面位置检测装置、曝光装置及曝光方法制造方法及图纸

技术编号:12616333 阅读:84 留言:0更新日期:2015-12-30 13:44
本发明专利技术提供一种面位置检测装置,其可以在实质上不受在穿过了反射面的光束中产生的偏光成分所致的相对的位置错移等的影响,高精度地检测出受检面的面位置。投射系统具备具有第一反射面(7b、7c)的投射侧棱镜构件(7)。受光系统具备具有与投射侧棱镜构件对应地配置的第二反射面(8b、8c)的受光侧棱镜构件(8)。还具备用于补偿穿过了第一反射面及第二反射面的光束的偏光成分所致的相对的位置错移的位置错移补偿构件。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种面位置检测装置,具备从倾斜方向向受检面上投射光束的投射系统、接收由上述受检面反射的光束的受光系统,并基于该受光系统的输出来检测出上述受检面的面位置,该面位置检测装置的特征是,上述投射系统具备第一反射面,上述受光系统具备第二反射面,该面位置检测装置还具备位置错移补偿构件,其用于补偿穿过了上述投射系统的上述第一反射面及上述受光系统的上述第二反射面的光束的偏光成分所致的相对的位置错移。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:日高康弘长山匡
申请(专利权)人:株式会社尼康
类型:发明
国别省市:日本;JP

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