一种微位移测试系统用AD转换电路技术方案

本实用新型专利技术公开了一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容和AD转换芯片，其中基准电压源芯片包括四个引脚，即第一至第四引脚，其中第一引脚和第二引脚通过第一电容连接，第三引脚与极性电容的正极连接，极性电容的负极与模拟地连接；AD转换芯片包括十个引脚，即第五至第十四引脚，其中第五引脚与极性电容的正极连接，第八引脚与模拟地连接，第六引脚与第八引脚通过第二电容连接，第十四引脚与第八引脚通过第三电容连接，第十至第十三引脚与上位机连接，第九引脚与电源地连接，其技术效果是：能够提高微位移的测量精度，降低功耗、减小噪声，减少输出电压迟滞和长期输出电压漂移。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种AD转换电路，尤其涉及一种微位移测试系统用AD转换电路。
技术介绍
AD转换电路是用来通过一定的电路将模拟量转变为数字量，AD转换电路只要完成模拟直流电压到数字量的转换。一般，单片机都包含AD转换电路，因为单片机内部的AD转换电路的转换位数通常不高，普通单片机一般为8位AD转换电路，例如STC12C5630AD也有AD转换功能，其AD转换电路的AD转换位数为10位，而AD转换位数直接决定了系统的测量精度，为了实现高微位移的测量精度，必须专门设置单独的高分辨率的AD转换电路。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术的缺陷，提供一种微位移测试系统用AD转换电路，其能够提高微位移的测量精度，降低功耗、减小噪声，减少输出电压迟滞和长期输出电压漂移。实现上述目的的一种技术方案是:一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容、AD转换芯片，其中:所述基准电压源芯片包括四个引脚，第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚，其中所述第一电容的两端对应与所述第一引脚和所述第二引脚连接，所述第三引脚与所述极性电容的正极连接，所述极性电容的负极与模拟地连接；所述AD转换芯片包括十个引脚，第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚和第十四引脚，其中所述第五引脚与所述极性电容的正极连接，所述第八引脚与模拟地连接，所述第二电容的两端对应连接所述第六引脚与所述第八引脚，所述第三电容的两端对应连接所述第八引脚和所述第十四引脚，所述第十引脚、所述第十一引脚、所述第十二引脚和所述第十三引脚与上位机连接，所述第九引脚与电源地相连。进一步的，所述基准电压源芯片为亚诺德公司的ADR4550芯片。进一步的，所述AD转换芯片为亚诺德公司的AD7988芯片。采用了本技术的一种微位移测试系统用AD转换电路的技术方案，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容和AD转换芯片，其中所述基准电压源芯片包括四个引脚，即第一至第四引脚，其中所述第一引脚和所述第二引脚通过第一电容连接，所述第三引脚与所述极性电容的正极连接，所述极性电容的负极与模拟地连接；所述AD转换芯片包括十个引脚，即第五至第十四引脚，其中所述第五引脚与所述极性电容的正极连接，所述第八引脚与模拟地连接，所述第六引脚与所述第八引脚通过所述第二电容连接，所述第十四引脚与所述第八引脚通过所述第三电容连接，所述第十至所述第十三引脚与上位机连接，所述第九引脚与电源地连接。其技术效果是:能够提高微位移的测量精度，降低功耗、减小噪声，减少输出电压迟滞和长期输出电压漂移。【附图说明】图1为本技术一种微位移测试系统用AD转换电路的原理图。【具体实施方式】为了使本
的技术人员能更好地理解本技术的技术方案，下面结合附图对其【具体实施方式】进行详细地说明:请参阅图1，本技术的一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容3、基准电压源芯片1、极性电容4、第二电容5、第三电容6、AD转换芯片2，其中:基准电压源芯片I包括四个引脚，第一引脚11、第二引脚12、第三引脚13和第四引脚14，其中，第一电容3的两端对应与第一引脚11和第二引脚12连接，第三引脚13与极性电容4的正极连接，极性电容4的负极与模拟地连接。AD转换芯片2包括十个引脚，第五引脚21、第六引脚22、第七引脚23、第八引脚24、第九引脚25，第十引脚26、第^^一引脚27、第十二引脚28、第十三引脚29、第十四引脚210。其中第五引脚21与极性电容4的正极连接，使AD转换芯片2获得基准输入电压。第八引脚24与模拟地连接。