一种耦合测角仪零点的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:12389349 阅读:136 留言:0更新日期:2015-11-25 22:33
本发明专利技术提供一种耦合测角仪零点的方法及装置。在与θ轴和2θ轴刚性垂直连接的蜗轮上同时设置同心迴摆机构,在光学零点确定后,迴摆机构上的挡片大范围调整,与固定的光电开关感应后,确定机械零点,实现零点耦合。本发明专利技术结构巧妙,同心迴摆机构上的档片与高精度光电开关共同作用,精确耦合机械零点和光学零点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种精度调节装置,属于光谱遥感探测
,具体涉及一种耦合测角仪零点的方法及装置
技术介绍
测角仪是X射线荧光光谱仪的核心部件,其测量精度直接影响光谱仪的分析精度。目前测角仪耦合零点的方法主要是使用挡片和光电开关,X射线准直器固定安装在测角仪的法兰盘上,分光晶体安装在θ轴上,探测器安装在2θ轴上,x射线经过X射线准直器为光学零点方向,此时如果不装分光晶体,所有射线被探测器全部接收,此时探测器处于光学零点位置,则可确定2θ轴机械零点的位置。如果照射在分光晶体上,一半被探测器接受,则可确定θ轴机械零点的位置。这时θ蜗轮和2θ蜗轮上使用挡片和固定在法兰上的光电开关联动则可将机械零点位置固定,两个零点进行了耦合。现有的机械调零方法是使用调整挡片位置来实现的,将挡片的固定孔开大,使其有一定的空间调整量,在光学零点确定下来后,在θ蜗轮和2θ蜗轮上安装挡片进行机械零点确定,通过挡片上开大的固定孔来调整挡片的合理位置,使挡片刚好触动光电开关完成机械调零。缺点是挡片调整范围的转动中心与蜗轮不是同心圆,挡片不在半径的延长线上,以斜切方式而非平行方式进入光电开头的光敏范围,进而影响光电开关的探测精度,大大减低了机械零点的固定精度,无法与光学零点的实现最佳耦合。
技术实现思路
本专利技术的目的是提高机械零点挡片调整精度,为实现这一目的本专利技术提供了如下的技术方案:一种耦合测角仪零点的方法,设置同心迴摆机构,将同心迴摆机构上的挡片转动中心与θ和2θ轴同心,通过改变迴摆机构的位置,实现光学零点和机械零点的耦合。包括如下步骤:S1、确定光学零点:实心2θ轴为主轴,一端固定2θ蜗轮,在主轴上安装空心θ轴,θ蜗轮固定在θ轴上,二者一起安装在固定的法兰盘上;以法兰盘为界,θ轴的另一端安装有分光晶体架,上面安装有分光晶体,分光晶体表面在轴心线上;2θ轴另一端安装探测器,随2θ轴转动而转动;光学准直器固定在法兰盘上;首先不安装分光晶体架,在光学准直器上固定安装一激光器,这时转动2θ蜗轮使探测器能接收到激光器的光斑,此时为2θ蜗轮的光学零点位置;然后安装上分光晶体架,在分光晶体架上安装有分光晶体,转动θ蜗轮使分光晶体刚好遮挡住一半的激光光斑,分光晶体面与激光光线平行,此时为θ蜗轮的光学零点位置;S2、机械调零:当2θ蜗轮光学零点位置确定后,在2θ蜗轮上调整同心迴摆机构,使其正好触动光电开关,从而确定2θ蜗轮上机械零点的位置,该位置与光学零点完全重合,实现2θ轴的光学零点和机械零点耦合;当θ蜗轮光学零点位置确定后,在θ蜗轮上调整同心迴摆机构,使其正好触动光电开关,从而确定θ蜗轮上机械零点的位置,该位置与光学零点完全重合,实现θ轴的光学零点和机械零点耦合。进一步的,在2θ蜗轮上设置工艺孔,由于θ蜗轮在内侧,在2θ蜗轮零点耦合后,通过2θ蜗轮上的工艺孔对θ蜗轮上的同心迴摆机构进行调整,使同心迴摆机构正好触动光电开关,此时,分光晶体刚好遮挡住一半的激光光斑,分光晶体面与激光光线平行,即θ轴的光学零点和机械零点耦合。一种耦合测角仪零点的装置,包括依次设置在主轴2θ蜗轮轴上的2θ蜗轮和θ蜗轮轴,所述θ蜗轮轴上设有θ蜗轮、法兰盘,所述法兰盘的一面设有光学准直器,另一面设有蜗杆箱;所述法兰盘、θ蜗轮和2θ蜗轮的圆心重合,设置在主轴的一端,所述分光晶体架、光学准直器和射线探测器设置在主轴的另一端;所述分光晶体架上固定安装多块分光晶体,所述光学准直器通过传动部件安装在所述法兰盘上,所述射线探测器通过传动部件安装在所述2θ蜗轮轴上,随着所述2θ蜗轮轴的转动而转动;所述θ蜗轮和2θ蜗轮上分别设有同心迴摆机构,所述同心迴摆机构内设有固定件,所述蜗杆箱上设有光电开关,调节所述同心迴摆机构可以使得所述同心迴摆机构与所述光电开关相触发;同心迴摆机构触碰到所述光电开关时,光源发出的射线正好经过所述光学准直器和所述分光晶体被所述射线探测器接收,光学零点和机械零点重合。优选的,所述同心迴摆机构上设有挡片,所述挡片触碰到所述光电开关时,光源发出的射线正好经过所述光学准直器和所述分光晶体被所述射线探测器接收,光学零点和机械零点重合。优选的,所述挡片包括片体、内槽和光电开关触发块,所述光电开关触发块设于所述片体的一端,所述光电开关触发块触碰到所述光电开关时,光源发出的射线正好经过所述光学准直器和所述分光晶体被所述射线探测器接收,光学零点和机械零点重合。优选的,所述2θ蜗轮上设有若干工艺孔,转动所述2θ蜗轮使得所述工艺孔对准所述θ蜗轮上的同心迴摆机构,调节θ蜗轮上的所述同心迴摆机构的位置。本专利技术的有益效果是:本专利技术同心迴摆机构的调整圆与蜗轮同心,在调整过程中,同心迴摆机构上的挡片时刻都是在蜗轮圆的半径方向,与光电开关配合精密,机械调零精度高。克服了挡片调整范围的转动中心与θ蜗轮和2θ蜗轮不是同心圆,无法精确的使挡片在半径的延长线上,进而影响光电开关的探测,使机械零点的固定精度大大减低,与光学零点的耦合不好的问题。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的限制。在附图中:图1是本专利技术结构示意图;图2是本专利技术装置截面图;图3是机械零点与光学零点重合时激光器、光学准直器、分光晶体以及探测器所处状态的结构示意图;图4是光电开关结构示意图;图5是同心迴摆机构挡片结构示意图。具体实施方式如图1-5所示,本专利技术公开一种耦合测角仪零点的方法及装置。设置同心迴摆机构,将同心迴摆机构上的挡片调整范围的转动中心与θ蜗轮和2θ蜗轮设置在一个同心圆上。包括如下步骤:S1、确定光学零点:实心2θ轴为主轴,一端固定2θ蜗轮,在主轴上安装空心θ轴,θ蜗轮固定在θ轴上,二者一起安装在固定的法兰盘上;以法兰盘为界,θ轴的另一端安装有分光晶体架,上面安装有分光晶体,分光晶体表面在轴心线上;2θ轴另一端安装探测器,随2θ轴转动而转动;光学准直器固定在法兰盘上;首先不安装分光晶体架,在光学准直器上固定安装一激光器,这时转动2θ蜗轮使探测器能接收到激光器的光斑,此时为2θ蜗轮的光学零点位置;然后安装上分光晶体架,在分光晶体架上安装有分光晶体,转动θ蜗轮使分光晶体刚好遮挡住一半的激光光斑,分光晶体面与激光光线平行,此时为θ蜗轮的光学零点位置;S本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种耦合测角仪零点的方法,其特征在于,设置同心迴摆机构,将同心迴摆机构上的挡片转动中心与θ和2θ轴同心,通过改变迴摆机构的位置,实现光学零点和机械零点的耦合。

