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一种高可靠性的钯金IC封装凸块制造技术

技术编号:12763714 阅读:121 留言:0更新日期:2016-01-22 13:37
本实用新型专利技术公开了一种高可靠性的钯金IC封装凸块,包括从下向上依次设置的载体、导电层、绝缘层、钛钨层、第一金层、钯层和金层,所述绝缘层上设有孔,露出部分导电层,所述孔并排设有多道,相邻的两道孔之间为孔桥,所述钛钨层成波浪形贴合绝缘层、部分导电层及孔桥的表面,所述第一金层、钯层和金层也成波浪形。各金属层成波浪形,降低温度变化时各金属层的横向位移,从而减小相邻金属层之间的应力,进而削弱应力产生的负面影响,提高钯金IC封装凸块的可靠性;孔桥可以吸收钛钨层与部分导电层之间的应力,进一步提高钯金IC封装凸块的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及1C封装领域,具体涉及一种高可靠性的钯金1C封装凸块。
技术介绍
驱动1C封装上使用的凸块普遍为纯金,成本高,目前有一种采用铜镍金组合来代替纯金的1C封装凸块,可以有效降低成本,鉴于黄金的成本,在镍层上的金层有3um厚,短时间内溅渡的连接性尚好,如在潮湿环境中过久,透过金层的疏孔,会使镍层氧化腐蚀,进而导致金层表面渐渐失去连接性,而且镍层中常含有的还原剂磷、硼将造成镍层与金层的粘结力下降,性能可靠性低;钯金1C封装凸块是一种利用钯耐蚀、耐磨、耐变色性好、化学稳定性高的优点,确保与金层之间粘结力,以克服铜镍金1C封装凸块的缺陷,但是由于不同金属的膨胀系数不一样,在温度变化时,各金属层之间产生应力,很容易引起基体变形或产生裂纹,甚至会剥离脱落,因此这种钯金1C封装凸块也存在可靠性低的问题。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种高可靠性的钯金1C封装凸块,可以解决现有钯金1C封装凸块在温度变化时,各金属层之间产生应力,很容易引起基体变形或产生裂纹,甚至会剥离脱落,导致可靠性差的问题。本技术通过以下技术方案实现:一种高可靠性的钯金1C封装凸块,包括从下向上依次设置的载体、导电层、绝缘层、钛钨层、第一金层、钯层和第二金层,所述绝缘层上设有孔,露出部分导电层,所述孔并排设有多道,相邻的两道孔之间为孔桥,所述钛钨层成波浪形贴合绝缘层、部分导电层及孔桥的表面,所述第一金层、钯层和第二金层也成波浪形。本技术的进一步方案是,所述载体为硅片。本技术的进一步方案是,所述导电层为铝垫。本技术的进一步方案是,所述绝缘层为PSV绝缘材料。本技术与现有技术相比的优点在于:—、各金属层成波浪形,降低温度变化时各金属层的横向位移,从而减小相邻金属层之间的应力,进而削弱应力产生的负面影响,提高钯金1C封装凸块的可靠性;二、孔桥可以吸收钛钨层与部分导电层之间的应力,进一步提高钯金1C封装凸块的可靠性。【附图说明】图1为本技术的结构示意图。【具体实施方式】如图1所示的一种高可靠性的钯金1C封装凸块,包括从下向上依次设置的硅片载体1、铝垫导电层2、PSV绝缘层3、钛钨层4、第一金层5、钯层6和第二金层7,所述绝缘层3上并排设有多道孔21,露出部分导电层2,相邻的两道孔21之间为孔桥8,所述钛钨层4成波浪形贴合绝缘层3、部分导电层2及孔桥8的表面,所述第一金层5、钯层6和第二金层7也成波浪形。【主权项】1.一种高可靠性的钯金1C封装凸块,包括从下向上依次设置的载体(1)、导电层(2)、绝缘层(3)、钛钨层(4)、第一金层(5)、钯层(6)和第二金层(7),所述绝缘层(3)上设有孔(21),露出部分导电层(2),其特征在于:所述孔(21)并排设有多道,相邻的两道孔(21)之间为孔桥(8),所述钛钨层(4)成波浪形贴合绝缘层(3)、部分导电层(2)及孔桥(8)的表面,所述第一金层(5 )、钯层(6 )和第二金层(7 )也成波浪形。2.如权利要求1所述的一种高可靠性的钯金1C封装凸块,其特征在于:所述载体(1)为硅片。3.如权利要求1所述的一种高可靠性的钯金1C封装凸块,其特征在于:所述导电层(2)为铝垫。4.如权利要求1所述的一种高可靠性的钯金1C封装凸块,其特征在于:所述绝缘层(3)为PSV绝缘材料。【专利摘要】本技术公开了一种高可靠性的钯金IC封装凸块,包括从下向上依次设置的载体、导电层、绝缘层、钛钨层、第一金层、钯层和金层,所述绝缘层上设有孔,露出部分导电层,所述孔并排设有多道,相邻的两道孔之间为孔桥,所述钛钨层成波浪形贴合绝缘层、部分导电层及孔桥的表面,所述第一金层、钯层和金层也成波浪形。各金属层成波浪形,降低温度变化时各金属层的横向位移,从而减小相邻金属层之间的应力,进而削弱应力产生的负面影响,提高钯金IC封装凸块的可靠性;孔桥可以吸收钛钨层与部分导电层之间的应力,进一步提高钯金IC封装凸块的可靠性。【IPC分类】H01L23/485【公开号】CN204991694【申请号】CN201520658559【专利技术人】周义亮 【申请人】周义亮【公开日】2016年1月20日【申请日】2015年8月28日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高可靠性的钯金IC封装凸块,包括从下向上依次设置的载体(1)、导电层(2)、绝缘层(3)、钛钨层(4)、第一金层(5)、钯层(6)和第二金层(7),所述绝缘层(3)上设有孔(21),露出部分导电层(2),其特征在于:所述孔(21)并排设有多道,相邻的两道孔(21)之间为孔桥(8),所述钛钨层(4)成波浪形贴合绝缘层(3)、部分导电层(2)及孔桥(8)的表面,所述第一金层(5)、钯层(6)和第二金层(7)也成波浪形。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周义亮
申请(专利权)人:周义亮
类型:新型
国别省市:江苏;32

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