一种移动式C形臂X光机校正参数验证方法技术

一种C形臂X光机校正参数验证方法，属于医疗器械技术领域。其特征在于：利用特定模体计算几何校正参数，利用重建图像数据所得断层图像进行数据计算，采用统计学中的多变量分析方法对计算数据进行分析，得出C形臂X光机的校正周期。其优点是：从重建图像角度分析，利用多变量统计计算方法，保证计算结果的准确性，有利于指导实际C形臂X光机校正周期的评估。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于医疗器械

技术介绍
移动式C形臂X光机是由可滑动的C形臂和固定底座构成，其中在C形臂的两端分别安装有影像增强器和射线源球管组件；c形臂可绕等中心点旋转190°，采集100张投影数据进行三维图像重建，同时可显示三维图像的冠状面、矢状面和横断面，在进行图像三维重建时，影响重建图像质量的因素有很多，其中C形臂在滑动过程中会产生抖动，从图像方面来讲可进行几何校正来降低抖动对图像的影响情况，但是在进行一次几何校正生成校正参数后，随着C形臂X光机的不断使用，C形臂会出现一定的形变从而影响图像质量，因此，研究C形臂X光机的几何校正周期对三维图像的重建结果具有重要意义。
技术实现思路
本专利技术目的:提出移动式C形臂X光机校正参数验证方法，并对C形臂X光机几何校正的周期做出一个评估。本专利技术所采用的技术方案是:其特征在于:利用特定模体计算几何校正参数，利用重建图像数据所得断层图像进行数据计算，采用统计学中的多变量分析方法对计算数据进行分析，得出c形臂X光机的校正周期，具体步骤为: 步骤1:利用C形臂X光机进行特定模体的原始投影数据采集并计算校正参数； 步骤2:在此校正参数下，采集正方体模体序列数据并进行三维重建； 步骤3:C形臂X光机3D扫描重建功能正常使用一段时间； 步骤4:再次采集正方体模体序列数据并进行三维重建； 步骤5:对两组重建断层数据进行分析，采用统计方法对计算结果进行分析； 步骤6:比较分析结果，得出C形臂X光机的几何校正周期。所述的步骤5中利用重建断层图像进行模体图像尺寸的计算，对计算结果采用统计分析法中多变量统计分析法，以及以时间为变量的对比分析方法，得出c形臂X光机随着使用时间的变化几何校正参数对重建图像的影响，进而评估几何参数的校正周期。本专利技术的有益效果是:从重建图像角度分析，利用多变量统计计算方法，保证计算结果的准确性，有利于指导实际c形臂X光机校正周期的评估。【附图说明】图1为本专利技术的示意框图。【具体实施方式】参照附图，其特征在于:生成几何校正参数后，对正方体模体进行三维重建，然后设定机器正常使用一段时间后再对正方体模体同样进行三维重建，利用统计分析方法来分析重建断层图像，最后推导出C形臂X光机的校正周期，具体步骤为: 步骤1:利用C形臂X光机进行特定模体的原始投影数据采集并计算校正参数； 步骤2:在此校正参数下，采集正方体模体序列数据并进行三维重建； 步骤3:C形臂X光机3D扫描重建功能正常使用一段时间； 步骤4:再次采集正方体模体序列数据并进行三维重建； 步骤5:对两组重建断层数据进行分析，采用统计方法对计算结果进行分析； 步骤6:比较分析结果，得出C形臂X光机的几何校正周期。所述的步骤5中利用重建断层图像进行模体图像尺寸的计算，对计算结果采用统计分析法中多变量统计分析法，以及以时间为变量的对比分析方法，得出c形臂X光机随着使用时间的变化几何校正参数对重建图像的影响，进而评估几何参数的校正周期。本专利技术采用移动式C形臂X光机采集序列投影数据，具体实施步骤如下: 步骤一:将几何校正模体放置于C形臂等中心位置进行序列采集，并利用特定算法生成几何校正参数； 步骤二:采集正方体序列投影数据，并进行三维重建保存重建数据； 步骤三:预设一个时间阈值，机器在这段时间内正常使用； 步骤四:再次对正方体模体进行数据采集并三维重建保存重建数据； 步骤五:对两次重建断层数据进行比较。在对两次重建数据进行比较中，采用基于多变量的统计分析方法，具体步骤为: 1、将第一次重建数据的断层图像选取不同层以及同一层选取不同的方向测量正方体模体的边长； 2、将所测边长作为一组待分析的数据，计算这组数据的均值和方差； 3、同样的方法计算第二组重建数据模体图像的均值和方差； 4、将这两组计算结果进行比较； 在上述步骤4中，若第二次计算结果与第一次相比在可接受范围之内，则延长上述步骤四中的预设时间，若不在可接受范围之内，则缩短上述步骤四中的预设时间，直至找到此时间的临界值。移动式C形臂X光机可按照本方法推导出的时间值对机器进行定期的几何校正以保证重建图像质量。【主权项】1.一种移动式C形臂X光机校正参数验证方法，其特征在于:利用特定模体计算几何校正参数，利用重建图像数据所得断层图像进行数据计算，采用统计学中的多变量分析方法对计算数据进行分析，得出C形臂X光机的校正周期，具体步骤为: 步骤1:利用C形臂X光机进行特定模体的原始投影数据采集并计算校正参数； 步骤2:在此校正参数下，采集正方体模体序列数据并进行三维重建； 步骤3:C形臂X光机3D扫描重建功能正常使用一段时间； 步骤4:再次采集正方体模体序列数据并进行三维重建； 步骤5:对两组重建断层数据进行分析，采用统计方法对计算结果进行分析； 步骤6:比较分析结果，得出C形臂X光机的几何校正周期。2.根据权利要求1中所述的一种移动式C形臂X光机校正参数验证方法，其特征在于:在进行序列数据采集时为C形臂等中心旋转，被扫描物体中心位于C形臂的等中心位置。3.根据权利要求1中所述的一种移动式C形臂X光机校正参数验证方法，其特征在于:所述的步骤5中采用多变量统计分析方法，以及以时间为变量的对比分析方法，得出C形臂运动几何参数的校正周期。【专利摘要】一种C形臂X光机校正参数验证方法，属于医疗器械
其特征在于：利用特定模体计算几何校正参数，利用重建图像数据所得断层图像进行数据计算，采用统计学中的多变量分析方法对计算数据进行分析，得出C形臂X光机的校正周期。其优点是：从重建图像角度分析，利用多变量统计计算方法，保证计算结果的准确性，有利于指导实际C形臂X光机校正周期的评估。【IPC分类】A61B6/00【公开号】CN105286892【申请号】CN201410321160【专利技术人】刘金虎, 蔚慧甜 【申请人】南京普爱射线影像设备有限公司【公开日】2016年2月3日【申请日】2014年7月8日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种移动式C形臂X光机校正参数验证方法，其特征在于：利用特定模体计算几何校正参数，利用重建图像数据所得断层图像进行数据计算，采用统计学中的多变量分析方法对计算数据进行分析，得出C形臂X光机的校正周期，具体步骤为：步骤1：利用C形臂X光机进行特定模体的原始投影数据采集并计算校正参数；步骤2：在此校正参数下，采集正方体模体序列数据并进行三维重建；步骤3：C形臂X光机3D扫描重建功能正常使用一段时间；步骤4：再次采集正方体模体序列数据并进行三维重建；步骤5：对两组重建断层数据进行分析，采用统计方法对计算结果进行分析；步骤6：比较分析结果，得出C形臂X光机的几何校正周期。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘金虎，蔚慧甜，
申请(专利权)人：南京普爱射线影像设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32