一种便携式光敏传感器光电性能的测试装置制造方法及图纸

技术编号:12265104 阅读:80 留言:0更新日期:2015-10-29 22:18
本实用新型专利技术公开了一种便携式光敏传感器光电性能的测试装置,该测试装置包括封闭外壳,高精度数显表,数显调节装置,全封闭光通路,光源,光电参数控制系统和连接线,封闭外壳由底座,围板和盖板组成;围板由前后左右四块面板组成;高精度数显表嵌在前面板上;高精度数显表由数显电流表和数显照度表组成;数显调节装置由数显电压调节装置、数显光照度调节装置组成;全封闭光通路和光电参数控制系统通过定位夹持机构固定在底座上。本实用新型专利技术通过全封闭光通路精确的光学设计,达到完全屏蔽外部光线的目的,可替代传统的光敏传感器测试暗室,尺寸却大大缩小,可随身携带,使用简便,易操作,输入数字可控,输出显示精准,测试结果精度高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光敏传感器的测试装置,具体为一种便携式光敏传感器光电性能的测试装置
技术介绍
常用的光敏传感器光电性能的测试都是在光学暗室中进行的,该光学暗室一般由硬质铝合金骨架,覆盖材料(可选特制有机亚克拉玻璃及黑色绒布)搭建而成,内设测试平台,尺寸至少要允许一个测试人员在其内部进行正常测试,往往体积较大,而且为避免光线进入暗室,必须要注意暗室的封闭,使测试人员处于密闭的工作环境中,工作条件差,工作效率低。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足,提供了一种便携式光敏传感器光电性能的测试装置,测试过程中,输入数字可控,输出显示精准,测试效果符合国家相关标准,提高了测试精度,改善了测试人员的工作环境,提高了工作效率,且装置体积小,便于携带。本技术是通过以下技术方案来实现的:—种便携式光敏传感器光电性能的测试装置,该测试装置包括封闭外壳,高精度数显表,数显调节装置,全封闭光通路,光源,光电参数控制系统和连接线,所述的封闭外壳由底座,围板和盖板组成;所述围板由前后左右四块面板组成;所述的高精度数显表和数显调节装置嵌在前面板上;所述数显调节装置由数显电压调节装置和数显光照度调节装置组成;所述全封闭光通路和光电参数控制系统通过定位夹持机构固定在底座上。进一步地,所述的高精度数显表由数显电流表和数显照度表组成。进一步地,所述数显调节装置由数显电压调节装置和数显光照度调节装置组成。进一步地,所述的全封闭光通路是经过精确的光学设计,大大缩小了测试室尺寸,还可达到甚至超越传统光学暗室测试效果的封闭结构。进一步地,所述的光源为LED背光灯或钨丝灯。进一步地,所述的光源色温控制在2000-6500K。进一步地,所述的光源电压可通过围板上的数显电压控制装置调节到0-20V的大小。进一步地,所述的光源光照度可通过围板上的数显照度控制表调节为O-lOOOLx。进一步地,所述的光敏传感器为娃光电池,光敏二极管或光敏三极管。进一步地,所述的前面板上留有测试孔,可测试贴片型或直插型的光敏传感器。与现有技术相比,本技术的有益效果是:本技术通过全封闭光通路精确的光学设计,达到完全屏蔽外部光线的目的,可替代传统的光敏传感器测试暗室,尺寸却大大缩小,可随身携带,使用简便,易操作,输入数字可控,输出显示精准,测试结果精度高。【附图说明】下面通过实施例,结合附图对本技术作进一步描述。图1为本技术的结构示意图。I为测试孔盖,2为前面板,3为数显照度表,4为测试孔,5为数显电流表,6为数显光照度调节装置,7为数显电压调节装置,8为光电参数控制系统,9为底座,10为全封闭光通路,11为盖板。【具体实施方式】下面结合附图与具体实施例来对本技术进行详细说明:如图1所示,一种便携式光敏传感器光电性能的测试装置,该测试装置包括封闭外壳,高精度数显表,数显调节装置,全封闭光通路10,光源(未图示),光电参数控制系统8和连接线(未图示);所述的封闭外壳由底座9,围板和盖板11组成;所述围板由前后左右四块面板组成;所述的高精度数显表和数显调节装置嵌在前面板2上;所述全封闭光通路10和光电参数控制系统8通过定位夹持机构(未图示)固定在底座9上。