一种锆石矿物颗粒透射样品的制备方法技术

本发明专利技术提供了一种锆石矿物颗粒透射样品的制备方法。该方法包括以下步骤：将锆石矿物颗粒逐粒置于载玻片上；将金属网放在聚四氟乙烯块上，再使环氧树脂固化剂均匀分布于金属网的网孔中；在光学显微镜的辅助下，将锆石矿物颗粒逐粒塞入位于金属网中心区域的网孔中；将金属网及聚四氟乙烯块整体进行加热固化后，取下金属网；在经预热后的玻璃片上均匀涂覆石蜡，再将金属网置于玻璃片上，且需使金属网与聚四氟乙烯块接触过的一面与玻璃片相接触；然后将玻璃片以石蜡粘至金属块后进行冷却固化；再对金属网的两面分别进行磨抛，再将玻璃片及金属网整体浸泡于丙酮中使得金属网与玻璃片分离；最后对金属网进行离子减薄处理，得到锆石矿物颗粒透射样品。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种锆石矿物颗粒透射样品的制备方法，属于矿物透射样品制备

技术介绍
目前，透射电镜(透射电子显微镜，TransmissionElectronMicroscope，简称透射或透射电镜)样品的制备方法主要有电解抛光法、超薄切片法、离子减薄法和FIB(FocusedIonBeam，聚焦离子束)法等，其中，电解抛光法主要是针对导电的材料样品，如由Cu、Al、Fe组成的金属合金材料，且该方法要求样品为尺寸(直径)不能小于3mm的小圆片；但是由于锆石矿物晶粒不导电，所以该方法不适用于锆石矿物颗粒透射样品的制备，同时其也不能进行微米级锆石矿物颗粒透射样品的制备；超薄切片法主要用于生物、化学等领域，因为超薄切片所能切割的样品不能太硬，且所用刀片为金刚石刀片，如果样品的硬度接近金刚石的硬度，则会严重损坏刀片；该方法对样品尺寸无特定要求，其可以制备较软材料的微米级颗粒样品；FIB法主要是针对特定位置特定样品，但是FIB法制备透射电镜样品所需费用高昂，且会植入Ga原子；本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种锆石矿物颗粒透射样品的制备方法，其中，该方法包括以下步骤：a、将锆石矿物颗粒逐粒置于载玻片上；b、将金属网放置在干净的聚四氟乙烯块上，再使环氧树脂固化剂均匀分布于金属网的网孔中；c、在光学显微镜的辅助下，将锆石矿物颗粒逐粒塞入位于金属网中心区域的网孔中；d、将金属网及聚四氟乙烯块整体进行加热固化，固化结束后，将金属网从聚四氟乙烯块上取下；e、在经预热后的玻璃片上均匀涂覆石蜡，再将步骤d中的金属网置于玻璃片上，且需要保证金属网与聚四氟乙烯块接触过的一面与玻璃片相接触；然后将所述玻璃片以石蜡粘至金属块后进行冷却固化；f、使用金刚石砂纸水磨锆石矿物颗粒，将高出金属网表面的锆石矿物颗粒样品磨平，以...

【技术特征摘要】
1.一种锆石矿物颗粒透射样品的制备方法，其中，该方法包括以下步骤：
a、将锆石矿物颗粒逐粒置于载玻片上；
b、将金属网放置在干净的聚四氟乙烯块上，再使环氧树脂固化剂均匀分布于金
属网的网孔中；
c、在光学显微镜的辅助下，将锆石矿物颗粒逐粒塞入位于金属网中心区域的网
孔中；
d、将金属网及聚四氟乙烯块整体进行加热固化，固化结束后，将金属网从聚四
氟乙烯块上取下；
e、在经预热后的玻璃片上均匀涂覆石蜡，再将步骤d中的金属网置于玻璃片上，
且需要保证金属网与聚四氟乙烯块接触过的一面与玻璃片相接触；然后将所述玻璃片
以石蜡粘至金属块后进行冷却固化；
f、使用金刚石砂纸水磨锆石矿物颗粒，将高出金属网表面的锆石矿物颗粒样品
磨平，以确保金属网露出新鲜面；
g、按照步骤e的操作，将步骤f中金属网经磨抛的一面以石蜡粘贴在玻璃片上，
再将玻璃片以石蜡粘贴至金属块后进行冷却固化；随后使用金刚石砂纸水磨锆石矿物
颗粒，将高出金属网表面的锆石矿物颗粒样品磨平，以确保金属网露出新鲜面；

【专利技术属性】
技术研发人员：于洪，李红艳，王栋，牛之建，侯国旺，张克，王天齐，
申请(专利权)人：中国地质科学院矿产资源研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11