一种空间挤出常压累积检漏系统与方法技术方案

本发明专利技术公开了一种空间挤出常压累积检漏系统，包括收集容器、空间挤出装置、风机搅拌装置、检漏仪、气体采样及回填装置、检漏标定装置以及被检产品，被检产品内装有检漏工质，检漏工质可泄漏到收集容器中，收集容器内设置有空间挤出装置，可将收集容器中除被检产品以外的空间进行压缩挤占；风机搅拌装置安装于收集容器内部，用于对收集容器中气体进行搅拌，使各种气体混合均匀；气体采样及回填装置对收集容器中的气体实时采样，并将采样的气体一部分实时输送给检漏仪，其余气体实时输送回收集容器中。通过本发明专利技术将采样气体通过气体采样及回填装置进行输送循环，克服了检漏仪抽气能力的不足，降低了压力损耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种减小已有累积空间和降低检漏系统最小可检漏率的检漏系统及 方法，具体涉及。
技术介绍
各类具有密封性能的设备在研制过程中，均需要对其密封性进行测试。为了检测 密封设备的密封性，需要通过适当的方法对其密封性能指标进行测量。其中采用的方法之 一是氦质谱常压累积检漏方法。该方法的原理是，将充满检漏工质（氦气）的设备密封在一 个密闭的收集器中，泄漏出的检漏工质在收集器中逐渐累积，检漏工质的分压力不断增加， 通过检漏仪（检漏仪）检测收集器中检漏工质的分压力，并根据累积的时间计算密封设备 的漏率。目前，国内外在氦质谱常压累积检漏中一般采用包装箱或建筑式固定容积装置作 为收集容器，具有累积空间容积固定的优势，且由于采用了金属材料作为容器主体，密封和 防渗漏效果好。但是，出于成本考量，采用包装箱或建筑式固定容积装置时为了满足多数产 品的外形尺寸的通用要求，一般内腔容积较大。检漏系统最小可检漏率与累积空间容积成 反比，与检漏累积时间成正比。因此，内腔容积的增大将使检漏系统最小可检漏率增大，造 成小于此最小可检漏率的泄漏无法被测量；如果通过增加检漏累积时间的方法降低检漏系 统最小可检漏率，检漏系统最小可检漏率降低到原数值的几分之一，新的检漏累积时间将 是原累积时间的几倍，检漏效率将因此大大降低。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题是：为克服现有技术的不足，提供一种密封设备整体漏率 的检漏系统及方法，该方法通过专用装置和工艺方法来减小已有的检漏累积空间，从而降 低检漏系统最小可检漏率，或减少检漏累积时间而提尚检测效率。 本专利技术的技术解决方案是：一种空间挤出常压累积检漏系统，包括收集容器、空间 挤出装置、风机搅拌装置、检漏仪、气体采样及回填装置、检漏标定装置以及被检产品，其中 用于放置被检产品的收集容器为密封结构，被检产品内装有检漏工质，检漏工质可泄漏到 收集容器中，收集容器内设置有空间挤出装置，可将收集容器中除被检产品以外的空间进 行压缩挤占；风机搅拌装置安装于收集容器内部，用于对收集容器中气体进行搅拌，使各种 气体混合均勾； 气体采样及回填装置对收集容器中的气体实时采样，并将采样的气体一部分实时 输送给检漏仪，其余气体实时输送回收集容器中，检漏仪对采样气体进行测试分析后，通过 气体采样及回填装置将检漏仪测试分析后的气体实时传输回收集容器中； 检漏标定装置向收集容器中提供定量检漏工质。 所述空间挤出装置对被检漏工质不吸收、不渗透，在检测过程中所挤占的体积不 发生改变。 所述风机搅拌装置为循环阵列式气体搅拌装置，包括鼓风机、风道及风嘴，在风道 表面设有阵列式排布的风嘴以及鼓风机。 鼓风机将收集容器中的气体吹入风道，气体流经风道，通过阵列在风道上的风嘴 吹向收集容器，形成均匀的循环送风形式。 所述的检漏标定装置包括气源、定量容积部件和气体循环部件，气源内检漏工质 充入定量容积部件中，通过气体循环部件将定量容积部件中的气体全部充入收集容器中。 -种利用空间挤出常压累积检漏系统进行检漏的方法，具体步骤为： 步骤一，将充有示漏介质的被检产品安装在收集容器中； 步骤二，在收集容器中安装和操纵空间挤出装置，将多余空间进行挤出； 步骤三，密封收集容器，对收集容器内气体进行循环阵列式搅拌，形成均匀的循环 风，使收集容器内气体快速混合均匀； 步骤四，通过收集容器对被检产品泄漏出的示漏工质进行收集累积，计算最低累 积时间； 步骤五，在步骤四的收集累积过程中，通过气体采样及回填装置进行采样，以一定 时间间隔持续用检漏仪进行测量，获得被检产品累积过程的反应值及测量时间数据，累积 时间不低于最低累积时间的要求； 步骤六，累积过程完成后，使用检漏标定装置配置定量检漏工质，并将其充入收集 容器中，继续对收集容器内气体进行循环阵列式搅拌，待搅拌均匀后，开始并以一定时间间 隔持续用检漏仪进行测量，获得标定的反应值及测量时间数据； 步骤七，根据步骤五中被检产品累积过程的反应值及测量时间数据以及步骤六中 标定的反应值及测量时间数据，获得被检产品漏率。 