本实用新型专利技术提供一种光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置。光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置，包括固定三脚架、支撑滑轨和试样容器放置槽，所述支撑滑轨通过前支撑柱与固定三脚架相连，所述支撑滑轨通过后支撑柱固定在平台上，所述试样容器放置槽通过底部安装有滑轮的连杆柱设置在支撑滑轨上，所述试样容器放置槽通过滑轮可在支撑滑轨上滑动。采用实用新型专利技术的输送装置输送测试样品，避免了采用试样钳取放样品造成的温区定位不准，夹取过程中熔体流动干扰析晶测试的影响，同时降低夹取不稳造成试样跌落损伤和熔体高温灼伤等风险因素；能够方便地实现对样品温度梯度分布测试，更加真实方便地进行校验，从而提高玻璃析晶性能测试的准确性。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种输送装置，特别是涉及一种光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置。
技术介绍
由于玻璃处于介稳状态，在熔体冷却成型的过程中，玻璃系统具有自发放热转化为内能较低的晶体的倾向，会析晶，严重影响玻璃性能。因此，析晶性能的测定，对于玻璃研发，生产和品质管理具有重要意义。目前一般采用梯度炉对玻璃析晶性能进行测试，测试过程中需要将一节玻璃试样装载在样品容器内，放入梯度炉进行保温后，取出强制冷却测试。由于梯度炉通常为封闭柱体构造，样品容器只能通过试样钳夹持放入和取出。在取放过程中，由于炉体结构限制，采用试样钳取放非常不方便，容易造成试样放置倾斜，放置位置与温区无法准确对应，特别是从炉体中把高温熔融试样取出时，采用试样钳取样，受高温影响，容易造成容器倾斜，熔体流动，严重干扰熔体析晶，还存在跌落，灼伤的风险。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种光学玻璃析晶性能测试样品的输送 目.ο本技术解决技术问题所采用的技术方案是:光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置，包括固定三脚架、支撑滑轨和试样容器放置槽，所述支撑滑轨通过前支撑柱与固定三脚架相连，所述支撑滑轨通过后支撑柱固定在平台上，所述试样容器放置槽通过底部安装有滑轮的连杆柱设置在支撑滑轨上，所述试样容器放置槽通过滑轮可在支撑滑轨上滑动。所述固定三脚架、支撑滑轨、试样容器放置槽、前支撑柱、后支撑柱以及连杆柱采用铸铁制成。在所述支撑滑轨上设置有标尺刻线。所述试样容器放置槽顶部加盖有烧结陶瓷薄片遮蔽。在所述试样容器放置槽内设置有热电偶。本技术的有益效果是:采用光学玻璃析晶性能测试样品输送装置输送测试样品，避免了采用试样钳取放样品造成的温区定位不准，夹取试样过程中熔体流动干扰析晶测试的影响，同时降低夹取不稳造成试样跌落损伤和熔体高温灼伤等风险因素，减小操作难度；能够方便地实现对样品温度梯度分布测试，更加真实方便地进行校验，从而提高玻璃析晶性能测试的准确性。【附图说明】图1是本技术的结构示意图。【具体实施方式】如图1所示，本技术的玻璃析晶性能测试样品输送装置主要由固定三脚架1、支撑滑轨2和试样容器放置槽3组成。支撑滑轨2通过前支撑柱4与固定三脚架I相连，支撑滑轨2通过后支撑柱5固定在平台上。试样容器放置槽3通过底部安装有滑轮8的连杆柱6设置在支撑滑轨2上，试样容器放置槽3通过滑轮8可在支撑滑轨2上滑动。固定三脚架1、支撑滑轨2、试样容器放置槽3、前支撑柱4、后支撑柱5以及连杆柱6最好采用稳固性好的铸铁制成。支撑滑轨2上设置有标尺刻线，试样容器放置槽3在支撑滑轨2上的滑动距离可以通过标尺刻线准确判读，方便定位试样所处的温区，确保试样放置位置与温区的准确对应。试样容器放置槽3根据试样尺寸制作，槽内可直接放置试样，也可放置其它容器，这样可以提高对高腐蚀性试样测试的可靠性。试样容器放置槽3顶部还可加盖烧结陶瓷薄片，在保证温度传导的同时，有效遮蔽，排除外界粉渣影响，以及降低熔体高温挥发。工作时，固定三脚架I安装固定在梯度炉炉门上，支撑滑轨2通过前支撑柱4与固定三脚架I相连，通过后支撑柱5固定在平台上后，调整好位置，使试样容器放置槽3对准梯度炉炉门。