测量叶片振幅的方法和系统技术方案

本发明专利技术提供了测量叶片振幅的方法和系统。测量叶片振幅的方法包括：产生表示叶片信息的微波信号；从所述微波信号中确定叶片叶尖的位置；以及根据所确定的叶片叶尖的位置来确定叶片的振幅。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及叶片振动测量
.，更具体地涉及测量叶片振幅的方法和系统。
技术介绍
在对叶片进行疲劳强度试验中，通常在叶片上粘贴应变片，通过监视应变片连接的应变计的电压输出变化进而推导出叶片振动时的振幅变化，来监控叶片在高速旋转时的应力变化。在这种测量中，准确和安全地布置应变片以及各类测试引线和供电引线是困难的。此外，这种测量方法不能准确实时地反映涡轮机在工作条件下叶片的状态。
技术实现思路
在一方面中，本公开提供了一种测量叶片振幅的方法，所述方法包括：产生表示叶片信息的微波信号；从微波信号中确定叶片叶尖的位置；以及根据所确定的叶片叶尖的位置来确定叶片的振幅。在另一方面中，本公开提供了一种测量叶片振幅的系统，该系统包括：叶片信息产生装置，该叶片信息产生装置产生表示叶片信息的微波信号；叶片信息处理装置，该叶片信息处理装置从微波信号中确定叶片叶尖的位置；以及叶片振幅确定装置，该叶片振幅确定装置根据所确定的叶片叶尖的位置来确定叶片的振幅。附图说明本专利技术上面提到的特征和优点以及其他特征和优点，以及获得这些特征和优点的方式将变得显而易见，并且通过结合附图参照以下对本专利技术的实施例的描述，本专利技术将更好地被理解，其中：图1示出了根据本专利技术一个实施例的测量叶片振幅的方法的流程图；图2示出了根据本专利技术一个实施例的从微波信号中确定叶片叶尖的位置的过程的流程图；r>图3示出了根据本专利技术一个实施例的从叶片叶尖的位置确定叶片振幅的过程的流程图；图4示出了根据本专利技术一个实施例的测量叶片振幅的系统的示意图；图5示出了根据本专利技术一个实施例的叶片信息产生装置的示意框图；以及图6示出了根据本专利技术一个实施例的叶片信息处理装置的示意框图。具体实施方式下面的详细描述被呈现以使本领域技术人员能够做出和使用这些实施例。具体实施例及应用的详细描述仅被提供作为示例，而对本领域技术人员来说各种修改是显而易见的。在不背离实施例的范围的情况下，本文所述的一般原则可被应用于其他应用。因此，这些实施例不限于所示出的那样，而被赋予与本文所描述的原则和特征相一致的最宽的范围。出于清晰的目的，与涉及实施例的
已知的技术材料有关的细节不再被详细描述。图1示出了根据本专利技术一个实施例的测量叶片振幅的方法的流程图。如图所示，该方法100包括以下步骤：步骤S101，产生表示叶片信息的微波信号。在一个实施例中，通过微波辐射装置向叶片辐射微波，并通过微波辐射装置接收叶片反射的微波信号，该微波信号将被用在确定叶片的振幅中。在一个实施例中，微波辐射装置可以为能够辐射微波的天线探头。步骤S102，从微波信号中确定叶片叶尖的位置。应理解，这里所描述的“叶片叶尖的位置”并不是叶片叶尖的物理位置，而是指叶片在旋转过程中通过微波辐射装置那时的时刻位置。也就是说，确定叶片叶尖的位置实际上是从微波信号中识别出这样的时刻位置。图2示出了根据本专利技术一个实施例的从微波信号中确定叶片叶尖的位置的具体过程。如图2所示，在步骤S1021，从微波信号中提取表示叶片叶尖的信息。在一个实施例中，所述提取利用了模式识别法。在模式识别法中，可以根据叶片叶尖距微波辐射装置的间隙数据以及叶片叶尖通过微波辐射装置的时间所形成的外形轮廓(例如，波形的波峰、波谷、幅值、斜率)来识别各个叶片叶尖的信息。具体地，在模式识别法中，首先识别所采集的微波信号的波形的全部波峰和波谷，具体地，计算整段微波信号的幅值平均值，通过判断在一小段微波信号上最大值与平均值的距离大于或小于最小值与平均值的距离来判断叶片叶尖信息处于微波信号的波峰或波谷；然后可将幅值(以整段微波信号的幅值平均值为参考)满足一定阈值要求的波峰或波谷且波峰或波谷两边的斜率满足一定阈值要求的波峰或波谷识别为叶片叶尖信息的位置。接下来，在表示叶片叶尖的信息被提取出之后，在步骤S1022，基于所提取出的表示叶片叶尖的信息来确定每个旋转周期中每个叶片叶尖的重心位置。在实际微波波形中，由于波峰和波谷并不总是规则的形状，因此可以通过重心法更加确切地确定每个叶片叶尖的位置。具体地，根据叶片叶尖所处的波峰或波谷，以每个叶片叶尖信息中的最大值或最小值为起点以一个阈值来截取一段波形，根据所截取的这段波形的每个点的幅值及其对应的位置来确定这段波形的重心位置，即确定出准确的叶片叶尖的位置。返回图1，在步骤S103，根据所确定的叶片叶尖的位置来确定叶片的振幅。图3示出了根据本专利技术一个实施例的从叶片叶尖的位置确定叶片振幅的过程的流程图。如图3所示，在步骤S1031，通过移动平均值法来确定每个叶片叶尖在各周期的相对位置偏移(如上所述，本公开中所描述的“叶片叶尖的位置”实际上是叶片在旋转过程中通过微波辐射装置那时的时刻位置。因此，应理解，“相对位置偏移”、实际上是叶片叶尖所对应的相对时间偏移)。具体地，针对各个叶片，将该叶片的前面若干叶片的叶尖重心位置和后面若干叶片的叶尖重心位置的平均值作为参考点，将该叶片的叶尖重心位置与参考点之间的差值来确定作为该叶片的相对时间偏移。应理解，针对某个叶片，“若干”的数量可以由设计人员根据需要宋设置。例如，当叶片包括有42个叶片时，针对某个叶片，可以将前21个叶片和后20个叶片的叶尖重心位置的平均值作为参考点。接下米，在步骤S1032，针对各个叶片，通过将该叶片的相对时间偏移乘以叶片叶尖线速度宋获得该叶片叶尖的相对位移。叶片叶尖线速度可以通过叶片叶尖的重心位置宋确定，如后面详细描述。之后，在步骤S1033，针对各个叶片，将多个旋转周期的该叶片的相对位移的最大值和最小值相减，以获得该叶片的最终振幅。如上，根据本公开的测量叶片振幅的方法100，通过微波非接触的方式获得叶片振动微波信号，从微波信号中确定多个旋转周期中每个叶片的叶尖重心位置，进而基于叶片叶尖重心位置宋确定出叶片叶尖的相对位移，最终获得叶片叶尖的最终振幅。下面将描述用于实时上述方法的测量叶片振幅的系统。图4示出了根据本专利技术一个实施例的测量叶片振幅的系统400的示意图。如图4所示，该测量叶片振幅的系统400包括：叶片信息产生装置401、叶片信息处理装置402和叶片振幅确定装置403。叶片信息产生装置401产生表示叶片信息的微波信号。在一个实施例中，叶片信息产生装置401可以包括叶片部分4011和微波辐射装置4012，如图5所示。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量叶片振幅的方法，所述方法包括：产生表示叶片信息的微波信号；从所述微波信号中确定叶片叶尖的位置；以及根据所确定的叶片叶尖的位置来确定叶片的振幅。

