方形截面细长工件的拼接面与基准面间垂直度的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种方形截面细长工件的拼接面与基准面间垂直度的检测方法，其利用具有两个测量表的量具进行方形截面细长工件的待拼接面与基准面间垂直度的检测，检测过程中在保持竖直表架的内竖直表面与方形截面细长工件的贴置面紧贴的前提下，只需移动竖直表架，使水平表架朝方形截面细长工件的基准面的方向靠近，并观察两个测量表，当两个测量表同时有大于0的读数时记录读数，再根据方形截面细长工件沿竖直表架移动方向的长度、两个测量表之间的距离及两个测量表的读数就可计算得到垂直度，整个检测过程简单，整个检测过程只需移动竖直表架，并观察两个测量表即可，检测成本低，且检测效率高；利用测量表的读数计算垂直度，检测精度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种工件的垂直度检测技术，尤其是涉及一种需拼接使用的方形截面细长工件的待拼接面与基准面间垂直度的检测方法。
技术介绍
方形截面细长工件应用广泛，如直线导轨因其具有高载荷、高精度、高速、高可靠性等特点，已被广泛应用于众多机电一体化设备。然而，大型龙门机床等设备需要的直线导轨的长度往往超过现有的导轨磨能一次磨出的直线导轨的最大长度，因此直线导轨拼接势在必行。为保证拼接产品的可靠性，直线导轨的待拼接面与基准面间垂直度必须满足相应的要求。目前，检测方形截面直线导轨的待拼接面与基准面间垂直度的方法为利用三坐标测量仪进行检测，该方法的检测成本高，且检测效率低；此外，其在测量过程中是人为选择测量点的，因此存在可能漏掉高点的问题，从而将影响检测精度。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种方形截面细长工件的拼接面与基准面间垂直度的检测方法，其检测过程简单，且检测成本低、检测效率高、检测精度高。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种方形截面细长工件的拼接面与基准面间垂直度的检测方法，其特征在于包括以下步骤：①设计量具，该量具包括截面为L型的表架和两个相同的测量表，表架由垂直相连接的水平表架和竖直表架组成，两个测量表竖直安装于水平表架上，即使得两个测量表的量杆竖直，且两个测量表的测头位于水平表架的内水平表面与竖直表架的内竖直表面围成的空间内；②对两个测量表进行调零；③-1、将方形截面细长工件水平放置，并将方形截面细长工件的拼接面作为贴置面，将方形截面细长工件中除底面外与贴置面垂直的任意一个侧表面作为基准面；或将方形截面细长工件的拼接面作为基准面，将方形截面细长工件中除底面外与基准面垂直的任意一个侧表面作为贴置面；在此，方形截面细长工件的拼接面和四个侧表面的平面度满足要求；③-2、使两个测量表的测头正对方形截面细长工件的基准面且与方形截面细长工件的基准面不相接触，然后将竖直表架的内竖直表面紧贴于方形截面细长工件的贴置面上；③-3、在保持竖直表架的内竖直表面与方形截面细长工件的贴置面紧贴的前提下，移动竖直表架，使两个测量表的测头向方形截面细长工件的基准面靠近，直至两个测量表的测头碰触到方形截面细长工件的基准面且两个测量表均有大于0的读数时停止移动竖直表架；③-4、记录两个测量表的读数，分别记为D1和D2；③-5、根据方形截面细长工件沿竖直表架移动方向的长度、两个测量表之间的距离及D1和D2，计算方形截面细长工件的拼接面与基准面间的垂直度，记为P，其中，H表示方形截面细长工件沿竖直表架移动方向的长度，L表示两个测量表之间的距离，符号“||”为取绝对值符号。所述的测量表为百分表或千分表。所述的步骤②中对两个测量表进行调零是通过方尺实现的，具体过程为：②-1、将方尺水平放置，并将方尺中除底面外的任意一个表面作为基准面，将方尺中除底面外与基准面垂直的任意一个表面作为贴置面；②-2、使两个测量表的测头正对方尺的基准面且与方尺的基准面不相接触，然后将竖直表架的内竖直表面紧贴于方尺的贴置面上；②-3、在保持竖直表架的内竖直表面与方尺的贴置面紧贴的前提下，移动竖直表架，使两个测量表的测头向方尺的基准面靠近，直至两个测量表的测头碰触到方尺的基准面且两个测量表均有读数时停止移动竖直表架；②-4、保持两个测量表的指针不动，转动两个测量表各自的圆表盘，使两个测量表各自的圆表盘上的零刻线与各自的指针重合，完成调零。与现有技术相比，本专利技术的优点在于：1)利用具有两个测量表的量具对方形截面细长工件的待拼接面与基准面间的垂直度进行检测，检测过程中在保持竖直表架的内竖直表面与方形截面细长工件的贴置面紧贴的前提下，只需移动竖直表架，使水平表架朝方形截面细长工件的基准面的方向靠近，并观察两个测量表，当两个测量表同时有大于0的读数时记录两个测量表的读数，再根据方形截面细长工件沿竖直表架移动方向的长度、两个测量表之间的距离及两个测量表的读数就可计算得到垂直度，整个检测过程简单。2)整个检测过程只需移动竖直表架，并观察两个测量表即可，检测成本低，且检测效率高；检测过程中量具的竖直表架的内竖直表面与拼接面或与基准面面接触，避免了现有的利用三坐标测量仪测量过程中人为选择测量点，存在可能漏掉高点的问题，面与面接触在一定程度上有均化高低点误差的效果，从而提高了检测精度；此外，利用测量表的读数计算垂直度，使得检测精度高。