键盘开关寿命测试机制造技术

本实用新型专利技术涉及一种键盘开关寿命测试机，其结构包括有：电机、偏心轮、分位机构、按压机构和计数器。本实用新型专利技术通过电机驱动偏心轮旋转，通过分位机构和按压机构将偏心轮因旋转产生的位移差转化为按压机构的向下按压，这种按压力度均匀一致，能够在100万次以上的按压后仍保持均匀的按压力，不会损坏键盘开关的按键，同时通过计数器来记录按压次数，以准确测量出键盘开关的真实寿命。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种键盘开关寿命测试机，其结构包括有：电机、偏心轮、分位机构、按压机构和计数器。本技术通过电机驱动偏心轮旋转，通过分位机构和按压机构将偏心轮因旋转产生的位移差转化为按压机构的向下按压，这种按压力度均匀一致，能够在100万次以上的按压后仍保持均匀的按压力，不会损坏键盘开关的按键，同时通过计数器来记录按压次数，以准确测量出键盘开关的真实寿命。【专利说明】键盘开关寿命测试机
本技术涉及一种键盘开关寿命测试设备，具体地说是一种键盘开关寿命测试机。
技术介绍
键盘开关在电子通讯领域应用非常广泛，大到电脑，小到手机，都离不开键盘开关。键盘开关在整机中的作用:通过指尖的触摸，触动键罩按下和弹起，使开关触点接通和断开，实现信号的通断，从而达到信号传输和控制的目的。键盘开关产品不仅大量应用于交通、通信、网络、IT、医疗、石油等民用领域，还广泛应用于航空、航天、国防等军用系统中。这就要求键盘开关产品要经久耐用，进而对键盘开关产品的机械寿命提出了高的要求。现在的键盘开关产品的寿命已经达到了数十万次，更高的甚至达到了上百万次。如何通过试验测试键盘开关的机械寿命就显得尤为重要。 在现有的按键寿命测试装置中，通常采用动力装置来驱动触头装置往复运动，模拟人手的按压。但这种按键寿命测试装置结构复杂，且通常能维持I万次以下的寿命测试，5万次测试已经达到极限，超过10万次测试寿命测试机就会出现疲劳现象，这种疲劳现象会使触头出力不均匀，从而导致键盘开关损坏，不能够准确地检测出键盘开关的真实寿命次数，进而影响键盘开关的技术指标。
技术实现思路
本技术的目的就是提供一种键盘开关寿命测试机，以解决现有寿命检测机检测不准确的问题。 本技术是这样实现的:一种键盘开关寿命测试机，其特征是，包括有: 电机，与偏心轮相连接，用于驱动所述偏心轮转动； 偏心轮，与所述电机和分位机构相连接，用于将旋转转化为固定频率的震动，并输送给所述分位机构； 分位机构，与所述偏心轮和按压机构相连接，用于将所述偏心轮产生的震动分位到待测键盘开关按键的位置上； 按压机构，设置在待测键盘开关的按键上方，用于对按键进行按压；以及 计数器，用于记录所述按压机构的按压待测键盘按键的次数。 还包括有控制台，用于放置待测键盘开关。 所述分位机构包括有: 与所述偏心轮连接的主连接线； 由所述主连接线穿过的主定滑轮； 与从所述主定滑轮穿出的所述主连接线相接的若干分位连接线；以及 由所述分位连接线穿过的若干分位定滑轮； 所述分位连接线与所述按压机构相连接。 所述按压机构包括有可调砝码和连接在所述可调砝码下端的触头。 所述电机为调速电机，所述连接线为尼龙绳，所述触头为接触端为球面状的尼龙触头。 本技术通过电机驱动偏心轮旋转，并由分位机构和按压机构将偏心轮因旋转产生的位移差转化为按压机构的向下按压，这种按压力度均匀一致，能够在100万次以上的按压后仍保持均匀的按压力，不会损坏键盘开关的按键，同时通过计数器来记录按压次数，以准确测量出键盘开关的真实寿命。本技术按压机构模拟手指按压键盘开关的按键，能够准确测量出键盘开关的真实寿命次数，进而测试出键盘开关真正的技术指标，提升了键盘开关的整体试验水平，为键盘开关技术水平的提升开拓了空间，更好地为信息工业的发展服务。本技术结构简单，操作方便，成本较低。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术的结构示意图。 图中:1、电机，2、偏心轮，3、主连接线，4、主定滑轮，5、分位定滑轮，6、计数器，7、分位连接线，8、可调砝码，9、触头，10、待测键盘开关，11、控制台。 