然后将试样容器放入试样容器放置槽3内，推动试样容器放置槽3在支撑滑轨2上滑动前行，将试样送入梯度炉内。保温结束后，再推动试样容器放置槽3在支撑滑轨2上反向滑动，使得试样容器放置槽3退出梯度炉，取出试样强制析晶。由于光学玻璃析晶性能测试对温度梯度精度要求比较高，一般梯度炉的校正是将热电偶插入炉体内测试校准。测试的炉体温度并不完全代表样品容器内的试样温度，存在一定误差。为了提高试样温度控制的准确性，本技术还可在试样容器放置槽3内设置热电偶，通过滑动配合热电偶可实现对样品容器内温度梯度分布的测试，绘制温度分布曲线，更加真实方便地对样品温度梯度进行校验，提高光学玻璃析晶性能测试的准确性。【主权项】1.光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置，其特征在于:包括固定三脚架(I)、支撑滑轨(2)和试样容器放置槽(3)，所述支撑滑轨(2)通过前支撑柱(4)与固定三脚架(I)相连，所述支撑滑轨(2)通过后支撑柱(5)固定在平台上，所述试样容器放置槽(3)通过底部安装有滑轮(8)的连杆柱(6)设置在支撑滑轨(2)上，所述试样容器放置槽(3)通过滑轮(8)可在支撑滑轨(2)上滑动。2.如权利要求1所述的光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置，其特征在于:所述固定三脚架(I)、支撑滑轨(2)、试样容器放置槽(3)、前支撑柱(4)、后支撑柱(5)以及连杆柱(6)采用铸铁制成。3.如权利要求1所述的光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置，其特征在于:在所述支撑滑轨(2)上设置有标尺刻线。4.如权利要求1所述的光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置，其特征在于:所述试样容器放置槽(3)顶部加盖有烧结陶瓷薄片遮蔽。5.如权利要求1所述的光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置，其特征在于:在所述试样容器放置槽(3)内设置有热电偶。【专利摘要】本技术提供一种光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置。光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置，包括固定三脚架、支撑滑轨和试样容器放置槽，所述支撑滑轨通过前支撑柱与固定三脚架相连，所述支撑滑轨通过后支撑柱固定在平台上，所述试样容器放置槽通过底部安装有滑轮的连杆柱设置在支撑滑轨上，所述试样容器放置槽通过滑轮可在支撑滑轨上滑动。采用技术的输送装置输送测试样品，避免了采用试样钳取放样品造成的温区定位不准，夹取过程中熔体流动干扰析晶测试的影响，同时降低夹取不稳造成试样跌落损伤和熔体高温灼伤等风险因素；能够方便地实现对样品温度梯度分布测试，更加真实方便地进行校验，从而提高玻璃析晶性能测试的准确性。【IPC分类】G01N35/10, G01N25/00【公开号】CN204789608【申请号】CN201520537435【专利技术人】周佺佺 【申请人】成都光明光电股份有限公司【公开日】2015年11月18日【申请日】2015年7月23日本文档来自技高网...
【技术保护点】
光学玻璃析晶性能测试样品的输送装置，其特征在于：包括固定三脚架(1)、支撑滑轨(2)和试样容器放置槽(3)，所述支撑滑轨(2)通过前支撑柱(4)与固定三脚架(1)相连，所述支撑滑轨(2)通过后支撑柱(5)固定在平台上，所述试样容器放置槽(3)通过底部安装有滑轮(8)的连杆柱(6)设置在支撑滑轨(2)上，所述试样容器放置槽(3)通过滑轮(8)可在支撑滑轨(2)上滑动。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：周佺佺，
申请(专利权)人：成都光明光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51
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