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基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统技术方案

技术编号:13244838 阅读:88 留言:0更新日期:2016-05-15 05:06
本发明专利技术涉及一种基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统,包括样品台、激光器、聚焦透镜组、光纤、多通道光谱仪以及数据处理器;所示聚焦透镜组用于将所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光进行聚焦,并获取聚焦等离子体辐射光线,以使所述多通道光谱仪通过所述光纤获取所述待测样品的光谱数据,并使所述数据处理器根据所述光谱数据确定所述待测样品的重金属含量。本发明专利技术通过在等离子体辐射光收集光路上设置数值孔径大于光纤的聚焦透镜组,提高了辐射光收集效率,进而提高了系统检测的准确性、稳定性和实用性,使LIBS技术得到了进一步的发展和应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微量重金属检测领域,尤其涉及一种基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统
技术介绍
一般工业生产和生活中,重金属往往特指铜Cu、汞Hg、锡Sn、铅Pb、锌Zn、镉Cd等10余种金属。这些重金属随着工业生产的飞速发展,富集在我们生活的环境中,随食物、呼吸、直接接触等多种方式进入人体,产生多种毒副作用;或是在土壤、水体中迀移沉积,使当地环境中的重金属含量大大超越自然界的净化能力,危害动植物的生长,对生态环境造成极大的破坏,特别是对耕地的污染,更是直接威胁农业生产和粮食安全。因此,对人类生活环境中的重金属含量进行检测对保障农业生产和粮食安全均具有十分重要的意义。目前,我国现有的重金属含量检测方法主要包括石墨炉加热原子吸收光谱法(Graphite Furnace Atomic Absorpt1n Spectroscopy,GFAAS)、火焰加热原子吸收光谱法(Flame Atomic Absorpt1n Spectroscopy,FAAS)、原子焚光光谱法(Atomi cFluorescence Spectroscopy,AFS)等,还有近些年在微量物质检测中普遍使用的电感親合等离子体原子发光光谱法(I nduc t i ve I y Coupled PI a sma-At omi c Emiss1nSpectroscopy,ICP-AES)。尽管这些方法都有很高的检出率,但普遍需要复杂的样品预处理消解过程,检测周期长,而且检测设备昂贵、操作复杂,更不可能进行可移动实时测量。应用于微量重金属检测的激光诱导击穿光谱(Laser Induced BreakdownSpectroscopy,LIBS)技术是一项以原子发射光谱分析为核心的检测技术,依靠高能激光脉冲,完成对被测样品的原子化和原子激发,然后使用高分辨多通道光谱仪测量原子发射光谱,分析得到被测样品中目标元素的种类和含量。LIBS具有样品制备简便、测量过程迅速、低成本可移动等优势。而由于蔬菜中目标元素浓度常常比土壤中低2个数量级,检测难度大,现有技术中使用LIBS对蔬菜中的铜Cu、铅Pb、镉Cd、铬Cr等元素重金属进行测量还处在定性分析的初级阶段。此外,现有的应用LIBS技术进行土壤和蔬菜的重金属检测的方案中,每次检测所收集到的光谱都存在强度差异,特别当目标元素含量低时,特征谱线的信噪比极不理想,因而影响了微量重金属LIBS检测的准确性、稳定性和实用性,一定程度上限制了LIBS技术得到进一步的发展和应用。而辐射光收集效率是影响上述问题的重要因素之一。因此,现有的亟待解决的技术问题为:如何通过提高辐射光收集效率,进而提高微量重金属LIBS检测的准确性、稳定性和实用性,使LIBS技术得到进一步的发展和应用。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本专利技术提出了一种基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统,该系统包括:样品台,用于固定微量重金属的待测样品;激光器,用于根据所述待测样品的预设检测点的位置产生检测所述待测样品中所含微量重金属含量的激光;聚焦透镜组,用于将所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光进行聚焦,以获取聚焦等离子体辐射光线;光纤,用于将所述聚焦等离子体辐射光线进行耦合,以获取耦合等离子体辐射光线;多通道光谱仪用于根据所述耦合等离子体辐射光线获取所述待测样品的光谱数据;数据处理器,用于根据所述光谱数据确定所述待测样品的重金属含量。