室；或者用于检测粒子的至少一个腔室。11.根据权利要求9所述的设备，其中，所述控制模块和所述芯片被集成在所述衬底上。12.根据权利要求9所述的设备...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·T·阿兹佩罗兹，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：美国;US