System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 粒子测量装置、粒子测量方法、样品容器制造方法及图纸_技高网

粒子测量装置、粒子测量方法、样品容器制造方法及图纸

技术编号:41222530 阅读:3 留言:0更新日期:2024-05-09 23:41
本发明专利技术的目的在于,在通过光照射来测量粒子的尺寸、密度等的情况下,减轻用户对测量装置输入粒子的折射率、溶剂的折射率的负担,并且提高依赖于折射率的测定精度。本发明专利技术的粒子测量装置确定透光窗与样品之间的沿着光轴方向的边界位置,使用该边界位置处的已知样品的折射率和所述透光窗的折射率来计算所述样品的折射率(参照图6)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及测量在包含溶剂和粒子的样品内悬浮的粒子的尺寸分布的技术。


技术介绍

1、近年来,医药品的开发对象正在从低分子药转移到生物医药品。生物医药品为高分子,因此容易凝集,凝集时有时产生毒性。例如美国食品医药品管理局等要加强凝集体的浓度管理限制。因此,对于0.1μm~1μm的亚微米区域中的凝集体,需要定量地测量期望密度的尺寸分布的技术。蛋白质的凝集体在溶剂中悬浮,位置因布朗运动而随时间变化。以下,在本专利技术中,对蛋白质的凝集体及聚苯乙烯珠等标准粒子的尺寸和密度的测量技术进行记述。将这些被检物统一记述为“粒子”。

2、专利文献1记载了使用光测量来检测粒子的技术。该文献公开了“一种光测量方法,对光进行聚光而生成光斑,对所述光斑的尺寸的大致3倍以下的被检物进行测量,其特征在于,具有:信号取得步骤,至少一边使所述光的焦点位置在光轴方向上移动一边对所述被检物进行照射,由此检测从所述被检物反射的反射光;取得对应关系数据的步骤,该对应关系数据记述了所述反射光的强度与所述被检物的尺寸之间的对应关系;以及尺寸计算步骤,使用所述反射光的强度来查询所述对应关系数据,由此取得所述被检物的尺寸”(权利要求1)。该文献记载的技术通过使反射光与参照光干涉来增强信号,从而不需要预处理,能够实现高分辨率的测量。

3、专利文献2公开了如下技术:对物镜进行物理扫描,并且利用相位条件不同的4个检测器接收信号光与干涉光的干涉,由此不需要时域oct(optical coherencetomography)中的基于反射镜的扫描的参照光的相位调整。进而,专利文献2基于专利文献1的技术,公开了使光斑的扫描高速化的技术,以免受到在液体中进行布朗运动的粒子的运动的影响。

4、专利文献3公开了如下技术:在使用半导体激光器作为光源的生物断层图像的测量中,通过将高频叠加在驱动电流上来将相干长度控制在预定范围内,由此降低所获取的断层图像中所包括的噪声的影响。

5、专利文献4公开了使用特殊的容器和光学系统来测定溶剂的折射率的技术。

6、非专利文献1公开了与作为用于生物医药品的分析的容器的代表性的微孔板的功能、形状相关的规格信息。该规格在后述的样品容器的实施方式中提及。

7、现有技术文献

8、专利文献

9、专利文献1:日本特开2017-102032号公报

10、专利文献2:wo 2020/144754

11、专利文献3:日本特开2015-049204号公报

12、专利文献4:日本特开平7-055700号公报

13、非专利文献

14、非专利文献1:url:

15、https://www.slas.org/education/ansi-slas-microplate-standards/(2022年1月18日取得)


技术实现思路

1、专利技术所要解决的课题

2、考虑使用专利文献1或2所记载的技术来测量蛋白质凝集体等粒子的尺寸和密度。使用该文献记载的技术检测的反射光与粒子的尺寸一起根据其折射率而变化。该文献记载的技术通过利用光的干涉将反射光的电场振幅转换为电压,能够得到检测信号。该检测信号的大小不仅根据粒子的尺寸,还根据粒子的折射率和溶剂的折射率而变化。另一方面,在生物药物中,为了使蛋白质尽可能不凝集,以适当的量添加例如ph、盐、糖、表面活性剂等。因此,溶剂的折射率根据添加剂的条件而变化。

3、在与溶剂之间的折射率差小的蛋白质凝集体的情况下,相对于溶剂的折射率的变化,检测信号的大小的变化大。因此,在利用专利文献1和专利文献2中记载的技术测量蛋白质凝集体的尺寸和密度的情况下,用户需要对测定装置高精度地输入蛋白质凝集体和溶剂的折射率。

4、也可以考虑使用专利文献4那样的测量折射率的装置来代替用户输入折射率。但是,在包含该文献记载的方法的市售的折射率测定装置中,使用的光源的波长大多为离散的值。因此,从用户的便利性的观点出发,难以根据波长的差异和添加物条件的差异准确地求出溶剂和粒子各自的折射率。

5、本专利技术是为了解决上述课题而完成的,其目的在于,在通过光照射来测量粒子的尺寸、密度等的情况下,减轻用户对测量装置输入粒子的折射率、溶剂的折射率的负担,并且提高依赖于折射率的测定精度。

6、用于解决课题的手段

7、本专利技术的粒子测量装置确定透光窗与样品之间的沿着光轴方向的边界位置,使用该边界位置处的已知样品的折射率和所述透光窗的折射率来计算所述样品的折射率。

8、专利技术效果

9、根据本专利技术,能够提高使用光来测量介质中的粒子的尺寸和密度时的便利性和测量精度。关于上述以外的课题、结构、效果等,通过以下的实施方式的说明而明确。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种粒子测量装置,其测量在包含溶剂和粒子的样品内悬浮的所述粒子的尺寸,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的粒子测量装置,其特征在于,

6.根据权利要求4所述的粒子测量装置,其特征在于,

7.根据权利要求4所述的粒子测量装置,其特征在于,

8.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

9.一种粒子测量方法,测量在包含溶剂和粒子的样品内悬浮的所述粒子的尺寸,其特征在于,

10.根据权利要求9所述的粒子测量方法,其特征在于,

11.根据权利要求10所述的粒子测量方法,其特征在于,

12.根据权利要求9所述的粒子测量方法,其特征在于,

13.根据权利要求9所述的粒子测量方法,其特征在于,

14.根据权利要求9所述的粒子测量方法,其特征在于,

15.一种样品容器,其能够相对于样品架装卸,将样品保持在形成于内部的槽孔内,所述样品架由设置于尺寸测量装置的框架和金属制的底板形成,所述尺寸测量装置对包含溶剂和粒子的所述样品照射光,测量悬浮于所述溶剂中的所述粒子的尺寸,其特征在于,

...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种粒子测量装置,其测量在包含溶剂和粒子的样品内悬浮的所述粒子的尺寸,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的粒子测量装置,其特征在于,

6.根据权利要求4所述的粒子测量装置,其特征在于,

7.根据权利要求4所述的粒子测量装置,其特征在于,

8.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

9.一种粒子测量方法,测量在包含溶剂和粒子的样品内悬浮的所...

【专利技术属性】
技术研发人员:峰邑浩行安斋由美子大泽贤太郎
申请(专利权)人:株式会社日立高新技术
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1