一种轴承套尺寸检测分选装置制造方法及图纸

技术编号:12383531 阅读:65 留言:0更新日期:2015-11-25 14:49
本发明专利技术涉及一种轴承套尺寸检测分选装置。其特征在于包括一个台架,所述台架的上台面倾斜,所述上台面的四周设置有围栏,所述上台面上从上向下依次设置有上平板,中平板和下平板,所述上平板上放置待检零件。本发明专利技术设置了滑动板,相当于把中平板分成待检区和已检区,待检区的零件从滑动板的倾斜的上表面滑向,滑动板与围栏的缺口,进入已检区,滑动板在重力与待检区上的零件的挤压,向下运动,迫使每个零件都压到下公差检测栅上接受检测,在摆动杆的推力下,滑动杆向上运动,从而实现往复来回摆动。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种轴承套尺寸检测分选装置
技术介绍
轴承在生活和工业中应用广泛,其数量也比较大,每一批的订单也会比较多,这样给检验工作带来了很多的不便。类似于轴承套这样的规则的零件,市面的检测设备也有很多,本申请提出了一种新的检测分选装置。
技术实现思路
针对现有技术中存在的问题,本专利技术的目的在于提供一种轴承套尺寸检测分选装置的技术方案。所述的一种轴承套尺寸检测分选装置,包括一个台架,所述台架的上台面倾斜,所述上台面的四周设置有围栏,所述上台面上从上向下依次设置有上平板,中平板和下平板,所述上平板上放置待检零件,所述上平板与所述中平板之间设置有上公差检测栅,所述上公差检测栅的外侧端与所述围栏交汇处设置有第一出口,所述中平板与所述下平板之间设置有下公差检测栅,所述下公差检测栅的外侧端与所述围栏交汇处设置有第二出口。所述上公差检测栅为T形长条,并在其上切割出若干个第一凸柱,所述第一凸柱之间的最小间距为待检零件的最大公差值。所述下公差检测栅为T形长条,并在其上切割出若干个第二凸柱,所述第二凸柱之间的最小间距为待检零件的最小公差值。所述下公差检测栅的上方设置有滑动板,所述的滑动板的两端架设在所述围栏上,所述滑动板的上侧面倾斜,所述滑动板的内侧端与所述围栏的内侧面不相连,所述滑动板的外侧端设置在所述第一出口的上方。所述下公差检测栅的上方设置有摆动杆,所述摆动杆上设置在若干个摆钩,所述摆钩设置两个所述第二凸柱之间,并可推动零件。所述上平板的上设置有用来防止待检零件跳出的盖板。本专利技术与现有技术相比,具有如下有益效果:1)在上平板上的待检零件在重力的作用下向下运动,尺寸超过第一凸柱之间的最小间距的,会被卡在两个第一凸柱之间,为尺寸偏大的不合格品,需要手动摘取,尺寸小于第一凸柱的最小间距的,通过上公差检测栅进入到中平板上,完成最大公差值的检测;在中平板上的等检零件在重力作用下向下运动,尺寸大于第二凸柱的最小间距的,从第一出口出去,为合格产品;尺寸小于第二凸柱的最小间距的,从第二出口出去,为尺寸偏小的不合格产品;2)设置了滑动板,相当于把中平板分成待检区和已检区,待检区的零件从滑动板的倾斜的上表面滑向,滑动板与围栏的缺口,进入已检区,滑动板在重力与待检区上的零件的挤压,向下运动,迫使每个零件都压到下公差检测栅上接受检测,在摆动杆的推力下,滑动杆向上运动,从而实现往复来回摆动;3)设置了摆动杆与摆动钩,卡在两个第二凸柱之间的零件可以被推出,以防卡住。【附图说明】图1是本专利技术的结构示意图。【具体实施方式】下面结合说明书附图对本专利技术做进一步说明: 轴承套尺寸检测分选装置,主要用来检测圆管套类零件的外径是否超过最大公差,或小于最小公差,并分选出不合格的产品,包括一个台架1,台架I的上台面2倾斜,上台面2的四周设置有围栏3,上台面2上从上向下依次设置有上平板4、中平板5和下平板6,上平板4上放置待检零件,上平板4与中平板5之间设置有上公差检测栅7,上公差检测栅7的外侧端与围栏3交汇处设置有第一出口 8,下方可以设置有一个接零件的框体,中平板5与下平板6之间设置有下公差检测栅9,下公差检测栅9的外侧端与围栏3交汇处设置有第二出口 10,下方可以设置有一个接零件的框体,上平板4的上设置有用来防止待检零件跳出的盖板14 ;上公差检测栅7为T形长条,并在其上切割出多个第一凸柱7A,第一凸柱7A之间的最小间距为待检零件的最大公差值;下公差检测栅9为T形长条,并在其上切割出多个第二凸柱9A,第二凸柱9A之间的最小间距为待检零件的最小公差值,整块材料切割制成,精度高,比可调节的精度要高;在上平板4上的待检零件在重力的作用下向下运动,尺寸超过第一凸柱之间的最小间距的,会被卡在两个第一凸柱7A之间,为尺寸偏大的不合格品,需要手动摘取,尺寸小于第一凸柱7A的最小间距的,通过上公差检测栅7进入到中平板5上,完成最大公差值的检测;在中平板5上的等检零件在重力作用下向下运动,尺寸大于第二凸柱9A的最小间距的,从第一出口 8出去,为合格产品;尺寸小于第二凸柱9A的最小间距的,从第二出口 10出去,为尺寸偏小的不合格产品。