浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备，涉及浅层不良地质体分布技术领域，方法包括分别获取目标区域在第一时期的图像和第二时期的图像；分别提取第一时期的图像和第二时期的图像中的分类特征；根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果；以及根据提取的分类特征采用第二分类器将第二时期的图像进行地物分类，得到第一地物分类结果；根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图；本发明专利技术能够方便、快捷、经济地得到浅层不良地质体分布图，方法简单高效，易于实现。

【技术实现步骤摘要】
浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备
本专利技术涉及浅层不良地质体分布获取
，尤其是涉及一种浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备。
技术介绍
伴随随着城市的发展，人类活动影响强度及范围越来越大，暗浜不良地质条件逐渐成为后期河道整治、轨道交通、管道工程、市政道路、桥梁工程等线性工程建设中的质量隐患。因此，从工程建设安全角度、生态环境修复等方面考虑，查明暗浜的深度、成因、分布范围，为勘察布孔、生态环境修复提供基础依据尤其迫切，意义重大。目前，近年来，我国专门性的暗浜不良地质体调查工作在上海、杭州等经济发达地区开展过，暗浜等不良地质条件调查勘察一般都是在遇到暗浜时，利用钻探、开挖等手段，另外收集以往资料、物探等方法进行前期调查评价。由于暗浜整体上分布零散范围广、单个面积小等特点，施工过程中遇到偶然性太大，并且在无资料的基础上使用小螺旋钻、钻探等方法，工作量巨大，并且带有很大的盲目性，难以解决查明暗浜分布范围问题。收集资料主要采用收集老版本的地形图，与场地现状地形图进行对比，但是大比例尺、早期地形图少且只有局部地区，利用该方法调查暗浜分布范围推广具有一定局限性。物探方法进行暗浜调查主要有高密度电法、二维微动剖面探测法、瞬态瑞雷波法等，这些方法具有较好的探测效果，能满足工程精度要求，但是工作量大、费用高，难以广泛推广应用。因此，以上方法对于暗浜不良地质体调查发展起到了很好的推动作用，但是以上方法并不能快捷、方便、经济的获取暗浜分布。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备，能够方便、快捷、经济地得到浅层不良地质体分布图，方法简单高效，易于实现。第一方面，实施例提供一种浅层不良地质体分布获取方法，包括：分别获取目标区域在第一时期的图像和第二时期的图像；分别提取第一时期的图像和第二时期的图像中的分类特征；根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果；以及根据提取的分类特征采用第二分类器将第二时期的图像进行地物分类，得到第一地物分类结果；根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图。在可选的实施方式中，所述浅层不良地质体为暗浜；所述第一时期的图像和所述第二时期的图像均为遥感图像；根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果包括：根据提取的分类特征采用第一分类器将第一时期的图像和第二时期的图像分别分类为水体区域和非水体区域；根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图包括：将第一时期的图像中分类为水体区域而在第二时期的图像中分类为非水体区域的区域作为暗浜区域；将暗浜区域按第一地物分类结果进行地物分类标记，并展示在图像上，得到暗浜分布图。在可选的实施方式中，所述分类特征包括颜色特征和纹理特征；其中，所述颜色特征包括RGB特征和近红外波特征，采用灰度共生矩阵获取所述纹理特征。在可选的实施方式中，所述第一分类器和第二分类器分别为SVM分类器；分别提取第一时期的图像和第二时期的图像中的分类特征的步骤之前还包括：对第一时期的图像和第二时期的图像进行几何校正，以使第一时期的图像和第二时期的图像的空间坐标一致。在可选的实施方式中，所述浅层不良地质体为厚填土，所述方法还包括：分别获取第三时期和第四时期目标区域的数字高程图；根据第按时期的数字高程图与第四时期的数字高程图得到高程差值图；将高程差值图按预设阈值进行分类，得到填土厚度分布图；提取第四时期的图像中的分类特征；根据提取的第四时期图像的分类特征采用第二分类器将第四时期的数字高程图进行地物分类，得到第二地物分类结果；将填土厚度分布图按第二地物分类结果进行地物分类标记，并展示在图像上，得到厚填土地物分布图。第二方面，实施例提供一种浅层不良地质体分布获取装置，包括：获取模块，用于分别获取目标区域在第一时期的图像和第二时期的图像，并分别对第一时期的图像和第二时期的图像进行预处理；特征提取模块，用于分别提取第一时期的图像和第二时期的图像中的分类特征；分类模块，用于根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果；以及根据提取的分类特征采用第二分类器将第二时期的图像进行地物分类，得到第一地物分类结果；展示模块，用于根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图。在可选的实施方式中，所述浅层不良地质体为暗浜；所述第一时期的图像和所述第二时期的图像均为遥感图像；所述分类模块还用于根据提取的分类特征采用第一分类器将第一时期的图像和第二时期的图像分别分类为水体区域和非水体区域；所述展示模块还用于将第一时期的图像中分类为水体区域而在第二时期的图像中分类为非水体区域的区域作为暗浜区域；将暗浜区域按第一地物分类结果进行地物分类标记，并展示在图像上，得到暗浜分布图。在可选的实施方式中，所述分类特征包括颜色特征和纹理特征；其中，所述颜色特征包括RGB特征和近红外波特征，采用灰度共生矩阵获取所述纹理特征。第三方面，实施例提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述前述实施方式任一项所述的方法的步骤。第四方面，实施例提供一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读介质，所述程序代码使所述处理器执行所述前述实施方式任一项所述方法。本专利技术提供的浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备，采用数据挖掘的方法获取目标区域两个时期的图像，并提取图像中的特征，结合第一分类器获取浅层不良地质体区域分类结果，结合第二分类器对两个时期的图像进行地物分类，得到第一地物分类结果；然后将根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图；本专利技术采用数据挖掘的方法识别出浅层不良地质体区域，并进行地物分类标记，得到浅层不良地质体分布图，能够大大降低工作量，成本低廉，简单方便，易于实现。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的浅层不良地质体分布获取方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的浅层不良地质体分布获取方法的获取暗浜分布的流程图；图3为本专利技术实施例提供的浅层不良地质体分布获取方法的暗浜分布图；图4为本专利技术实施例提供的浅层不良地质体分布获取方法的暗浜土地覆被类型图；图5为本专利技术实施例提供的浅层不良地质体分布获取方法的暗浜土地覆被类型比例本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种浅层不良地质体分布获取方法，其特征在于，包括：/n分别获取目标区域在第一时期的图像和第二时期的图像；/n分别提取第一时期的图像和第二时期的图像中的分类特征；/n根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果；以及根据提取的分类特征采用第二分类器将第二时期的图像进行地物分类，得到第一地物分类结果；/n根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图。/n