第二电容5的两端对应连接第六引脚22和第八引脚24，第六引脚22作为AD转换芯片2的输入电源。第三电容6的两端对应连接第十四引脚210和第八引脚24，第三电容6作为AD转换芯片2的输入/输出接口的输入电源；第十引脚26、第^^一引脚27、第十二引脚28和第十三引脚29与上位机7连接，其中第十引脚26为AD转换输入接口 ；第^^一引脚27为串行输出接口，AD转换的结果通过第i^一引脚27输出；第十二引脚28为串行时钟输入接口 ；第十三引脚29为串行输入接口。第九引脚25与电源地相连。本技术的一种微位移测试系统用AD转换电路在使用时，将亚诺德公司的ADR4550芯片作为基准电压源芯片1，ADR4550是高精度、低功耗、低噪声基准电压源，最大初始误差为±0.02%，具有出色的温度稳定性和低输出噪声。ADR4550芯片，精度、温度稳定性好，抗噪声性能佳，输出电压迟滞低，长期输出电压漂移低，提高了本技术一种微位移测试系统用AD转换电路在寿命和温度范围内的精度。该基准电压源芯片I的第一引脚11连接+6￥电源，第二引脚12接地，第三引脚13与AD转换芯片2的第五引脚21连接，为AD转换芯片2提供高精度基准电压。AD转换芯片2采用亚诺德公司16位模数转换器AD7988，其第五引脚21接收AD转换芯片2提供的高精度基准电压，该第五引脚21经10 μ F极性电容4去耦后连接模拟地。其第六引脚22接+2.5V直流电源，为AD转换芯片2供电。其第七引脚23为模拟输入引脚，接收模拟输入信号。其第十三引脚29为串行输入引脚，若第十三引脚29在十引脚26上升沿期间为低电平，则选择链模式。此模式下，第十三引脚29输入，将模数转换结果以菊花链方式传输到第i^一引脚27上；若第十三引脚29在第十引脚26上升沿期间为高电平，则选择CS模式。此模式下，第十一引脚27或第十三引脚29在低电平时均可使第十一引脚27串行输出信号。在信号采集阶段，AD转换芯片2采集第七引脚23和第八引脚24输入的模拟信号。当采集阶段完成且第十引脚26变为高电平时，进入转换阶段。转换阶段通过AD转换芯片2内部的比较器的比较后产生输出码。若此时选择链模式，则经第十一引脚27将数字信号输出至上位机7 ;若此时选择CS模式，则经第^^一引脚27和第十三引脚29共同将数字信号输出至上位机7。综上所述，本技术的一种微位移测试系统用AD转换电路，能够提高微位移的测量精度，降低功耗、减小噪声，减少输出电压迟滞和长期输出电压漂移。本
中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本技术，而并非用作为对本技术的限定，只要在本技术的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变型都将落在本技术的权利要求书范围内。【主权项】1.一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容、AD转换芯片，其特征在于: 所述基准电压源芯片包括四个引脚，第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚，其中所述第一电容的两端对应与所述第一引脚和所述第二引脚连接，所述第三引脚与所述极性电容的正极连接，所述极性电容的负极与模拟地连接； 所述AD转换芯片包括十个引脚，第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚和第十四引脚，其中所述第五引脚与所述极性电容的正极连接，所述第八引脚与模拟地连接，所述第二电容的两端对应连接所述第六引脚与所述第八引脚，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容、AD转换芯片，其特征在于：所述基准电压源芯片包括四个引脚，第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚，其中所述第一电容的两端对应与所述第一引脚和所述第二引脚连接，所述第三引脚与所述极性电容的正极连接，所述极性电容的负极与模拟地连接；所述AD转换芯片包括十个引脚，第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚和第十四引脚，其中所述第五引脚与所述极性电容的正极连接，所述第八引脚与模拟地连接，所述第二电容的两端对应连接所述第六引脚与所述第八引脚，所述第三电容的两端对应连接所述第八引脚和所述第十四引脚，所述第十引脚、所述第十一引脚、所述第十二引脚和所述第十三引脚与上位机连接，所述第九引脚与电源地相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李荣正，戴国银，陈学军，
申请(专利权)人：上海工程技术大学，
类型：新型
国别省市：上海;31