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一种调节和确定饱和温度的方法技术

技术编号:13507369 阅读:66 留言:0更新日期:2016-08-10 16:52
本发明专利技术涉及一种调节和确定饱和温度的方法,包括,提高饱和温度,氧化层上升距离等于氧化层循环位置上升距离;降低饱和温度,氧化层下降距离等于氧化层循环位置下降距离;饱和温度按氧化层循环周期循环变化。提高饱和温度,在氧化层上升过程。降低饱和温度,在氧化层循环的第二、三环节,氧化层下降过程。提高饱和温度,或开气封,减少外排蒸汽流量。降低饱和温度,或关气封,增加外排蒸汽流量。本发明专利技术优点,提高气化效率,降低劳动强度,炉篦寿命长。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种调节和确定饱和温度的方法,蒸汽压力适当,其特征在于,包括:饱和温度每提高1℃,氧化层上升10‑42mm,导致氧化层循环位置上升相等距离,饱和温度高,氧化层循环位置包括氧化层上升距离大,饱和温度低,氧化层循环位置包括氧化层上升距离小;饱和温度每降低1℃,氧化层下降10‑42mm,导致氧化层循环位置下降相等距离,饱和温度高,氧化层循环位置包括氧化层下降距离大,饱和温度低,氧化层循环位置包括氧化层下降距离小;氧化层循环位置内,氧化层上升,饱和温度自然升高0.8‑4℃,氧化层下降,饱和温度自然降低0.8‑4℃,按氧化层循环周期循环。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王万利
申请(专利权)人:王万利
类型:发明
国别省市:山东;37

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