一种使用单一标准颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法技术

本发明专利技术提供了一种使用单一标准颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法，该方法包括以下步骤：放入已知直径大小的标准颗粒；激光颗粒计数器对接收到标准颗粒对应的电压信号进行测量；获取标准颗粒的电压信号的具体数值；获取被检测的颗粒的电压信号波形；将获取的标准颗粒产生的电压信号波形以及被检测的颗粒的电压信号波形，并通过电压信号波形之间的差异与颗粒直径的对应关系，获取被检测的颗粒的尺寸。本发明专利技术的有益效果是：提高了校准的准确度，排除了标准设备自身的误差以及颗粒在空间分布不均匀对校准结果造成的干扰；其次实现了纯自动化校准，提高校准结果的准确性和校准的效率。

【技术实现步骤摘要】
201610333762

【技术保护点】
一种使用单一标准颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法，其特征在于，包括以下步骤：放入已知直径大小的标准颗粒；激光颗粒计数器对接收到标准颗粒对应的电压信号进行测量；获取标准颗粒的电压信号的具体数值；获取被检测的颗粒的电压信号波形；将获取的标准颗粒产生的电压信号波形以及被检测的颗粒的电压信号波形，并通过电压信号波形之间的差异与颗粒直径的对应关系，获取被检测的颗粒的尺寸。

【技术特征摘要】
1.一种使用单一标准颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法，其特征在于，包括以下步骤：放入已知直径大小的标准颗粒；激光颗粒计数器对接收到标准颗粒对应的电压信号进行测量；获取标准颗粒的电压信号的具体数值；获取被检测的颗粒的电压信号波形；将获取的标准颗粒产生的电压信号波形以及被检测的颗粒的电压信号波形，并通过电压信号波形之间的差异与颗粒直径的对应关系，获取被检测的颗粒的尺寸。2.根据权利要求1所述的使用单一标准颗粒对激光颗粒计数器进行校准的方法，其特征在于，所述激光颗粒计数器对接收到标准颗粒对应的电压信号进行测量具体为：激光颗粒计数器中的激光接收器接收到的散射光强度与颗粒直径的平方成正比例关系，设为k1；激光接收器转换的电信号强...

【专利技术属性】
技术研发人员：胥海洲，孙波，黄晓兴，
申请(专利权)人：深圳市青核桃科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44