自动分析装置制造方法及图纸

技术编号:12102252 阅读:84 留言:0更新日期:2015-09-23 20:34
本发明专利技术提供自动分析装置,在测定血液、尿等生物体样品中目标成分的浓度或者有无的自动分析装置中,具有对光学系统中的消耗品进行判定或检测劣化程度并向使用者提供信息的功能。具备存储部和控制部,存储部在测定从光源透过被测物质的透射光时存储由受光元件检测的多个波长的透光度分布,控制部对预先保存在上述存储部中的第一透光度分布和测定时获取的第二透光度分布进行比对,控制部根据比对结果从多个部件中判定劣化部件并进行输出。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及进行血液、尿等生物体样品的定性、定量分析的自动分析装置,涉及具备夹持反应容器来配置光源和分光检测器从而测定反应容器的光量的方式的自动分析装置。
技术介绍
自动分析装置是测定血液、尿等生物体样品中目标成分的浓度或者有无的装置。与通过手工方法由检测技师进行测定相比,由于分析速度、分析精度(重现性)高,所以正在以大医院、检查中心为中心进行普及。在自动分析装置中,为了测定吸光度,边使在圆周上连续的旋转反应容器旋转,边使光轴向一个接一个相邻的反应容器移动并测定吸光度。具备向旋转反应容器投射光的投光用灯、以及用于阻止不需要的波段的光到达检测器的带通光学滤光片。已知这些设备在特性方面,随着时间的经过特性将会劣化,成为需要定期更换的部件。以往根据更换周期这样的规定,通过在其劣化没有对装置性能产生影响的期间进行更换,确保了检查的质量。此外,作为达到这种目的的技术,专利文献I中公开了通过观察在该分析期间中测光点吸光度的变化,来检测该分析期间中灯异常的技术。此外,在专利文献2中公开了关于光源灯更换时间的计算方法的技术。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平9一229939号公报专利文献2:日本特开2011— 117746号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题专利文献I记载的技术是通过利用反应过程数据,检测该分析期间内的灯异常变化。该方法虽然能够检测该分析期间内发生的异常,但无法检测装置使用中的长期间内的灯的异常。此外,在专利文献I及2的技术中,虽然公开了利用该分析中使用的波长的吸光度来检测灯的异常、劣化的方法,但对于除此之外的异常检测并没有公开。对于光学系统的劣化,有时很难判定是由光度计的光轴上存在的灯和光学滤光片中哪一个引起的劣化。此外,由于灯等部件大多各自具有不同的寿命,对于现状使用者则以保留富余时间的更换周期指示更换,因此尽管还残留有寿命也必需进行部件更换。因此存在未用尽寿命期间就进行部件更换的情况。本专利技术的目的是,在不进行利用某分析项目确定的波长的吸光度的异常检测的情况下,不仅检测灯的劣化、异常,而且检测光度计的光轴上存在的长期的所有劣化、异常。用于解决课题的方法用于解决上述问题的本专利技术的结构如下。本专利技术是自动分析装置,其具备存储部和控制部,存储部在测定从光源透过被测物质的透射光时存储由受光元件检测的多个波长的透光度分布,控制部对预先保存在上述存储部中的第一透光度分布和测定时获取的第二透光度分布进行比对,上述控制部根据比对结果从多个部件中判定劣化部件并进行输出。由于波长的劣化倾向根据各部件而不同,所以通过对劣化时的多个波长的透光度分布和测定时获取的透光度分布进行比对,能够从多个部件中判定劣化部件。此外,针对伴随使用时间的经过的透光量的减少倾向,按不同波长进行测定以及在不同波长间进行比对,由此能够将光源灯、光学滤光片的异常、劣化按照不同的原因区分,通知给使用者。根据本专利技术,能够容易地从多个部件中判定劣化部件,因此能够容易地把握更换对象。此外,根据本专利技术能够输出各部件的劣化程度,所以能够给予使用者与实际劣化程度相应的更换信息,能够用尽寿命期间而使用部件。因此,能够期待降低部件更换频度的可能性,能够有助于维护保养费用削减等的维护保养性提高。【附图说明】图1是本专利技术的自动分析装置的一个实施例的示意结构图。图2是自动分析装置中的光度测定的详细图。