【具体实施方式】 如图1所示，本技术包括有电机1、偏心轮2、计数器6、主连接线3、分位连接线7、主定滑轮4、分位定滑轮5、可调砝码8和触头9。 其中，电机I可采用性能较高的调速电机，与偏心轮2相连接，来驱动偏心轮2转动。偏心轮2的形状可根据需要设置为椭圆形，并可将偏心轮2的旋转轴心设置在椭圆的长半轴上，将长半轴的长度分割为长度较长的Cl1和长度较短的d2，这样偏心轮2转动时所产生的位移差为(I1-Cl2。 偏心轮2与分位机构相连接，用于将旋转转化为固定长度的位移差，并输送给所述分位机构。分位机构将偏心轮2产生的位移差分位到待测键盘开关10按键的位置上。具体地，分位机构包括有主连接线3、分位连接线7、主定滑轮4和分位定滑轮5。主连接线3一端与偏心轮2相连接，另一端穿过主定滑轮4与多个分位连接线7相连接。多个分位连接线7通过分位定滑轮5的分位后与按压机构相连接。分位定滑轮5的数目和位置根据待测键盘开关10上按键的数目和位置来确定。 按压机构是在可调砝码8下端连接触头9，设置在待测键盘开关10的按键上方，用于对按键进行按压。其中，触头9可采用接触端为球面状的尼龙触头，使触头9与按键更可靠地接触。主连接线3和分位连接线7可使用尼龙绳材质。 计数器6用来记录按压机构的按压次数。计数器6可根据需要与电机I或偏心轮2相连接，通过记录电机I和偏心轮2的旋转次数来判断按压机构的按压次数，还可将计数器6与待测键盘开关10相连接，通过键盘开关的通断情况来记录按压机构的按压次数。控制台11用于放置待测键盘开关10。 本技术在检测键盘开关时，以键盘开关机械寿命100万次、键盘开关按压频率30-60次/分钟为例。键盘开关内部包括有由薄不锈钢带冲制的引鼓内壁镀金的圆形簧片和电路板印制线路，所以对键盘开关的寿命检测主要是对簧片的使用寿命进行检测。 首次启动调速电机，由调速电机带动偏心轮2旋动。偏心轮2通过主连接线3和分位连接线7拉动触头9按压键盘开关的按键。可根据按力的大小来调整砝码的重量，按力的大小即为砝码自重(F按力=Gem),同时，控制偏心轮2旋转轴心的位置和偏心轮2的大小，来控制偏心轮2的行程，即触头9向下的位移d Cd=Cl1-(I2)0调节主连接线3和分位连接线7的长度，使触头9向下时按压在键盘开关的按键上，刚好使簧片变形，键盘开关由断变通。如此反复，直到开关中的簧片失效。并用计数器6记下开关通断的次数，从而完成键盘开关寿命的测绘和计量。【权利要求】1.一种键盘开关寿命测试机，其特征是，包括有: 电机，与偏心轮相连接，用于驱动所述偏心轮转动； 偏心轮，与所述电机和分位机构相连接，用于将旋转转化为固定频率的震动，并输送给所述分位机构； 分位机构，与所述偏心轮和按压机构相连接，用于将所述偏心轮产生的震动分位到待测键盘开关按键的位置上； 按压机构，设置在待测键盘开关的按键上方，用于对按键进行按压；以及 计数器，用于记录所述按压机构的按压待测键盘按键的次数。2.根据权利要求1所述的键盘开关寿命测试机，其特征是，还包括有控制台，用于放置待测键盘开关。3.根据权利要求1所述的键盘开关寿命测试机，其特征是，所述分位机构包括有: 与所述偏心轮连接的主连接线； 由所述主连接线穿过的主定滑轮； 与从所述主定滑轮穿出的所述主连接线相接的若干分位连接线；以及 由所述分位连接线穿过的若干分位定滑轮； 所述分位连接线与所述按压机构相连接。4.根据权利要求1所述的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键盘开关寿命测试机，其特征是，包括有：电机，与偏心轮相连接，用于驱动所述偏心轮转动；偏心轮，与所述电机和分位机构相连接，用于将旋转转化为固定频率的震动，并输送给所述分位机构；分位机构，与所述偏心轮和按压机构相连接，用于将所述偏心轮产生的震动分位到待测键盘开关按键的位置上；按压机构，设置在待测键盘开关的按键上方，用于对按键进行按压；以及计数器，用于记录所述按压机构的按压待测键盘按键的次数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈君伟，赵绪怀，张莉，丁乡，崔艳梅，王云香，寻丽红，郝英，
申请(专利权)人：石家庄八五零电子有限公司，
类型：新型
国别省市：河北;13