步骤二中空间挤出装置在检测期间体积保持不变，收集容器的容积也保持不变。 所述步骤七中获得被检产品漏率的方法为：用步骤五中被检产品累积过程的反应 值及测量时间数据，计算单位时间内测量值的变化量；用步骤六中标定的反应值及测量时 间数据结合步骤五中被检产品累积过程的反应值及测量时间数据，获得定量检漏工质放入 前后测量值的变化量，通过单位时间内测量值的变化量、定量检漏工质放入前后测量值的 变化量以及放入定量检漏工质的量值，计算被检产品漏率。 重复进行步骤六两次以上，获得每次标定的反应值及测量时间数据，用步骤五中 被检产品累积过程的反应值及测量时间数据，计算单位时间内测量值的变化量；用每次标 定的反应值及测量时间数据结合上一次的数据，获得历次标定过程定量检漏工质放入前后 测量值的变化量，通过单位时间内测量值的变化量、历次标定过程定量检漏工质放入前后 测量值的变化量以及历次标定定量检漏工质的量，计算被检产品漏率。 本专利技术与现有技术相比的优点在于： (1)本专利技术通过在收集容器中设置空间挤出装置，将收集容器内的用于检漏工质 收集的有效空间进行压缩挤占，在被检设备相同的泄漏漏率下，可以提高单位时间内检漏 工质浓度的增加量，降低检漏系统最小可检漏率，减少检漏累积时间而提高检测效率； (2)现有技术检漏仪的抽气能力有限，对于较长的采样管路，由于压力损耗较大， 造成检漏仪测量结果不准确，气体循环效率也不高，通过本专利技术将采样气体通过气体采样 及回填装置进行输送循环，克服了检漏仪抽气能力的不足，降低了压力损耗。 (3)现有技术中检漏仪工作时，通常会将分析完成后的采样气体直接排放到外界， 由于排放到外界的采样气体里面含有检漏工质，这样会造成收集容器中检漏工质的损耗， 且收集容器中除检漏工质外的总气体量降低，影响检漏结果的准确性，使被检工件测得的 漏率值低于实际的漏率值，通过本专利技术将检漏仪测试后的采样气体传输回收集容器，使收 集容器中检漏工质无损耗，总气体量不降低。【附图说明】 图1为本专利技术组成平面示意图； 图2为本专利技术组成立体示意图； 图3为本专利技术风机搅拌装置工作示意图。【具体实施方式】 下面结合附图及实施例对本专利技术进行详细描述。 -种空间挤出常压累积检漏系统，如图1或2所示，包括收集容器6、空间挤出装置 1、风机搅拌装置3、检漏仪4、气体采样及回填装置5、检漏标定装置7以及被检产品2，其中 用于放置被检产品2的收集容器6为密封结构，被检产品2内装有检漏工质，检漏工质可泄 漏到收集容器6中，收集容器6内设置有空间挤出装置1，可将收集容器6中除被检产品以 外的空间进行压缩挤占，提高单位体积内检漏工质的分压力；空间挤出装置1对被检漏工 质不吸收、不渗透，在检测过程中所挤占的体积不发生改变；风机搅拌装置3安装于收集容 器内部，用于对收集容器6中气体进行搅拌，使各种气体混合均匀，通过在收集容器中设置 空间挤出装置，可以降低收集容器中检漏工质扩散的空间，相同量的检漏工质泄漏到收集 容器后可以形成较高的分压力，达到检漏仪检测的最佳工作范围，所述空间挤出装置可以 是固定空间，也可以是可伸缩空间。 气体采样及回填装置5本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种空间挤出常压累积检漏系统，其特征在于，包括收集容器(6)、空间挤出装置(1)、风机搅拌装置(3)、检漏仪(4)、气体采样及回填装置(5)、检漏标定装置(7)，其中用于放置被检产品(2)的收集容器(6)为密封结构，被检产品(2)内装有检漏工质，检漏工质可泄漏到收集容器(6)中，收集容器(6)内设置有空间挤出装置(1)，可将收集容器(6)中除被检产品(2)以外的空间进行压缩挤占；风机搅拌装置(3)安装于收集容器内部，用于对收集容器(6)中气体进行搅拌，使各种气体混合均匀；气体采样及回填装置(5)对收集容器(6)中的气体实时采样，并将采样的气体一部分实时输送给检漏仪(4)，其余气体实时输送回收集容器(6)中，检漏仪(4)对采样气体进行测试分析后，通过气体采样及回填装置(5)将检漏仪(4)测试分析后的气体实时传输回收集容器(6)中；检漏标定装置(7)向收集容器(6)中提供定量检漏工质。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：薛长利，郝佳，丁勤，魏泽军，肖连辉，
申请(专利权)人：航天东方红卫星有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11