所述的高精度数显表由数显电流表5和数显照度表3组成。所述的数显调节装置由数显电压调节装置7和数显光照度调节装置6组成。所述的光源为LED背光灯或钨丝灯。所述的光敏传感器为硅光电池,光敏二极管或光敏三极管。所述的前面板2上留有测试孔4,可测试贴片型或直插型的光敏传感器。实施例一:如图1所示,全封闭光通路10中使用LED背光灯,接通外部电源,打开测试孔盖1,将待测的贴片型光敏二极管放入测试孔4内,调节数显电压调节装置7使光源电压为5V的大小,调节数显光照度调节装置6使光源光照度为1Lx的大小,通过光电参数控制系统8的控制,使得全封闭光通路10中的光照度显示在数显照度表3上,输出的光电流显示在数显电流表5上。实施例二:如图1所示,全封闭光通路10中使用钨丝灯,接通外部电源,打开测试孔盖I,将待测的直插型光敏三极管放入测试孔4内,调节数显电压调节装置7使光源电压为1V的大小,调节数显光照度调节装置6使光源光照度为20Lx的大小,通过光电参数控制系统8的控制,使得全封闭光通路10中的光照度显示在数显照度表3上,输出的光电流显示在数显电流表5上。上述实施例,只是本技术的两个实例,并不是用来限制本技术的实施与权利范围,凡与本技术权利要求所述内容相同或等同的技术方案,均应包括在本技术保护沮围。【主权项】1.一种便携式光敏传感器光电性能的测试装置,其特征在于:该测试装置包括封闭外壳,高精度数显表,数显调节装置,全封闭光通路,光源,光电参数控制系统和连接线;所述的封闭外壳由底座,围板和盖板组成;所述围板由前后左右四块面板组成;所述的高精度数显表和数显调节装置嵌在前面板上;所述全封闭光通路和光电参数控制系统通过定位夹持机构固定在底座上。2.根据权利要求1所述的便携式光敏传感器光电性能的测试装置,其特征在于:所述的高精度数显表由数显电流表和数显照度表组成。3.根据权利要求1所述的便携式光敏传感器光电性能的测试装置,其特征在于:所述的数显调节装置由数显电压调节装置和数显光照度调节装置组成。4.根据权利要求1所述的便携式光敏传感器光电性能的测试装置,其特征在于:所述的光源为LED背光灯或钨丝灯。5.根据权利要求1所述的便携式光敏传感器光电性能的测试装置,其特征在于:所述的前面板上留有测试孔,可测试贴片型或直插型的光敏传感器。【专利摘要】本技术公开了一种便携式光敏传感器光电性能的测试装置,该测试装置包括封闭外壳,高精度数显表,数显调节装置,全封闭光通路,光源,光电参数控制系统和连接线,封闭外壳由底座,围板和盖板组成;围板由前后左右四块面板组成;高精度数显表嵌在前面板上;高精度数显表由数显电流表和数显照度表组成;数显调节装置由数显电压调节装置、数显光照度调节装置组成;全封闭光通路和光电参数控制系统通过定位夹持机构固定在底座上。本技术通过全封闭光通路精确的光学设计,达到完全屏蔽外部光线的目的,可替代传统的光敏传感器测试暗室,尺寸却大大缩小,可随身携带,使用简便,易操作,输入数字可控,输出显示精准,测试结果精度高。【IPC分类】G01J1/42【公开号】CN204730939【申请号】CN201520474838【专利技术人】王鹏, 李雪, 张殿德, 郑国恩, 常飞, 常吉华 【申请人】南阳森霸光电股份有限公司【公开日】2015年10月28日【申请日】2015年7月3日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种便携式光敏传感器光电性能的测试装置,其特征在于:该测试装置包括封闭外壳,高精度数显表,数显调节装置,全封闭光通路,光源,光电参数控制系统和连接线;所述的封闭外壳由底座,围板和盖板组成;所述围板由前后左右四块面板组成;所述的高精度数显表和数显调节装置嵌在前面板上;所述全封闭光通路和光电参数控制系统通过定位夹持机构固定在底座上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王鹏李雪张殿德郑国恩常飞常吉华
申请(专利权)人:南阳森霸光电股份有限公司
类型:新型
国别省市:河南;41

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