【技术特征摘要】
1.一种耦合测角仪零点的方法,其特征在于,设置同心迴摆机构,将同
心迴摆机构上的挡片转动中心与θ和2θ轴同心,通过改变迴摆机构的位置,
实现光学零点和机械零点的耦合。
2.根据权利要求1所述的一种耦合测角仪零点的方法,其特征在于,包
括如下步骤:
S1、确定光学零点:实心2θ轴为主轴,一端固定2θ蜗轮,在主轴上安
装空心θ轴,θ蜗轮固定在θ轴上,二者一起安装在固定的法兰盘上;以法兰
盘为界,θ轴的另一端安装有分光晶体架,上面安装有分光晶体,分光晶体表
面在轴心线上;2θ轴另一端安装探测器,随2θ轴转动而转动;光学准直器
固定在法兰盘上;首先不安装分光晶体架,在光学准直器上固定安装一激光器,
这时转动2θ蜗轮使探测器能接收到激光器的光斑,此时为2θ蜗轮的光学零
点位置;然后安装上分光晶体架,在分光晶体架上安装有分光晶体,转动θ蜗
轮使分光晶体刚好遮挡住一半的激光光斑,分光晶体面与激光光线平行,此时
为θ蜗轮的光学零点位置;
S2、机械调零:当2θ蜗轮光学零点位置确定后,在2θ蜗轮上调整同心
迴摆机构,使其正好触动光电开关,从而确定2θ蜗轮上机械零点的位置,该
位置与光学零点完全重合,实现2θ轴的光学零点和机械零点耦合;当θ蜗轮
光学零点位置确定后,在θ蜗轮上调整同心迴摆机构,使其正好触动光电开关,
从而确定θ蜗轮上机械零点的位置,该位置与光学零点完全重合,实现θ轴的
光学零点和机械零点耦合。
3.根据权利要求1所述的一种耦合测角仪零点的方法,其特征在于,在2
θ蜗轮上设置工艺孔,由于θ蜗轮在内侧,在2θ蜗轮零点耦合后,通过2θ

\t蜗轮上的工艺孔对θ蜗轮上的同心迴摆机构进行调整,使同心迴摆机构正好触
动光电开关,此时,分光晶体刚好遮挡住一半的激光光斑,分光晶体面与激光
光线平行,即θ轴的光学零点和机械零点耦合。
4.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄俊杰杨彬殷靓陈春霞刘文涛
申请(专利权)人:中国地质调查局南京地质调查中心
类型:发明
国别省市:江苏;32

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