基于低相干光纤微分干涉非接触测振的光声光谱测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及白光干涉测量和气体光声光谱测量技术领域，具体为一种基于低相干光纤微分干涉非接触测振的光声光谱测量装置及方法，该装置包括：ASE光源、第一环形器、第二环形器、第一耦合器、第二耦合器、第三耦合器、延迟光纤、第一光纤接头、第二光纤接头、陶瓷套管、高灵敏度压力敏感膜片、具有PZT调制器的光纤光栅、第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、数据采集单元和计算机，本发明专利技术采用低相干光源，探测光光路为马赫曾德和赛格纳克混合干涉仪结构，利用三个探测器对返回光进行三路探测解调，具有对低频扰动不敏感，测量动态范围大，可实现光纤白光干涉的远距离非接触绝对幅值测量，光压振动干扰小、不易受电磁干扰等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及白光干涉测量
和气体光声光谱测量
，具体为一种基 于低相干光纤微分干涉非接触测振的光声光谱测量装置及方法。
技术介绍
光声光谱气体检测技术起源于1880年，早期受限于低功率光源及低灵敏度声波 探测工具，技术发展受到限制，20世界60年代开始，得益于激光器的问世和高灵敏度探测 工具的发展，光声光谱技术进入到了一个快速发展的阶段。激光本身的高功率、方向性单色 性好等优点有效地增强了光声光谱信号的强度，提高了探测灵敏度；高灵敏度的麦克风、压 电陶瓷、石英音叉等声学传感器的出现不仅增加了光声光谱技术的多样性，而且使该技术 的性能获得了质的飞跃。 光声光谱系统具有结构简单、可靠性好、测量效率高等优点，其测量技术先进，代 表着未来气体安全检测发展趋势。虽然光声光谱技术研究和应用取得了很大的进步，但是 在光声信号获得和解调方面仍存在以下技术缺陷： 1.光强度调制带来光压振动干扰，影响信号解调结果； 2.大部分光声光谱技术传声系统米用电动式和电容式传声器，电学传声器容易受 到电磁干扰，噪声大，影响信号解调结果。 白光干涉原理早在1975年被提出，1983年，白本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于低相干光纤微分干涉非接触测振的光声光谱测量装置，其特征在于：包括ASE光源(1)、第一环形器(2)、第二环形器(3)、第一耦合器(4)、第二耦合器(5)、第三耦合器(6)、延迟光纤(7)、第一光纤接头(8)、第二光纤接头(9)、高灵敏度压力敏感膜片(10)、陶瓷套管、具有PZT调制器的光纤光栅(11)、第一光电探测器(12)、第二光电探测器(13)、第三光电探测器(14)、数据采集单元(15)和计算机(16)；所述第一耦合器(4)的端口A与ASE光源(1)相连、端口B和端口C分别与第一环形器(2)的端口A和第二环形器(3)的端口A相连；所述第二耦合器(5)的端口A和端口C分别通过第一光电探...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：甄胜来，王晓光，俞本立，徐峰，曹志刚，朱军，吕亮，高大明，丁波，
申请(专利权)人：安徽大学，
类型：发明
国别省市：安徽;34