一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统技术方案

本发明专利技术涉及一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统，其特征在于，包括收集器、循环风扇、驱动电机、循环风道、校准器、检漏仪以及被检产品；其中，收集器，具有气密特性，其内腔放置被检产品，收集器上密封安装有收集器压力表、收集器温度计、收集器平衡阀和收集器测试阀；外置的循环风扇与驱动电机连接，对收集器内的气体进行循环搅拌，使其中各处的氦气浓度均匀一致；驱动电机放置在循环风道的外部；循环风道通过两个端口与收集器连通，中间串联连接循环风扇的进风口和出风口；校准器具有气密特性；收集器测试阀、校准器测试阀出口处设置与检漏仪吸枪密封连接接口。本发明专利技术降低了测量值的误差，提高了检漏结果的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统，属于氦质谱大气累积检漏。

技术介绍

1、具有密封性能的部件或产品，一般需要其进行密封性能测试。衡量密封性能的一个指标是泄漏率，是指单位时间内泄漏出的物质的量。氦质谱检漏方法是进行泄漏率检测的一种方法，使用氦质谱检漏仪作为检漏的核心测量仪器。根据检漏系统不同，实际的氦质谱检漏方法也细分有很多种方法，每种氦质谱检漏方法的最小可检漏率也不相同。

2、氦质谱正压累积检漏方法是其中一种，基本原理是：将充满氦气(或一定氦浓度的混合气)的产品密封在一个密闭的收集器中，收集器内外均为大气环境，泄漏出的氦气在收集器中逐渐累积，密闭的收集器中的氦气浓度不断增加，通过检漏仪对收集器中气体进行采样，测量其中氦气浓度的增长量，并根据累积的时间计算密封产品的漏率。这种检漏方法的优点在于，可以通过增加累积时间，降低检漏系统的最小可检漏率。

3、但由于其检漏周期长，在检测接近检漏系统最小可检漏率的产品时，更容易受到氦气分布均匀性、检漏仪不稳定、环境条件变化等因素的影响，造成较大测量误差，极端情况下会发生累积结本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统，其特征在于，包括收集器、循环风扇、驱动电机、循环风道、校准器、检漏仪以及被检产品；其中，

2.根据权利要求1所述的一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统，其特征在于，收集器平衡阀、收集器测试阀、校准器平衡阀、校准器测试阀选用能够调节开度的阀门，阀门最大通径范围为Φ4mm-Φ25mm。

3.根据权利要求1所述的一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统，其特征在于，收集器平衡阀、收集器测试阀、校准器平衡阀、校准器测试阀均选用针型阀，校准器容积大于20L。

4.根据权利要求1所述的一种降低压力变化影响的氦质谱累...

【技术特征摘要】

1.一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统，其特征在于，包括收集器、循环风扇、驱动电机、循环风道、校准器、检漏仪以及被检产品；其中，

2.根据权利要求1所述的一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统，其特征在于，收集器平衡阀、收集器测试阀、校准器平衡阀、校准器测试阀选用能够调节开度的阀门，阀门最大通径范围为φ4mm-φ25mm。

3.根据权利要求1所述的一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统，其特征在于，收集器平衡阀、收集器测试阀、校准器平衡阀、校准器测试阀均选用针型阀，校准器容积大于20l。

4.根据权利要求1所述的一种降低压力变化影响的氦质谱累积检漏系统，其特征在于，进行氦质谱累积检漏时，将充有氦气的被检产品放入收集器中，密封收集器，记录被检产品体积vs，收集器容积va，将校准器在相同的大气环境下进行密封，使其中氦气浓度与收集器中氦气浓度的初始值相同；

5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛长利，丁勤，郝佳，王升安，张少渤，杨有强，张灿，王啸晨，代森，何振东，
申请(专利权)人：航天东方红卫星有限公司，
类型：发明
国别省市：