本发明专利技术涉及同位素仪表辅助设备，具体为同位素仪表闪烁体与倍增管的固定装置。其包括固定支架(1)、倍增管(4)、闪烁体(7)及与固定支架(1)顶部连接的探测器筒体(11)；固定支架(1)通过其连接孔与倍增管屏蔽罩(5)连接，固定支架(1)一侧连接有第一弹簧(2)；倍增管屏蔽罩(5)自由端通过固定法兰(6)与闪烁体(7)连接成一体式结构，其一体式结构外侧是顶端与固定支架(1)连接的探测器筒体(11)，所述的闪烁体(7)自由端设有底端垫片(9)，且底端垫片(9)与闪烁体(7)相对的另一端设有第二弹簧(10)。其有益效果在于：结构简单、成本低，有效解决了晶体热胀冷缩引起的测量问题，使测量效果稳定可靠。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术及同位素仪表辅助设备的
，具体为同位素仪表闪烁体与倍增管的固定装置。
技术介绍
工业同位素仪表以其非接触式测量的优点，在高温、高压、易燃、易爆、剧毒、强腐蚀、高粘度、多粉尘等恶劣环境下的测量中，发挥着独特优势，具有常规仪表无法替代的作用，在众多工业领域中获得了广泛应用。同位素仪表测量中，探测器是核心装置，尤其在新型一体化同位素仪表中，探测器是唯一的测量部件。探测器测量的准确与否，测量是否稳定可靠，直接关系到同位素仪表的测量效果。以前的同位素仪表，大多采用NaI晶体配光电倍增管。这种点式探测器需要配置多点或线状放射源进行测量。以后随着国家对放射源采购审批程序的强化，和放射源采购成本的不断攀升，同位素料位计中，尤其是大量程料位的测量，逐渐由NaI晶体过渡到使用塑料闪烁体。NaI晶体由于其材料特性，晶体长度一般不能超过200mm。而新材料塑料闪烁体单根长度可以达到2000_，用它配置单点放射源就可以实行较大量程的料位测量。对于更大量程，如5-6米甚至更长的料位，通过多个探测器的级联，也可实施测量。目前，量程超过300mm的同位素仪表料位测量，基本都采用塑料闪烁体。但是在塑料闪烁体的实际应用中，也存在如下问题。常用塑料闪烁体，其线性膨胀系数在60°C以下为7.8 X 10 5，照此计算，一根2000mm长的晶体，当温度在60°C到一 20°C范围内波动时，热胀和冷缩时的长度差可达12.48_。即:以前在NaI晶体中不存在的热胀冷缩问题，成了塑料晶体使用中的突出矛盾。由于和晶体对接的倍增管为玻璃制品，受挤压力过大容易破碎；同时，射线测量的特殊性，要求晶体和倍增管的接合面必须保持紧密相接。这样，面对实际使用中的环境温度变化，对膨胀差达数毫米甚至更大的晶体长度变化，如何解决塑料闪烁体和光电倍增管之间既紧密连接、又随热胀冷缩而动态调整的难题，一直是同位素料位计使用中的难点。目前，许多产品常因为此问题解决不善而出现仪表使用不稳定，测量效果不佳，甚至致使仪表损坏的情形出现。因此针对上述问题我们研制了一种结构简单、成本低的同位素仪表闪烁体与倍增管的固定装置，其在塑料闪烁体热胀冷缩时，可使其和光电倍增管一直保持紧密连接，并随热胀冷缩而动态调整，有效解决了晶体热胀冷缩引起的测量问题，使测量效果稳定可靠。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对以上所述的现有技术中存在的问题，提供一种结构简单、成本低的同位素仪表闪烁体与倍增管的固定装置，其在塑料闪烁体热胀冷缩时，可使其和光电倍增管一直保持紧密连接，并随热胀冷缩而动态调整，有效解决了晶体热胀冷缩引起的测量问题，使测量效果稳定可靠。