本发明专利技术提供一种包络(envelope)检测装置，用来检测一高速串行通信中一传输信号，包含：一运算电路，接收该传输信号，并根据该传输信号与至少一参考信号来产生一组运算输出；一参考信号产生电路，耦接该运算电路，用以提供该该参考信号给该运算电路，其中该参考信号产生电路可提供具有不同电平的该参考信号；以及一比较电路，耦接该运算电路，用以比较该组运算输出，产生一比较结果。其中，该包络检测装置根据基于不同电平的该参考信号所产生的该比较结果，检测出该高速串行通信的传输状态以及断线状态。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术关于信号通信，尤指一种藉由共用比较电路来检测信号通信的传输状态与断线状态的包络检测装置以及相关通信装置。
技术介绍
对在总线上进行数据传输的通信装置来说，正确地判断总线上的信号的传输状态或者是其他装置的连线状态是相当重要的。举例来说，通信装置会藉助一些包络检测电路(envelope detector)来检测总线上的信号电平，并且在信号电平低于一定程度时，视为总线上没有信号，此时，通信装置将进入特定的状态。在这种状态下，通信装置不理会在总线上接收到的信号。或者是，当信号电平高于一定程度时，判断此时远端的另一通信装置处于断线状态。以通用串行总线(Universal serial Bus, USB)上的USB装置为例，这些USB装置随着操作模式(主控模式或装置模式)的不同，可能需要检测静噪状态(squelch state)、Chirp J/K状态(用于在复位(RESET)期间准备切换到高速(high-speed)模式的协商握手(handshake)的状态)等与信号传输相关的传输状态，以及与装置连线相关的断线状态(disconnect state)。其中，USB装置的接收器中会设置多个包络检测装置(envelopedetector)，分别负责检测USB总线中的信号线D+与D-上的差动信号(亦即，两条信号线上的电位差)与多个参考信号的电平大小。例如，当检测到差动信号小于或等于10mV时，就会判定进入静噪状态；而当大于或等于150mV时，就不会判定进入静噪状态。类似地，当差动信号大于或等于300mV时，就会判定为Chirp J状态，而当小于或等于_300mV时，就会被判定为Chirp K状态。再者，当差动信号大于或等于625mV时，就会判定进入断线(disconnect)状态,而当差动信号小于或等于525mV时,则不会判定进入断线状态。由上可知，接收器必须设置多组包络检测装置，而每个包络检测装置又必须包含各自的比较电路与参考信号产生电路，才能基于不同的参考信号电平(如:100mV、150mV、±300mV、528mV以及625mV)，与信号线D+与D-上的差动信号差进行比较。然而，比较电路与参考信号产生电路的数量会直接地影响接收器的电路复杂度以及制造成本。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种共用比较电路的包络检测装置架构，使得单一包络检测装置可以检测出不同的传输状态与断线状态。再者，本专利技术另提供具备该种包络检测装置的通信装置。本专利技术的一实施例提供一种包络检测装置，用来检测一高速串行通信中一传输信号的包络。该包络检测装置包含:一运算电路、一参考信号产生电路以及一比较电路。该运算电路接收该传输信号，并根据该传输信号与至少一参考信号来产生一组运算输出。该参考信号产生电路耦接该运算电路，并且用以提供该参考信号给该运算电路，其中该参考信号产生电路可提供具有不同电平的该参考信号。该比较电路耦接该运算电路，并用以比较该组运算输出，产生一比较结果。其中，该包络检测装置根据基于不同电平的该参考信号所产生的该比较结果，检测出该高速串行通信的传输状态以及断线状态。本专利技术的另一实施例提供一种通信装置，该通信装置包含:一实体层电路以及一媒体存取控制层电路。其中该实体层电路包含一包络检测装置，而该包络检测装置又包含:一运算电路、一参考信号产生电路以及一比较电路。该运算电路接收该传输信号，并根据该传输信号与一参考信号来产生一组运算输出。该参考信号产生电路耦接该运算电路，并且用以至少提供该参考信号给该运算电路，其中该参考信号产生电路可提供具有不同电平的该参考信号。该比较电路耦接该运算电路，并用以比较该组运算输出，产生一比较结果。其中，该包络检测装置根据基于不同电平的该参考信号所产生的该比较结果，检测出该高速串行通信的传输状态以及断线状态。