图3是吸光度测定和全波形分析的方框图。图4是反应容器的位置和透射光光度的例子。图5是相关度及劣化度计算算法的例子。图6是其它的能够期待异常检测的现象的例子。图7是数据采集时间的例子。【具体实施方式】以下根据实施例对本专利技术进行详细说明。图1是本专利技术的自动分析装置的一个实施例的示意结构图。本实施方式的自动分析装置主要由传送线(101)、反应盘(104)、试剂盘(103)、分光器(107)构成。架载有检测体容器(110)的检测体架(111)从传送线(101)被传送至转轮(102),并被传送至作为分注位置的罩部(114)。然后,通过分注机构(105)将分析所需的检测体分注于反应盘(104)上的反应容器(112)。进而将所需的试剂从试剂盘(103)上的试剂容器(113)分注于该反应容器(112),通过搅拌机构(106)将反应液混合。反应液通过分光器(107)测定吸光度。这些机构被控制部(115)控制。此外,测定的吸光度存储于控制部(115)所包含的存储部内。图2是本专利技术的自动分析装置中的光度测定的详细图。在图2中,在自动分析装置(201)中,分析部(204)使光从光源(217)向在分析部的反应容器(208)中使检测体与试剂反应后的反应液(206)透射,并用分光器(218)进行组成分析。位于分析部(204)的反应容器(208)浸入于反应槽(212)中储存的以水为代表的保温介质(213)中,保持恒定的温度。此外,这些多个反应容器(208)被配置在反应盘(215)上,通过用控制部(115)控制反应盘电动机(216),从而与反应盘(215) —起旋转或移动,在分光器(118)和搅拌机构(106)、分注机构(105)之间往复移动。图3是本专利技术的自动分析装置中的光度测定的方框图。光度测定器由分光器(302)、受光部(303)、对数放大器(304)、光度信号处理部(305)构成。光度信号处理部(305)由AD转换器(307)、光量数据保存部(308)、CPU(309)构成。从光源灯透过反应液的透射光(301)被分光器(302)区分为各个波长,并在受光部(303)转换为与按每个波长接收的光强度相应的电流,通过对数放大器(304)将微弱的电流信号放大至容易处理的电压信号,通过光度信号处理部(305)进行修正等处理从而确定最终的透光量。在光度信号处理部(305)中,将放大后的电压信号转换为数字值,通过CPU (309)进行数据转换,在通常的分析项目中作为利用多个波长中的两个波长的吸光度而输出。此外,转换为数字值的电压信号同时临时性存放在光量数据保存部(308)。在光量数据保存部中还保存了在使用地装置刚安装后、消耗品刚更换后,例如在测定如纯水一样的无色透明液体时的光量数据。以临时性存放的数据为基础,通过CPU(309)(以下也称为控制部)进行数据分析,与以往测定无色透明液体时的光量数据进行比对,判定劣化部件或计算光学系统部件的劣化程度。此外,计算结果还能够通过显示器等显示装置向使用者提供信息。进而通过数据分析检测到接近寿命的情况下,例如变为规定的劣化程度时,还能够从装置输出警报等,向使用者、现场工程师提供如催促更换、清扫的信息。图4是本专利技术的自动分析装置中的通过光量数据分析判定劣化部件或检测消耗品劣化的例子。预先调查通过实验求得的由光学滤光片、灯这类消耗品劣化引起的透光量相对于波长的的减少特性,预先以已知的滤光片劣化时的透光量分布(403)、已知的灯劣化时的透光量分布(404)的形式做成数据库。在装置内的光量数据当前第1页1 2 本文档来自技高网...
自动分析装置

【技术保护点】
一种自动分析装置,其特征在于,具备:在测定从光源透过被测物质的透射光时存储由受光元件检测的多个波长的透光度分布的数据保存部;以及对预先保存在上述数据保存部中的第一透光度分布和测定时获取的第二透光度分布进行比对的控制部,上述控制部根据比对结果从多个部件中判定劣化部件并进行输出。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:西墙宪一
申请(专利权)人:株式会社日立高新技术
类型:发明
国别省市:日本;JP

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