用于量测机台的派货的方法和系统技术方案

本发明专利技术提供一种用于量测机台的派货的方法和系统。所述方法包括：接收来自多个上游机台的待测批次的参数信息；基于所述参数信息对所述待测批次进行均衡排序，以使得所述多个上游机台均衡地获得反馈；以及输出所述均衡排序的排序结果，用于由所述量测机台按照所述排序结果对所述待测批次进行量测。上述方法和系统使上游的各个机台能够均衡地及时地获得反馈，从而大大提高了生产效率，降低了质量风险。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体
，具体而言涉及一种用于量测机台的派货(dispatch)的方法和系统。
技术介绍
在半导体制造当中，除了有制程机台负责生产晶圆以外，还需要量测机台负责检测晶圆通过制程机台后的产品质量。可以说在产品质量检测方面，量测机台发挥了至关重要的作用。在实际生产中，量测机台通常具备检测多种制程的能力，也就是说，不同制程机台的下一道量测工序，对应的可能是同一部量测机台。在大量新产品下线或者工厂的产能吃紧的时候，在严把质量关的同时，量测机台往往会成为产能瓶颈，这就对量测机台的派货优化提出了更高的要求。当前的量测机台的派货方法凭借制造助理(MA)的经验选取批次(Lot, 一个Lot表示一个基本批量的晶圆组)，可能使一些制程机台下来的货被量测的次数较少而无法及时获得反馈，影响这些制程机台的载荷(loading)，从而影响整体的生产效率。
技术实现思路
针对现有技术的不足，一方面，本专利技术提供一种用于量测机台的派货的方法。所述方法包括:接收来自多个上游机台的待测批次的参数信息；基于所述参数信息对所述待测批次进行均衡排序，以使得所述多个上游机台均衡地获得反馈；以及输出所述均衡排序的排序结果，用于由所述量测机台按照所述排序结果对所述待测批次进行量测。在本专利技术的一个实施例中，所述均衡排序进一步包括:将所述待测批次进行排列组合，形成多个候选序列；分别计算所述多个候选序列中的每一个的量测反馈差值，其中所述量测反馈差值定义为所述多个上游机台中的每一个的待测批次的量测周期的偏移度之和；以及将所述量测反馈差值最小的候选序列确定为所述均衡排序的排序结果。在本专利技术的一个实施例中，所述量测周期的偏移度为在每个候选序列中来自同一个上游机台的待测批次的量测间隙数的方差。在本专利技术的一个实施例中，在将所述待测批次进行排列组合之前还包括:基于预定参数对来自同一个上游机台的待测批次进行第一排序；并且所述将所述待测批次进行排列组合是在保持所述第一排序的情况下进行的。在本专利技术的一个实施例中，所述预定参数包括来自同一个上游机台的待测批次的出帐(trackout)时间。在本专利技术的一个实施例中，所述接收来自多个上游机台的待测批次的参数信息进一步包括:接收所述多个上游机台的机台标识；以及基于所述机台标识从派货数据库中采集来自所述多个上游机台的待测批次的参数信息。另一方面，本专利技术还提供一种用于量测机台的派货的系统。所述系统包括:输入模块，用于接收来自多个上游机台的待测批次的参数信息；均衡排序模块，用于基于所述参数信息对所述待测批次进行均衡排序，以使得所述多个上游机台均衡地获得反馈；以及输出模块，用于输出所述均衡排序的排序结果，用于由所述量测机台按照所述排序结果对所述待测批次进行量测。在本专利技术的一个实施例中，所述均衡排序模块进一步包括:排列组合模块，用于将所述待测批次进行排列组合，形成多个候选序列；计算模块，用于分别计算所述多个候选序列中的每一个的量测反馈差值，其中所述量测反馈差值定义为所述多个上游机台中的每一个的待测批次的量测周期的偏移度之和；以及确定模块，用于将所述量测反馈差值最小的候选序列确定为所述均衡排序的排序结果。在本专利技术的一个实施例中，所述量测周期的偏移度为在每个候选序列中来自同一个上游机台的待测批次的量测间隙数的方差。在本专利技术的一个实施例中，所述系统还包括:第一排序模块，用于基于预定参数对来自同一个上游机台的待测批次进行第一排序；并且所述排列组合模块将所述待测批次进行排列组合是在保持所述第一排序的情况下进行的。在本专利技术的一个实施例中，所述预定参数包括来自同一个上游机台的待测批次的出帐时间。在本专利技术的一个实施例中，所述输入模块进一步包括:接收模块，用于接收所述多个上游机台的机台标识；以及采集模块，用于基于所述机台标识从派货数据库中采集来自所述多个上游机台的待测批次的参数信息。上述用于量测机台的派货的方法和系统使上游的各个机台能够均衡地及时地获得反馈，从而大大提高了生产效率，降低了质量风险。