【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术总体上涉及一种用于基于光栅的X射线微分相衬成像(DPCI)的校正方法以及能够有利地应用于X射线辐射照相术和层析成像的设备，用于对要扫描的样本对象或感兴趣解剖区域进行硬X射线DPCI。更确切地说，所提出的专利技术提供了一种适当方式，其有助于增强采集的X射线图像的图像质量，其受到相位缠绕的影响，例如，在Talbot-Lau型干涉仪的探测器平面中，在X射线束在相移分束光栅处发生衍射之后，所发射的所述X射线束的所得莫尔干涉图案中。这种问题被所获得的DPCI图像中的噪声进一步加重，如果所探测X射线图像中两个相邻像素之间的相位改变超过弧度，就会发生这种问题，这种问题受到对象局部相位梯度上线积分的影响，这种线积分诱发2 弧度的相位偏移误差，导致平行于所述线积分方向的显著线伪影。
技术介绍
X射线辐射照相术和层析成像是针对多种应用的重要方法，例如，体样本的非破坏性研究、工业产品的质量检查和患者身体内部感兴趣解剖结构和组织区域的非侵入性检查，这是因为硬X射线束的穿透深度非常高，能够记录衰减系数的锐利投影。X射线成像由此产生优异的结果，其中诸如骨骼的高吸收解剖结构嵌入到吸...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：K·J·恩格尔，D·格勒，G·福格特米尔，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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