一种环状铸件下芯尺寸控制装置及下芯尺寸控制方法制造方法及图纸

技术编号:12462008 阅读:61 留言:0更新日期:2015-12-06 11:45
本发明专利技术涉及铸造技术领域内一种环状铸件下芯尺寸控制装置及下芯尺寸控制方法。其中,环状铸件下芯尺寸控制装置,包括垂直设置的回转轴,所述回转轴底部设有固定座,所述回转轴上固定设有回转轴承,所述回转轴承的外圈固定设有连接架,所述连接架上固定连接有横梁,所述横梁的末端固定连接竖梁,所述竖梁下部固定连接卡板,所述卡板形状与环形铸件型腔的径向轮廓相适配。本发明专利技术的装置,可以精确控制大型环状铸件下芯过程中各组合砂芯的下芯尺寸位置精度,并且有效减少下芯时重复调整砂芯位置、尺寸和反复测量的工艺过程,简化下芯操作流程。

【技术实现步骤摘要】
一种环状铸件下芯尺寸控制装置及下芯尺寸控制方法
本专利技术涉及砂芯铸造过程中的下芯过程尺寸控制
,特别涉及一种环状铸件下芯尺寸控制装置及下芯尺寸控制方法。
技术介绍
大型环状铸件造型时,通常使用组芯造型的方法,即以两个或者多个砂芯组合的方式进行造型。大型环状铸件如常见的水轮机上冠、下环类铸件,矿山机械齿圈铸件等,直径大多都在4000mm以上,形状结构简单,直径大,因为此类铸件壁厚小,完全采用实样造型的话,模具壁厚小,强度会比较低。所以,常采用外轮廓实样模具和内腔砂芯相结合或者砂芯完全组芯造型的方法来进行铸造生产。对于此类铸件,组芯造型时需制作胎板作为下芯基准,而且造型过程需要翻箱,但铸件尺寸大,所需砂箱大,在翻箱时易裂箱,且翻箱后放置砂箱时不易将砂箱调平,会导致下芯基准面发生错台、倾斜等问题,使下芯尺寸产生严重偏差,并增加模具制作和造型过程的工艺成本。同时,组芯造型下芯时,砂芯局部不平整,不易被发现,会导致铸件局部壁厚不均匀的现象;或者由于铸件轮廓尺寸大,砂芯定位基准产生错偏,使整体铸型变形,导致后期铸件变形;再或者下芯时砂芯之间的间隙控制不均,容易产生大的披缝。这样一来,下芯本文档来自技高网...
一种环状铸件下芯尺寸控制装置及下芯尺寸控制方法

【技术保护点】
一种环状铸件下芯尺寸控制装置,其特征在于,包括垂直设置的回转轴,所述回转轴底部设有固定座,所述回转轴上固定设有回转轴承,所述回转轴承的外圈固定设有连接架,所述连接架上固定连接有横梁,所述横梁的末端固定连接竖梁,所述竖梁下部固定连接卡板,所述卡板形状与环形铸件型腔的径向轮廓相适配。

【技术特征摘要】
1.一种采用环状铸件下芯尺寸控制装置的控制方法,所述环状铸件下芯尺寸控制装置包括垂直设置的回转轴,所述回转轴底部设有固定座,所述回转轴上固定设有回转轴承,所述回转轴承的外圈固定设有连接架,所述连接架上固定连接有横梁,所述横梁的末端固定连接竖梁,所述竖梁下部固定连接卡板,所述卡板形状与环形铸件型腔的径向轮廓相适配;其特征在于,所述控制方法包括如下过程:(a)根据环状铸件的环状型腔的回转半径,固定连接环状铸件下芯尺寸控制装置的各部件,使卡板内侧和外侧轮廓的回转半径分别与铸件的环状型腔的径向内侧和外侧相应的回转半径相等;(b)验证卡板的位置精度:在卡板表面取两个检测点,其中检测点一位于卡板径向内侧的上部,检测点二位于卡板径向外侧的下部,沿回转轴转动横梁每隔45°分别测量检测点一和检测点二距回转轴中心的距离,以验证卡板沿回转轴转动一周的同轴度,若各检测点的同轴度小于1mm,则合格,若各检测点的同轴度大于1mm则重新调整卡...

【专利技术属性】
技术研发人员:李朝东苏志东程亚军
申请(专利权)人:共享铸钢有限公司
类型:发明
国别省市:宁夏;64

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