本发明专利技术涉及半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序。提供一种即使在由于噪声导致检测信号发生变化的情况下也能够精度良好地检测对触摸面板的接触状态的半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序。本实施方式的显示系统（10）的检测部（20）在输出信号距基准信号的变化量大并且输出信号的振幅的波动大的情况下，检测出触摸面板（12）的接触状态为接触。此外，本实施方式的显示系统（10）的检测部（20）在输出信号距基准信号的变化量小并且输出信号的振幅的波动小的情况下，检测出触摸面板（12）的接触状态为非接触。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序。
技术介绍
通常，作为触摸面板，使用静电电容型的触摸面板。进行检测用户对触摸面板的接触状态。已知由于荧光灯或其它的电磁波等干扰噪声的影响而进行错误工作。因此，存在减少干扰噪声的技术。(例如，参照专利文献I。)。此外，已知在触摸面板表面出现水滴的情况下进行错误工作。因此，存在减少该错误工作的技术(例如，参照专利文献2)。现有技术文献专利文献 专利文献1:日本特开2011 - 8724号公报； 专利文献2:日本特开2008-112334号公报。专利技术要解决的问题 然而，在上述专利文献I所记载的技术中，以检测信号成为包含起因于外部接近物体的存在的正负非对称的信号分量的极性交变信号的方式进行驱动信号的施加控制，当不使用极性交变信号时不谋求干扰噪声的减少。此外，在专利文献2所记载的技术中，例如，在用于便携式终端的情况下，存在当触摸面板振动时由于水滴活动所以进行错误工作的担忧。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述的问题而提出的，其目的在于，提供一种即使在由于噪声导致检测信号发生变化的情况下也能够精度良好地检测对触摸面板的接触状态的半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序。用于解决课题的方案 为了达成上述目的，本专利技术的半导体装置具备检测部，所述检测部取得由将从静电电容型的触摸面板的接触检测用的电极输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号，比较所述输出信号和基准信号，在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下，基于所述输出信号的时间变化，检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触。本专利技术的显示系统具备:显示部，基于图像信号显示图像；静电电容型的触摸面板；模拟数字变换部，输出将从所述触摸面板的接触检测用的电极输出的检测信号变换为数字信号的输出信号；以及本专利技术的半导体装置，取得从所述模拟数字变换部输出的输出信号，检测对所述触摸面板的接触状态。本专利技术的检测方法具备:通过检测部取得由将从静电电容型的触摸面板的接触检测用的电极输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号的步骤；以及通过所述检测部比较所述输出信号和基准信号而在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下基于所述输出信号的时间变化来检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触的步骤。本专利技术的检测程序使计算机执行处理，所述处理包含:取得由将从静电电容型的触摸面板的接触检测用的电极输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号；比较所述输出信号和基准信号，在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下，基于所述输出信号的时间变化，检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触。专利技术效果 根据本专利技术，起到以下这样的效果:即使在由于噪声导致检测信号发生变化的情况下，也能够精度良好地检测对触摸面板的接触状态。【附图说明】图1是示出本实施方式的显示系统的一个例子的概略结构图。图2是用于说明从A/D变换部输出的输出信号从接触向非接触的变化的波形图的具体例。图3是将静电电容型的触摸面板接近至距荧光灯5cm的位置并将该荧光灯的开关设为接通状态的情况下的从A/D变换部输出的输出信号的波形图的具体例。图4是对图3所示的波形求取移动平均的移动平均值的波形图的具体例。图5是对本实施方式的触摸面板的接触状态为非接触的情况下的输出信号的波形图的具体例。图6是对本实施方式的触摸面板的接触状态为接触的情况下的输出信号的波形图的具体例。图7是由本实施方式的检测部执行的检测处理的一个例子的流程图。图8是用于说明本实施方式的触摸面板中的接触状态的变化的输出信号的波形图的具体例。图9是在本实施方式的触摸面板的接触状态为非接触的情况下产生上述的那样的干扰噪声的情况下的输出信号的波形图的具体例。【具体实施方式】在以下，参照附图对本实施方式详细地进行说明。首先，对本实施方式的显示系统的结构进行说明。在图1中示出本实施方式的显示系统的概略结构图。如图1所示那样，本实施方式的显示系统10具备:触摸面板12、显示器14、A/D变换部(模拟/数字变换部)16、寄存器18、以及检测部20。作为显示系统10的具体例，可举出智能手机或平板终端等携带式设备、个人计算机的显示器、以及其它的显示设备。触摸面板12是静电电容型的触摸面板中的被称为投影型的种类的触摸面板。静电电容型的触摸面板12矩阵状地配置有用于检测由用户造成的接触状态(接触或非接触)的省略了图示的检测电极(检测电路基板上的电极焊盘等)。作为公开的技术的显示部的一个例子的显示器14与触摸面板12整体构成。作为显示器14的具体的一个例子，可举出液晶等。再有，显示器14也可以与触摸面板12个别地设置。A/D变换部16具有将从触摸面板12输出的模拟的检测信号变换为数字信号并将输出信号向寄存器18输出的功能。检测信号与由触摸面板12的检测电极检测的电压电平对应。寄存器18具有暂时储存从A/D变换部16输出的输出信号的功能。作为公开的技术的半导体装置的一个例子的检测部20具有基于经由寄存器18从A/D变换部16取得的输出信号来检测对触摸面板12的接触状态的功能。当用户与触摸面板12的表面接触时，将检测电极与用户的指尖作为电极的电容器作为寄生电容相对于接地形成。由于形成了寄生电容，所以，静电电容增加，在从检测电极输出的检测信号中产生电压降。在检测部20中具有除了基于该电压降之外还基于输出信号的振幅来检测对触摸面板12的接触状态的功能。再有，本实施方式的检测部20具备用于使取得的输出信号平滑化的移动平均滤波器，并基于输出信号的移动平均值检测接触状态。检测部20 具备 CPU22、R0M24、以及 RAM26。CPU22、R0M24 以及 RAM26 经由总线 28彼此连接。CPU22具有通过控制检测部20执行存储在R0M24中的检测程序来检测接触状态的功能。此外，R0M24具有存储检测程序的功能。本实施方式的RAM26例如为NVRAM (NonVolatile RAM:非易失性的RAM)等非易失性的RAM。RAM26具有存储基准信号的功能。基准信号是用于检测接触状态的基准信号，是在对触摸面板12非接触的情况下的信号。在本实施方式中，作为具体的一个例子，在触摸面板12的制造时，在还是非接触时，导入从A/D变换部16经由寄存器18输入的初始值的信号，并作为基准信号预先存储到RAM26中。此夕卜，在RAM26中，预先存储有在后面叙述细节的阈值THl?TH4。接着，对本实施方式的检测部20的作用进行说明。<当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种半导体装置，其中，具备检测部，所述检测部取得由将从静电电容型的触摸面板输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号，比较所述输出信号和基准信号，在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下，基于所述输出信号的时间变化，检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：漆贵弘，
申请(专利权)人：拉碧斯半导体株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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