3)由于方形截面细长工件沿竖直表架移动方向的长度和两个测量表之间距离的比值固定，因此垂直度的精度依赖于两个测量表的读数的精度，而测量表采用百分表或千分表，其精度较高，从而有效地提高了垂直度的检测精度。附图说明图1为对测量表进行调零的主视示意图；图2为检测方形截面细长工件的待拼接面与基准面间垂直度的主视示意图；图3为方形截面细长工件的待拼接面与基准面间垂直度的原理图。具体实施方式以下结合附图实施例对本专利技术作进一步详细描述。本专利技术提出的一种方形截面细长工件的拼接面与基准面间垂直度的检测方法，其包括以下步骤：①设计量具，如图1和图2所示，该量具包括截面为L型的表架1和两个相同的测量表2，表架1由垂直相连接的水平表架11和竖直表架12组成，两个测量表2竖直安装于水平表架11上，即使得两个测量表2的量杆竖直，且两个测量表2的测头位于水平表架11的内水平表面13与竖直表架12的内竖直表面14围成的空间内。②对两个测量表2进行调零。在此具体实施例中，步骤②中对两个测量表2进行调零是通过方尺3实现的，具体过程为：②-1、将方尺3水平放置，并将方尺3中除底面外的任意一个表面作为基准面，将方尺3中除底面外与基准面垂直的任意一个表面作为贴置面；②-2、使两个测量表2的测头正对方尺3的基准面且与方尺3的基准面不相接触，然后将竖直表架12的内竖直表面14紧贴于方尺3的贴置面上；②-3、在保持竖直表架12的内竖直表面14与方尺3的贴置面紧贴的前提下，移动竖直表架12，使两个测量表2的测头向方尺3的基准面靠近，直至两个测量表2的测头碰触到方尺3的基准面且两个测量表2均有读数时停止移动竖直表架12；②-4、保持两个测量表2的指针不动，转动两个测量表2各自的圆表盘，使两个测量表2各自的圆表盘上的零刻线与各自的指针重合，完成调零。图1给出了利用方尺对两个测量表进行调零的示意图，图1中方尺的右表面为贴置面，方尺的上表面为基准面，移动竖直表架时是竖直向下移动竖直表架。...

【技术保护点】
一种方形截面细长工件的拼接面与基准面间垂直度的检测方法，其特征在于包括以下步骤：①设计量具，该量具包括截面为L型的表架和两个相同的测量表，表架由垂直相连接的水平表架和竖直表架组成，两个测量表竖直安装于水平表架上，即使得两个测量表的量杆竖直，且两个测量表的测头位于水平表架的内水平表面与竖直表架的内竖直表面围成的空间内；②对两个测量表进行调零；③‑1、将方形截面细长工件水平放置，并将方形截面细长工件的拼接面作为贴置面，将方形截面细长工件中除底面外与贴置面垂直的任意一个侧表面作为基准面；或将方形截面细长工件的拼接面作为基准面，将方形截面细长工件中除底面外与基准面垂直的任意一个侧表面作为贴置面；在此，方形截面细长工件的拼接面和四个侧表面的平面度满足要求；③‑2、使两个测量表的测头正对方形截面细长工件的基准面且与方形截面细长工件的基准面不相接触，然后将竖直表架的内竖直表面紧贴于方形截面细长工件的贴置面上；③‑3、在保持竖直表架的内竖直表面与方形截面细长工件的贴置面紧贴的前提下，移动竖直表架，使两个测量表的测头向方形截面细长工件的基准面靠近，直至两个测量表的测头碰触到方形截面细长工件的基准面且两个测量表均有大于0的读数时停止移动竖直表架；③‑4、记录两个测量表的读数，分别记为D1和D2；③‑5、根据方形截面细长工件沿竖直表架移动方向的长度、两个测量表之间的距离及D1和D2，计算方形截面细长工件的拼接面与基准面间的垂直度，记为P，其中，H表示方形截面细长工件沿竖直表架移动方向的长度，L表示两个测量表之间的距离，符号“| |”为取绝对值符号。...

【技术特征摘要】
1.一种方形截面细长工件的拼接面与基准面间垂直度的检测方法，其特征在于包
括以下步骤：
①设计量具，该量具包括截面为L型的表架和两个相同的测量表，表架由垂直相连
接的水平表架和竖直表架组成，两个测量表竖直安装于水平表架上，即使得两个测量表
的量杆竖直，且两个测量表的测头位于水平表架的内水平表面与竖直表架的内竖直表面
围成的空间内；
②对两个测量表进行调零；
③-1、将方形截面细长工件水平放置，并将方形截面细长工件的拼接面作为贴置面，
将方形截面细长工件中除底面外与贴置面垂直的任意一个侧表面作为基准面；或将方形
截面细长工件的拼接面作为基准面，将方形截面细长工件中除底面外与基准面垂直的任
意一个侧表面作为贴置面；
在此，方形截面细长工件的拼接面和四个侧表面的平面度满足要求；
③-2、使两个测量表的测头正对方形截面细长工件的基准面且与方形截面细长工件
的基准面不相接触，然后将竖直表架的内竖直表面紧贴于方形截面细长工件的贴置面
上；
③-3、在保持竖直表架的内竖直表面与方形截面细长工件的贴置面紧贴的前提下，
移动竖直表架，使两个测量表的测头向方形截面细长工件的基准面靠近，直至两个测量
表的测头碰触到方形截面细长工件的基准面且两个测量表均有大于0的读数时停止移动
竖直表架；
③-4、记录两个测量表的读数，分别记为D...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑兴民，范铭，谷葩，
申请(专利权)人：宁波海迈克精密机械制造有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33