【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及。
技术介绍
需要就显示器在完成之前是否正常运行而测试诸如液晶显示器(LCD)之类的平板显示器(FPD)、等离子显示面板(PDP)以及有机发光二极管(0LED)。这种测试主要在包括于显示器中的显示面板上进行，并且在包括驱动芯片的显示器完成之前在显示面板处于单元部分的状态下进行测试。这是因为在测试成品的情况下测试精度及检测水平很高，但是如果发现已经经过多种加工的显示面板的缺陷或问题，那么测试损失非常大。总的来说，用于测试显示面板的方法包括这样的程序，其中，通过使用测试装置将电信号施加至显示面板，从而确定显示面板是否欠佳。此测试装置还被称为探针块(probeblock)，刀片型装置或针型装置被广泛使用。具有低分辨率的显示面板具有少量像素，因而数据线或电源线的数量少。因此，可借助间距小的测试装置测试具有低分辨率的显示面板。然而，为了生产具有高分辨率的显示面板，需要在显示面板中设置大量具有相同尺寸的像素，因而在其中形成具有微小间距的大量数据线与电源线。因此，需要用于测试显示面板的测试装置对应显示面板的微小间距。刀片型或针型测试装置精确接触显示面板...
【技术保护点】
一种显示面板测试装置，该显示面板测试装置包括：主体；驱动膜，该驱动膜环绕所述主体的表面并且形成与显示面板接触的接触区；缠绕部，该缠绕部将所述驱动膜的一端缠绕在该缠绕部上；退绕部，该退绕部将所述驱动膜的另一端缠绕在该退绕部上；以及插入所述主体中的按压部，该按压部在所述接触区按压所述驱动膜，并且该按压部由透明材料或半透明材料制成。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：朴赞仲，金文基，
申请(专利权)人：可迪爱思株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR
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