为了实现所述目的，本专利技术具体采用如下技术方案:同位素仪表闪烁体与倍增管的固定装置，其包括固定支架1、倍增管4、闪烁体7及与固定支架I顶部连接的探测器筒体11 ;其特征在于:所述的固定支架I通过其连接孔与倍增管屏蔽罩5连接，固定支架I 一侧连接有第一弹簧2，且第一弹簧2的自由端与设置在倍增管4顶端的倍增管管座3连接成一体式结构，其一体式结构设置在倍增管屏蔽罩5内；所述的倍增管屏蔽罩5自由端通过固定法兰6与闪烁体7连接成一体式结构，其一体式结构外侧是顶端与固定支架I连接的探测器筒体11，所述的闪烁体7自由端设有底端垫片9，且底端垫片9与闪烁体7相对的另一端设有第二弹簧10，第二弹簧10的自由端与探测器筒体11底端内壁连接。所述的闪烁体7外侧至少安装有两个橡胶护套8。所述的固定支架I与探测器筒体11的顶端通过螺丝或螺栓连接。所述的倍增管屏蔽罩5通过螺丝或螺栓与固定法兰6连接。所述的第一弹簧2、第二弹簧10，其使用刚度为1.0?3.0，且第一弹簧2与第二弹簧10的中径尺寸为62.5mm，契合倍增管屏蔽罩5与探测器筒体11的内径，刚好放入，保证弹簧分别放入后不会发生横向移动。所述的第一弹簧2与第二弹簧10的自由高度为49mm，最大可压至20mm，有29mm的弹性空间。本专利技术同位素仪表闪烁体与倍增管的固定装置，所述的倍增管屏蔽罩5与闪烁体7组成的一体式结构的两端均设有第一弹簧2、第二弹簧10，其构成一种软连接结构，当闪烁体7因热胀冷缩在筒体内发生纵向位移时，第一弹簧2、第二弹簧10会使闪烁体7 —直处于顶紧状态，从而使闪烁体7和倍增管4端面始终保持紧密相接，有效解决了晶体热胀冷缩引起的测量问题，使测量效果稳定可靠。与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于:一、所述的倍增管屏蔽罩5与闪烁体7组成的一体式结构的两端均设有第一弹簧2、第二弹簧10，其构成一种软连接结构，当闪烁体7因热胀冷缩在筒体内发生纵向位移时，第一弹簧2、第二弹簧10会使闪烁体7 —直处于顶紧状态，从而使闪烁体7和倍增管4端面始终保持紧密相接，有效解决了晶体热胀冷缩引起的测量问题，使测量效果稳定可靠；二、所述倍增管屏蔽罩5防止了外界干扰杂光进入倍增管4内，测量准确，使用方便；三、所述橡胶护套8起防震和限位作用，使闪烁体7在探测器筒体11内位置相对固定，不发生横向移位，且搬运、操作过程中不会出现倍增管、闪烁体碎裂的现象。【附图说明】图1为本专利技术的结构示意图。图中:固定支架I，第一弹簧2，倍增管管座3，倍增管4，倍增管屏蔽罩5，固定法兰6，闪烁体7，橡胶护套8，底端垫片9，第二弹簧10，探测器筒体11。【具体实施方式】以下结合附图1对本专利技术的结构及其有益效果进一步说明。实施例1同位素仪表闪烁体与倍增管的固定装置，如图1所示，其包括固定支架1、倍增管4、闪烁体7及与固定支架I顶部连接的探测器筒体11当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
同位素仪表闪烁体与倍增管的固定装置，其包括固定支架(1)、倍增管(4)、闪烁体(7)及与固定支架(1)顶部连接的探测器筒体(11)；其特征在于：所述的固定支架(1)通过其连接孔与倍增管屏蔽罩(5)连接，固定支架(1)一侧连接有第一弹簧(2)，且第一弹簧(2)的自由端与设置在倍增管(4)顶端的倍增管管座(3)连接成一体式结构，其一体式结构设置在倍增管屏蔽罩(5)内；所述的倍增管屏蔽罩(5)自由端通过固定法兰(6)与闪烁体(7)连接成一体式结构，其一体式结构外侧是顶端与固定支架1连接的探测器筒体11，所述的闪烁体(7)自由端设有底端垫片(9)，且底端垫片(9)与闪烁体(7)相对的另一端设有第二弹簧(10)，第二弹簧(10)的自由端与探测器筒体(11)底端内壁连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：薛峰，赵万翔，郭东林，杨季，
申请(专利权)人：天华化工机械及自动化研究设计院有限公司，
类型：发明
国别省市：甘肃;62
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。