下公差检测栅9的上方设置有滑动板11,滑动板的两端架设在围栏3上,围栏中可以开设缺口,来规范滑动板的规迹,滑动板11的上侧面倾斜,滑动板11的内侧端与围栏3的内侧面不相连,滑动板11的外侧端设置在第一出口 8的上方;设置了滑动板,相当于把中平板分成待检区和已检区,待检区的零件从滑动板的倾斜的上表面滑向,滑动板与围栏的缺口,进入已检区,滑动板在重力与待检区上的零件的挤压,向下运动,迫使每个零件都压到下公差检测栅上接受检测,在摆动杆的推力下,滑动杆向上运动,从而实现往复来回摆动。下公差检测栅9的上方设置有摆动杆12,与凸轮连杆机构相连,摆动杆12上设置在多个摆钩13,摆钩13设置两个第二凸柱8A之间,并可推动零件;设置了摆动杆与摆动钩,卡在两个第二凸柱之间的零件可以被推出,防止第二凸柱8A之间的通道被堵塞。【主权项】1.一种轴承套尺寸检测分选装置,其特征在于包括一个台架(I),所述台架(I)的上台面(2)倾斜,所述上台面(2)的四周设置有围栏(3),所述上台面(2)上从上向下依次设置有上平板(4)、中平板(5)和下平板(6),所述上平板(4)上放置待检零件,所述上平板(4)与所述中平板(5)之间设置有上公差检测栅(7),所述上公差检测栅(7)的外侧端与所述围栏(3)交汇处设置有第一出口(8),所述中平板(5)与所述下平板(6)之间设置有下公差检测栅(9),所述下公差检测栅(9)的外侧端与所述围栏(3)交汇处设置有第二出口(10)。2.如权利要求1所述一种轴承套尺寸检测分选装置,其特征在于所述上公差检测栅(7)为T形长条,并在其上切割出若干个第一凸柱(7A),所述第一凸柱(7A)之间的最小间距为待检零件的最大公差值。3.如权利要求1所述一种轴承套尺寸检测分选装置,其特征在于所述下公差检测栅(9)为T形长条,并在其上切割出若干个第二凸柱(9A),所述第二凸柱(9A)之间的最小间距为待检零件的最小公差值。4.如权利要求2或3所述一种轴承套尺寸检测分选装置,其特征在于所述下公差检测栅(9)的上方设置有滑动板(11),所述的滑动板的两端架设在所述围栏(3)上,所述滑动板(11)的上侧面倾斜,所述滑动板(11)的内侧端与所述围栏(3)的内侧面不相连,所述滑动板(11)的外侧端设置在所述第一出口(8)的上方。5.如权利要求2或3所述一种轴承套尺寸检测分选装置,其特征在于所述下公差检测栅(9)的上方设置有摆动杆(12),所述摆动杆(12)上设置在若干个摆钩(13),所述摆钩(13)设置两个所述第二凸柱(8A)之间,并可推动零件。6.如权利要求2或3所述一种轴承套尺寸检测分选装置,其特征在于所述上平板(4)的上设置有用来防止待检零件跳出的盖板(14)。【专利摘要】本专利技术涉及一种轴承套尺寸检测分选装置。其特征在于包括一个台架,所述台架的上台面倾斜,所述上台面的四周设置有围栏,所述上台面上从上向下依次设置有上平板,中平板和下平板,所述上平板上放置待检零件。本专利技术设置了滑动板,相当于把中平板分成待检区和已检区,待检区的零件从滑动板的倾斜的上表面滑本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种轴承套尺寸检测分选装置,其特征在于包括一个台架(1),所述台架(1)的上台面(2)倾斜,所述上台面(2)的四周设置有围栏(3),所述上台面(2)上从上向下依次设置有上平板(4)、中平板(5)和下平板(6),所述上平板(4)上放置待检零件,所述上平板(4)与所述中平板(5)之间设置有上公差检测栅(7),所述上公差检测栅(7)的外侧端与所述围栏(3)交汇处设置有第一出口(8),所述中平板(5)与所述下平板(6)之间设置有下公差检测栅(9),所述下公差检测栅(9)的外侧端与所述围栏(3)交汇处设置有第二出口(10)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:梁立红
申请(专利权)人:新昌县天顺机械有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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