本发明专利技术提供一种光学透镜、透镜单元、摄像模块、电子设备、以及光学透镜的制造方法、透镜成型模、透镜成型模的形状校正方法。本发明专利技术的光学透镜的制造方法即使在需要非球面透镜等的高精确度的加工精度的情况下，也不会牺牲透镜性能而可靠且以高精确度简单地得到设计时预期的透镜表面形状。具备具有折射力的透镜部的光学透镜(11)在透镜部的有助于成像的透镜有效光学面内具有从透镜部的表面凹陷形成的凹状标志(33、35、37、39)。将这些凹状标志(33、35、37、39)设为宽度为0.05μm以上且14μm以下、凹陷的深度为0.05μm以上且5μm以下。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光学透镜、透镜单元、摄像模块、电子设备、以及光学透镜的制造 方法、透镜成型模、透镜成型模的形状校正方法。
技术介绍
-般使用根据规定的透镜设计值制作的透镜成型模制造光学透镜的成型品时，所 成型的光学透镜的形状未必一定与透镜设计值相同。这是因为受到成型品在冷却过程中的 原料本身的收缩、或由成型形状而发生的应力等的影响。 因此，为了成型如透镜设计值般的光学透镜，使用透镜成型模成型光学透镜之后， 测定该成型的光学透镜的形状，并进行根据测定结果作成适合于透镜成型模的形状的校正 加工。例如，专利文献1、2中记载有如下：在透镜成型模的透镜有效部的外侧设置标记，并 测定转印有该标记的透镜成型品的表面形状；及计算表面形状的测定值与设计值的偏差即 形状误差，并根据该形状误差的信息校正透镜成型模的形状。 专利文献3中记载有如下内容：使用具有凹部形状的标记的测试用透镜成型模， 测试成型转印有标记的带转印标志的透镜成型品，并使用该透镜成型品的转印标志测定透 镜曲面形状；及根据测定出的透镜曲面形状计算校正信息，再次制作用于本次使用的透镜 成型模。 以往技术文献 专利文献 专利文献1 :日本专利公开平8-216272号公报 专利文献2 :日本专利第3973430号公报 专利文献3 :国际公开第2005/115712号
技术实现思路
专利技术的概要 专利技术要解决的技术课题 近年来，光学透镜中通常使用非球面的透镜。当透镜成型品的透镜面为非球面形 状时，其非球面部分厚度不均匀或为湾曲的形状，因此透镜成型品在成型加工的冷却阶段 发生不均匀的收缩。因此，为了将透镜成型模的非球面形状以高精确度转印到成型品，需要 准确掌握透镜成型模的非球面形状与成型品的非球面形状之差，两者存在差异时需进行透 镜成型模的校正加工。但是，专利文献1、2的方法中，由于在透镜的非有效光学面设有标 记，因此无法直接求出透镜的光学有效面内的位移量。因此，无法得知透镜的准确的收缩状 态，难以进行成型模的校正加工。 并且，专利文献3的方法中，即使根据校正信息制作用于本次使用的透镜成型模， 通过该透镜成型模成型的透镜成型品有时也无法成为设计时预期的表面形状。当制作用于 本次使用的透镜成型模时，与将成型模夹紧（chucking)在与制作测试用透镜成型模时相 同的模具加工机的情况不同，将与测试用成型模不同的其他成型模重新夹紧。并且，也会有 利用与加工测试用成型模的工具不同的工具进行加工的情况。因此，就成型模的形状再现 性而言，模具加工机的夹紧精确度或工具的种类或磨耗状态等各种加工条件发生变化而未 必一定能够得到如期的面精确度。并且，需要制作多个成型模，存在成型工序变繁杂的缺 点。 本专利技术是根据这种背景而完成的，其目的在于提供一种即使在需要非球面透镜等 的高精度的加工精度的情况下，也不会牺牲透镜性能而可靠且以高精度得到设计时预期的 透镜表面形状，并且能够简化使用透镜成型模的成型工序的光学透镜、透镜单元、摄像模 块、电子设备、以及光学透镜的制造方法、透镜成型模、透镜成型模的形状校正方法。 用于解决技术课题的手段 本专利技术由下述结构构成。 (1) 一种光学透镜，其具备具有折射力的透镜部，其中， 在上述透镜部的有助于成像的透镜有效光学面内具有从上述透镜部的表面凹陷 形成的凹状标志， 上述凹状标志的宽度为0.05 μ m以上且14 μ m以下，凹陷的深度为0.05 μ m以上 且5 μm以下。 (2) -种透镜单元，其中，至少1片上述光学透镜保持于透镜支架。 (3) -种摄像模块，其具备： 上述透镜单元；及 摄像部，通过上述透镜单元拍摄被摄体。 (4) -种电子设备，其搭载有上述摄像模块。 (5) -种光学透镜的制造方法，其使用具有透镜形状的转印面的透镜成型模成型 光学透镜，其中， 上述透镜成型模具有从上述透镜形状的转印面向外侧突出形成的凸状转印部，通 过该凸状转印部，在透镜部的有助于成像的透镜有效光学面内成型具有从上述透镜部的表 面凹陷的凹状标志的光学透镜， 将上述凹状标志的宽度形成为0.05 μπι以上且14 μπι以下，凹陷的深度形成为 0. 05 μ m以上且5 μ m以下。 (6) -种透镜成型模，上述透镜成型模用于上述光学透镜的制造方法。 (7) -种上述透镜成型模的形状校正方法，其中， 使用根据表示规定的透镜表面形状的透镜形状设计数据来制作的上述透镜成型 模，成型具有上述凹状标志的光学透镜， 检测所成型的上述光学透镜的上述凹状标志的位置，求出表示上述光学透镜的透 镜表面形状的表面形状实测数据， 比较上述表面形状实测数据和上述透镜形状设计数据，求出使上述光学透镜的表 面形状与基于上述透镜形状设计数据的表面形状一致的差量数据， 根据将上述透镜形状设计数据利用上述差量数据进行了校正的透镜形状校正数 据，再次制作上述透镜成型模。 专利技术效果 根据本专利技术，即使在需要非球面透镜等的高精度的加工精度的情况下，也不会牺 牲透镜性能而可靠且以高精度得到设计时预期的透镜表面形状。并且，能够简化使用透镜 成型模的成型工序。【附图说明】 图1是用于说明本专利技术的实施方式的透镜成型模和光学透镜的剖视图，图IA是表 示透镜成型模的闭模状态的说明图，图IB是表示在开模状态下取出光学透镜的情况的说 明图。 图2是光学透镜的剖视图。 图3是表示凹状标志的配置图案的光学透镜的俯视图。 图4是表示凹状标志的剖面形状的剖视图。 图5是表示透镜成型模的制作和光学透镜的成型为止的顺序的流程图。 图6是作为模具加工装置的一例的结构图。 图7A、图7B是表示工件加工情况的工序说明图。 图8是示意地表示通过形状测定装置进行透镜部的形状测定的情况的说明图。 图9是示意地表示触针销针对光学透镜的扫描方式的说明图。 图IOA~图IOC是各种凹状标志的剖视图。 图11是表不凹状标志的另一配置图案的光学透镜的俯视图。 图12是示意地表示触针销针对光学透镜的另一扫描方式的说明图。 图13是表示以放射状延伸的凹状标志的俯视图。 图14是表示作为光学透镜的柱面透镜的立体图。 图15是表示摄像模块的结构图。 图16是表示凹状标志的槽面积相对于透镜有效光学面的面积所占的比率与MTF 下降率之间的关系的曲线图。【具体实施方式】 以下，参考附图对本专利技术的实施方式进行详细说明。 图1是用于说明本专利技术的实施方式的透镜成型模和光学透镜的剖视图，（A)是表 示透镜成型模的闭模状态的说明图，（B)是表示在开模状态下取出光学透镜的情况的说明 图。 如图1㈧所示，透镜成型模100具有成型圆盘状的光学透镜11的上模13和下模 15。光学透镜11是附图中成为上侧的一个透镜表面17和成为下侧的另一个透镜表面19 呈相互不同形状的由透明树脂构成的新月形透镜。 图I (B)所不的上模13和下模15分别具有转印光学透镜11的一个透镜表面17 的透镜转印部21和转印另一个透镜表面19的透镜转印部23。 在上模13的透镜转印部21，从转印面向外侧突出形成有详细内容后述的多个凸 状转印部25、27,在下模15的透镜转印部23,从转印面向外侧突出形成有详细内容后述的 多个凸状转印部29、31。这些多个凸状转印部25、27、29、31分别将详细内容后述本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光学透镜，其具备具有折射力的透镜部，其中，在所述透镜部的有助于成像的透镜有效光学面内具有从所述透镜部的表面凹陷形成的凹状标志，所述凹状标志的宽度为0.05μm以上且14μm以下，凹陷的深度为0.05μm以上且5μm以下。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：井藤英周，松本齐也，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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