一种基板上的贴片电阻不良缺陷检测方法技术

该发明专利技术公开了一种基板上的贴片电阻不良缺陷检测方法,属于贴片电阻技术邻域，尤其涉及图像处理领域。采集清晰的贴片电阻基板表面图像；对图像感兴趣区域进行提取：根据不同工艺区域的颜色不同，进行颜色分割，分割为：电阻图像、电极图像、剥离线图像；对剥离线图像进行定位处理，确定垂直方向和水平方向的剥离线，并将其作为定位线；并根据线的角度进行适当的旋转，使定位线呈垂直或水平分布；对电阻图像和电极图像分别进行图形匹配检测，以获得不良区域；根据定位线与电阻图像、电极图像的中心距离，来判断电阻与电极的偏移情况。从而具有保证质量标准化、规范法，并能极大的提高生产效率，能够及时在生产制程中及时对产品进行检测，提升企业对产品的检测力度，指导生产，满足大规模生产的需要。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】技术邻域本专利技术属于贴片电阻技术邻域，尤其涉及图像处理领域。
技术介绍
贴片电阻(SMD resistor)是一种片状的电阻元器件，由于其可以很方便地连接在电路板等多种小型化的器件上，所以贴片电阻的应用十分广泛。贴片电阻的制备需要经过如下几个步骤:步骤一，首先准备预先形成有网格状剥离线的绝缘基板，其中基板上有众多网格；步骤二，通过网格印刷工艺在基板的垂直剥离线中间形成电极；步骤三，再通过网格印刷工艺在基板上的电极之间形成电阻，并在电阻上印刷字符；步骤四，最后通过沿剥离线分割基板得到单个的电阻产品。由于贴片电阻制备过程的工艺因素，造成产品会存在印刷破洞不良，包括电极破洞和电阻破洞，表面脏污不良，包括图像漏墨、正面沾油墨、背面沾油墨等，和印刷偏移不良，包括电极印刷偏移、电阻印刷偏移、字符印刷偏移等。由于生产技术的要求，需要对贴片电阻的上述不良缺陷进行筛选，目前采用的方法是人工目视检测，这样不仅工作量大、质量标准不易控制、容易发生误检和漏检，而且生产效率低难以扩大生产规模。
技术实现思路
为了克服印刷破洞不良，表面脏污不良和印刷偏移不良的检测问题，本专利技术提供基板上贴片电阻不良缺陷检测的方法和系统，从而提高检测速度和检测精度，改善贴片电阻的产品质量。本专利技术为解决其技术问题，采用的解决方案是，该方法包括:步骤1:采集清晰的贴片电阻基板表面图像；步骤2:对图像感兴趣区域进行提取:根据不同工艺区域的颜色不同，进行颜色分害J，分割为:电阻图像、电极图像、剥离线图像；步骤3:对剥离线图像进行定位处理，确定垂直方向和水平方向的剥离线，并将其作为定位线；并根据线的角度进行适当的旋转，使定位线呈垂直或水平分布；步骤4:对电阻图像和电极图像分别进行图形匹配检测，以获得不良区域；步骤5:根据定位线与电阻图像、电极图像的中心距离，来判断电阻与电极的偏移情况。进一步的，所述步骤I采用多组图像采集装置分别采集贴片电阻基板表面各区域清晰图像，再对获得图像进行拼接，以得到完整的贴片电阻基板表面图像。本方法的有益效果是，在生产贴片电阻的不同流程工位上安装一套检测系统，在不接触待测物体的情况下，自动对贴片电阻存在的印刷破洞不良，包括电极破洞和电阻破洞、表面脏污不良，包括图像漏墨、正面沾油墨、背面沾油墨等和印刷偏移不良，包括电极印刷偏移、电阻印刷偏移、字符印刷偏移等进行快速检测，本方法保证质量标准化、规范法，并能极大的提尚生广效率，能够及时在生广制程中及时对广品进彳丁检测，提升企业对广品的检测力度，指导生产，满足大规模生产的需要。【附图说明】图1为系统流程图；图2为实施例采集的样本原图；图3为不同工艺区域颜色分割后得到的剥离线图像；图4为分割后得到的电极图；图5为分割后得到的电阻图；图6为分割线交点匹配所用图像；图7为有分割线测算得到的定位线图像；图8为偏位测量示意图；图9为由电极图测得的缺陷示意图；图10为由电阻测得的缺陷示意图。图中1.剥离线，2.电极，3.电阻，4.剥离线交点截图，5.定位线【具体实施方式】如图2所示实施例中，首先通过CCD摄像头拍摄得到4张原图像并采用亚像素无缝拼接技术得到贴片整图，其中有剥离线(I)，印刷电极(2)，印刷电阻(3)。