【附图说明】本专利技术的下列附图在此作为本专利技术的一部分用于理解本专利技术。附图中示出了本专利技术的实施例及其描述，用来解释本专利技术的原理。附图中:图1为根据本专利技术的实施例的用于量测机台的派货的方法的流程图；以及图2为根据本专利技术的实施例的候选序列的示意图；图3为图2的第一候选序列中来自上游机台B的Lot的量测间隙数的示意图；图4为根据本专利技术的实施例的均衡排序的排序结果及其相关信息的示意图；以及图5为根据本专利技术的实施例的用于量测机台的派货的系统的结构框图。【具体实施方式】在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本专利技术更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本专利技术可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本专利技术发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。应当理解的是，本专利技术能够以不同形式实施，而不应当解释为局限于这里提出的实施例。相反地，提供这些实施例将使公开彻底和完全，并且将本专利技术的范围完全地传递给本领域技术人员。在此使用的术语的目的仅在于描述具体实施例并且不作为本专利技术的限制。在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也意图包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应明白术语“组成”和/或“包括”，当在该说明书中使用时，确定所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但不排除一个或更多其它的特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或组的存在或添加。在此使用时，术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。为了彻底理解本专利技术，将在下列的描述中提出详细的步骤以及详细的结构，以便阐释本专利技术提出的技术方案。本专利技术的较佳实施例详细描述如下，然而除了这些详细描述外，本专利技术还可以具有其他实施方式。根据本专利技术的一方面，提供了一种用于量测机台的派货的方法。所述方法包括:接收来自多个上游机台的待测批次的参数信息；基于参数信息对待测批次进行均衡排序，以使得多个上游机台均衡地获得反馈；以及输出均衡排序的排序结果，用于由量测机台按照排序结果对待测批次进行量测。在半导体制造当中，不同制程机台的下一道量测工序可能需要同一个量测机台来进行。例如，在制程机台里有多个主机台(这些主机台相对于量测机台可以称为上游机台)，从这些上游机台加工出来的Lot都需要去量测机台进行参数测量，然后测量结果将被反馈给相应的上游机台，上游机台再根据这些反馈参数对后继的Lot进行处理或者通知工程师作出相应的修正。这就会在上游机台和量测机台之间形成一种反馈关系，这种反馈关系表现为量测机台量测Lot的顺序会影响上游机台的Loading。因此，量测机台对来自多个上游机台的Lot的量测顺序非常重要。本专利技术的上述实施例提供一种用于量测机台的派货的方法，该方法对来自多个上游机台的待测批次进行均衡排序，可以使得多个上游机台均衡地获得反馈，从而使得每个上游机台都能及时获得反馈，进而提高整体的生产效率，降低质量风险。图1示出了根据本专利技术的实施例的用于量测机台的派货的方法100的流程图。如图1所示，用于量测机台的派货的方法100可以包括以下步骤:步骤101:接收来自多个上游机台的待测批次的参数信息；如上所述，不同制程机台的下一道量测工序可能需要同一个量测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于量测机台的派货的方法，包括：接收来自多个上游机台的待测批次的参数信息；基于所述参数信息对所述待测批次进行均衡排序，以使得所述多个上游机台均衡地获得反馈；以及输出所述均衡排序的排序结果，用于由所述量测机台按照所述排序结果对所述待测批次进行量测。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵晨，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31