【技术特征摘要】
1.一种测量叶片振幅的方法，所述方法包括：
产生表示叶片信息的微波信号；
从所述微波信号中确定叶片叶尖的位置；以及
根据所确定的叶片叶尖的位置来确定叶片的振幅。
2.根据权利要求1所述的测量叶片振幅的方法，其中，产生表示叶片
信息的微波信号包括：通过微波辐射装置向叶片辐射微波并接收叶片反射
的微波信号。
3.根据权利要求1所述的测量叶片振幅的方法，其中从所述微波信号
中确定叶片叶尖的位置包括：从所述微波信号中提取表示叶片叶尖的信
息。
4.根据权利要求3所述的测量叶片振幅的方法，其中，所述提取利用
模式识别法。
5.根据权利要求4所述的测量叶片振幅的方法，其中，所述模式识别
法包括：
识别所述微波信号的波形中的全部波峰与波谷；以及
以所述微波信号的波形的幅值平均值为参考将幅值满足一定幅值阈值
要求的波峰或波谷并且波峰或波谷两边的斜率满足一定斜率阈值要求的波
峰或波谷确定为表示叶片叶尖的信息。
6.根据权利要求3所述的测量叶片振幅的方法，其中从所述微波信号
中确定叶片叶尖的位置还包括：基于所提取的表示叶片叶尖的信息来确定
每个旋转周期中每个叶片叶尖的重心位置。
7.根据权利要求6所述的测量叶片振幅的方法，其中，确定每个叶片
叶尖的重心位置包括：根据叶尖信息所在波谷或波峰，以每个叶片叶尖信
息中的最小值或最大值为基点以一个阈值来截取一段波形，根据所截取波
形中的每个点的幅值及其对应的位置来确定每个叶片叶尖的重心位置。
8.根据权利要求6所述的测量叶片振幅的方法，其中根据所确定的叶
片叶尖的位置来确定叶片的振幅包括：针对各个叶片，将该叶片的前面若

\t干叶片的叶尖重心位置和后面若干叶片的叶尖重心位置的平均值与该叶片
叶尖的重心位置的差值确定作为该叶片的相对时间偏移。
9.根据权利要求8所述的测量叶片振幅的方法，其中，根据所确定的
叶片叶尖的位置来确定叶片的振幅还包括：针对各个叶片，将该叶片的相
对时间偏移乘以叶片叶尖线速度来获得该叶片的相对位移。
10.根据权利要求9所述的测量叶片振幅的方法，其中，所述叶片叶尖
线速度通过以叶轮的周长除以叶片旋转周期来确定。
11.根据权利要求10所述的测量叶片振幅的方法，其中，所述旋转周
期通过某叶片叶尖的重心位置与相隔叶片总数的重心位置之间的差来确
定。
12.根据权利要求11所述的测量叶片振幅的方法，其中，所述旋转周
期被确定为通过各个叶片叶尖的重心位置确定的旋转周期的平均值。
13.根据权利要求9所述的测量叶片振幅的方法，其中根据所确定的叶
片叶尖的位置来确定叶片的振幅还包括：针对各个叶片，将多个旋转周期
的该叶片的相对位移的最大值和最小值相减，将差值确定作为该叶片的最
终振幅。
14.一种测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：聂泳忠，殷俊，
申请(专利权)人：厦门乃尔电子有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35