该媒体存取控制层电路耦接该实体层电路，并提供一选择信号至该包络检测装置，从而令该包络检测装置检测该高速串行通信的传输状态以及断线状态中的一者，该包络检测装置产生对应的一状态指示信号，该媒体存取控制层电路根据该状态指示信号进行对应的操作。由于本专利技术的包络检测装置可检测出信号通信的多种状态，因此可以有效地降低通信装置需要的包络检测装置的数量。【附图说明】图1为本专利技术包络检测装置的一实施例的功能方块示意图。图2为本专利技术包络检测装置中的运算电路的第一实施例的电路架构图。图3为本专利技术包络检测装置中的运算电路的第二实施例的电路架构图。图4为本专利技术包络检测装置中的参考信号产生电路的一实施例的电路架构图。图5为本专利技术包络检测装置中的运算电路的第三实施例的电路架构图。图6为本专利技术包络检测装置中的参考信号产生电路的另一实施例的电路架构图。图7为本专利技术通信装置的一实施例的功能方块示意图。符号说明100 包络检测装置110 运算电路120 参考信号产生电路130 比较电路140 逻辑电路R、Rx、Ry 电阻元件Q1、Q2、Q3、Q4 晶体管1、1，、124、IVAR 电流源126 电阻网路Δ VREF 电压源200 通信装置210 实体层电路220 媒体存取控制层电路【具体实施方式】请参考图1，该图为本专利技术包络检测装置的一实施例的功能方块示意图。如图所示，包络检测装置100用来检测一高速串行通信中的一传输信号。该传输信号为一差动信号，由一组互补信号DP与DM所组成。包络检测装置100包含有:运算电路110、参考信号产生电路120以及比较电路130。为了让包络检测装置100在仅具备一个比较电路的情况下，还能检测出高速串行通信(亦即USB通信)的不同状态，如:静噪(squelch)状态、Chirp J/K状态以及断线(disconnect)状态。因此本专利技术借助了运算电路110以及参考信号产生电路120，并根据传输信号DP与DM，以及对应不同状态的判断标准，产生不同的运算输出，供比较电路130进行比较，产生分别指出不同状态的比较结果。进一步来说，运算电路110会根据参考信号VREF1，或者是参考信号VREFl以及VREF2，进行与传输信号DP与DM之间的运算，来产生一组包含信号Vl与信号V2的运算结果，供比较电路130进行比较。在本专利技术的实施例中，信号Vl与V2的差大致为:V1-V2 = K ;或者V1-V2 = K ；如此一来，仅管比较电路130比较出的是信号Vl与V2的大小，但在效果上等同于比较出(DP-DM)与(VREF2-VREF1)的大小，或者是(DP-DM)与VREFl的大小。因此，当包络检测检装置100打算检测静噪状态时，那么只需要使参考信号产生电路120输出的参考信号VREFl与VREF2满足VREF2-VREF1等于125mV的关系，或者是参考信号VREFl等于125mV。根据上述，差动信号大于150mV必不可为静噪状态,小于10mV则必为静噪状态，因此此处取平均值。但应注意的是，此非本专利技术的限制。事实上，也可让参考信号产生电路120产生分别对应于10mV与150mV的两组输出，令比较电路130分别进行二次比较。接着，根据比较电路130的比较结果V_comp就可判断出是否USB通信为静噪状态，其中，当比较结果V_comp指出Vl小于V2时，代表静噪状态。同样的，根据Chirp J/K状态的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种包络检测装置，用以检测一高速串行通信中一传输信号，包含：一运算电路，接收该传输信号，并根据该传输信号与至少一参考信号来产生一组运算输出；一参考信号产生电路，耦接该运算电路，用以提供该参考信号给该运算电路，其中该参考信号产生电路可提供具有不同电平的该参考信号；以及一比较电路，耦接该运算电路，用以比较该组运算输出，产生一比较结果；其中，该包络检测装置根据基于不同电平的该参考信号所产生的该比较结果，检测出该高速串行通信的传输状态以及断线状态。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林国凯，高维均，郑景中，
申请(专利权)人：扬智科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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