优选地,所述多通道光谱仪为双通道光谱仪;相应地,所述光纤包括第一纤芯和第二纤芯。优选地,所述聚焦透镜组包括:按照所述等离子体辐射光入射的次序设置的短焦透镜和长焦透镜。优选地,短焦透镜301的焦距为40mm,数值孔径为0.44,通光孔径为25.4mm;所述长焦透镜的焦距为75mm,数值孔径为0.24,通光孔径为25.4mm。优选地,所述样品台进一步用于固定所述待测样品,并根据所述待测样品的预设检测点的位置调节所述待测样品的空间位置,使待测样品的预设检测点的位置与激光的聚焦点位置重合。优选地,所述系统还包括:底座,用于承载并固定所述系统中的各个部件。优选地,所述样品台包括样品架、平移台及样品座;所述样品架固定于所述平移台上;所述样品架的、沿激光入射的侧面上开设有矩形的通孔,所述通孔内部用于容纳所述待测样品;所述样品架的、与所述多通道光谱仪相对的侧面上开设有透射孔,所述透射孔用于使所述等离子体辐射光透出;所述平移台固定于所述样品座上,所述平移台用于使所述样品架在第一预设平面内进行平移,所述第一预设平面为与所述通孔的矩形开口所在平面平行的平面;所述样品座通过连接部件固定于所述底座上;所述样品座用于通过所述平移台使所述样品架在第二预设平面内进行平移,所述第二预设平面为与所述底座所在平面平行的平面。优选地,所述样品台包括:垫片,用于将所述待测样品从所述通孔内部固定于所述样品架上。优选地,所述系统还包括:机箱,用于安装承载所述激光器、所述多通道光谱仪以及所述样品台,覆盖各部件以阻隔激光对外界操作人员的伤害。优选地,所述机箱分为固定机箱部分和移动机箱部分;所述固定机箱部分的内部用于安装所述激光器和所述多通道光谱仪,且所述固定机箱部分的箱体上设有所述光纤的出口 ;所述移动机箱部分用于覆盖所述样品台,且所述移动机箱部分的结构为可拆卸结构。本专利技术通过在等离子体辐射光收集光路上设置数值孔径大于光纤的聚焦透镜组,提高了辐射光收集效率,进而提高了系统检测的准确性、稳定性和实用性,使LIBS技术得到了进一步的发展和应用。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1示出了本专利技术一个实施例的基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统的结构框图;图2示出了本专利技术另一个实施例的光纤入射端面的放大结构的示意图;[0038I图3示出了本专利技术另一个实施例的双透镜结构原理示意图;图4示出了本专利技术另一个实施例的样品台的结构示意图;图5示出了本专利技术一个实施例的机箱的结构示意图。【具体实施方式】为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。图1示出了本专利技术一个实施例的基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统的结构框图;如图1所示,该系统包括激光器100、样品台200、聚焦透镜组300、光纤400、多通道光谱仪500以及数据处理器600;样品台200用于固定微量重金属的待测样品(图中未示出);激光器,用于根据所述待测样品的预设检测点的位置产生检测所述待测样品中所含微量重金属含量的激光;聚焦透镜组,用于将所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光进行聚焦,以获取聚焦等离子体辐射光线;光纤,用于将所述聚焦等离子体辐射光线进行耦合,以获取耦合等离子体辐射光线;多通道光谱本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统,其特征在于,包括:样品台,用于固定微量重金属的待测样品;激光器,用于根据所述待测样品的预设检测点的位置产生检测所述待测样品中所含微量重金属含量的激光;聚焦透镜组,用于将所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光进行聚焦,以获取聚焦等离子体辐射光线;光纤,用于将所述聚焦等离子体辐射光线进行耦合,以获取耦合等离子体辐射光线;多通道光谱仪用于根据所述耦合等离子体辐射光线获取所述待测样品的光谱数据;数据处理器,用于根据所述光谱数据确定所述待测样品的重金属含量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王锐马晓红宋阳赵华凤张敏廖延彪
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:北京;11

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