【技术特征摘要】
1.一种浅层不良地质体分布获取方法，其特征在于，包括：
分别获取目标区域在第一时期的图像和第二时期的图像；
分别提取第一时期的图像和第二时期的图像中的分类特征；
根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果；以及根据提取的分类特征采用第二分类器将第二时期的图像进行地物分类，得到第一地物分类结果；
根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述浅层不良地质体为暗浜；所述第一时期的图像和所述第二时期的图像均为遥感图像；根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果包括：
根据提取的分类特征采用第一分类器将第一时期的图像和第二时期的图像分别分类为水体区域和非水体区域；
根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图包括：
将第一时期的图像中分类为水体区域而在第二时期的图像中分类为非水体区域的区域作为暗浜区域；将暗浜区域按第一地物分类结果进行地物分类标记，并展示在图像上，得到暗浜分布图。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分类特征包括颜色特征和纹理特征；其中，所述颜色特征包括RGB特征和近红外波特征，采用灰度共生矩阵获取所述纹理特征。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一分类器和第二分类器分别为SVM分类器；分别提取第一时期的图像和第二时期的图像中的分类特征的步骤之前还包括：
对第一时期的图像和第二时期的图像进行几何校正，以使第一时期的图像和第二时期的图像的空间坐标一致。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述浅层不良地质体为厚填土，所述方法还包括：
分别获取第三时期和第四时期目标区域的数字高程图；
根据第三时期的数字高程图与第四时期的数字高程图得到高程差值图；
将高程差值图按预设阈值进行分类，得到填土厚度分布图；

【专利技术属性】
技术研发人员：张庆，李云峰，牛晓楠，周小平，侯莉莉，陆远志，葛伟亚，鲍晓明，
申请(专利权)人：中国地质调查局南京地质调查中心，
类型：发明
国别省市：江苏;32