紧接着通过图像处理算法对原图上不同工艺区域进行颜色分割，得到剥离线(I)图像如图3所示，电极(2)图像如图4所示，电阻(3)图像如图5所示。由于横竖剥离线的交点处具有明显交叉特性，于是截取交点周围图像如图6中白色框(4)所示，利用图6截取到的图像对图3进行图形匹配分析得到剥离线交叉点坐标，接下来对交叉点进行水平和垂直方向的直线拟合，拟合得到的直线作为定位线(5)如图7所示白色直线，并根据定位线的角度进行适当的旋转，使其呈垂直和水平分布。对电极图像图4和电阻图像图5分别进行电极图像和电阻图像的图像匹配，得到电极和电阻的坐标，利用电阻坐标与最近定位线之间的差值Dl和D2测算电阻偏移，利用电极坐标与最近定位线之间差值D3和D4测算电极偏移如图8所示。当电极和电阻图像只匹配一部分时，说明未匹配到的部分为不良缺陷，记录不良缺陷坐标，并在图像上标注如图9所示为电极不良缺陷，图10所示为电阻不良缺陷。通过上述不良缺陷检测即可对贴片电阻的印刷破洞不良缺陷、表面脏污不良缺陷和印刷偏移不良缺陷进行实时快速的检测。【主权项】1.，该方法包括: 步骤1:采集清晰的贴片电阻基板表面图像； 步骤2:对图像感兴趣区域进行提取:根据不同工艺区域的颜色不同，进行颜色分割，分割为:电阻图像、电极图像、剥离线图像； 步骤3:对剥离线图像进行定位处理，确定垂直方向和水平方向的剥离线，并将其作为定位线；并根据线的角度进行适当的旋转，使定位线呈垂直或水平分布； 步骤4:对电阻图像和电极图像分别进行图形匹配检测，以获得不良区域； 步骤5:根据定位线与电阻图像、电极图像的中心距离，来判断电阻与电极的偏移情况。2.如权利要求1所述的，其特征在于所述步骤I采用多组图像采集装置分别采集贴片电阻基板表面各区域清晰图像，再对获得图像进行拼接，以得到完整的贴片电阻基板表面图像。【专利摘要】该专利技术公开了,属于贴片电阻技术邻域，尤其涉及图像处理领域。采集清晰的贴片电阻基板表面图像；对图像感兴趣区域进行提取：根据不同工艺区域的颜色不同，进行颜色分割，分割为：电阻图像、电极图像、剥离线图像；对剥离线图像进行定位处理，确定垂直方向和水平方向的剥离线，并将其作为定位线；并根据线的角度进行适当的旋转，使定位线呈垂直或水平分布；对电阻图像和电极图像分别进行图形匹配检测，以获得不良区域；根据定位线与电阻图像、电极图像的中心距离，来判断电阻与电极的偏移情况。从而具有保证质量标准化、规范法，并能极大的提高生产效率，能够及时在生产制程中及时对产品进行检测，提升企业对产品的检测力度，指导生产，满足大规模生产的需要。【IPC分类】G01N21/88【公开号】CN105181706【申请号】CN201510611338【专利技术人】张静, 曾振, 雷皓婷, 王祥舟, 倪光明, 杜晓辉, 刘娟秀, 刘霖, 刘永, 叶玉堂 【申请人】电子科技大学【公开日】2015年12月23日【申请日】2015年9月23日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基板上的贴片电阻不良缺陷检测方法，该方法包括：步骤1：采集清晰的贴片电阻基板表面图像；步骤2：对图像感兴趣区域进行提取：根据不同工艺区域的颜色不同，进行颜色分割，分割为：电阻图像、电极图像、剥离线图像；步骤3：对剥离线图像进行定位处理，确定垂直方向和水平方向的剥离线，并将其作为定位线；并根据线的角度进行适当的旋转，使定位线呈垂直或水平分布；步骤4：对电阻图像和电极图像分别进行图形匹配检测，以获得不良区域；步骤5：根据定位线与电阻图像、电极图像的中心距离，来判断电阻与电极的偏移情况。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张静，曾振，雷皓婷，王祥舟，倪光明，杜晓辉，刘娟秀，刘霖，刘永，叶玉堂，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川;51