一种ICT测试系统技术方案

本发明专利技术涉及测试设备领域，尤其涉及一种ICT测试系统。在传统的ICT测试系统的基础上，在控制板增加数模转换芯片、模数转换芯片和FPGA芯片，以及在背板增加信号采样片选模块，在开关板增加CPLD模块，所述数模转换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的12位精度数模专用芯片，设置于控制板上，与控制板配合可集成产生可编程电压源或者电流源激励，所述模数转换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的14位高精度模数专用芯片，与控制板配合可实现高精度采样量测回路模拟信号参数，所述FPGA芯片集成度高，很多逻辑都可以通过FPGA实现，稳定性自然提高；由于逻辑采用FPGA芯片硬件描述语言实现，因此提升了系统的灵活性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试设备领域，尤其涉及一种ICT测试系统。
技术介绍
随着科技的不断发展，生产效率及生产工艺要求不断提高，电子产品基本上都是 要电路板实现各种应用功能，但是电路板上又有各种电子元器件，各元器件使用肉眼很难 进行检测，特别对大批量生产更是如此。在此背景下，ICT测试设备就是为了解决PCBA测 试而产生的专用测试设备。 ICT即In-Circuit-Tester，是现代电子企业必备的P CBA生产的测试设备，ICT 使用范围广，测量准确性高，对检测出的问题指示明确，即使电子技术水准一般的工人处理 有问题的PCBA板也非常容易。其次，ICT Test主要是测试探针接触PCB layout出来的测 试点来检测PCBA的线路开路、短路、所有零件的焊接情况，可分为开路测试、短路测试、电 阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、1C管脚测试等其它通用和特殊 元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是哪个组件或 开短路位于哪个点准确告诉用户。通过使用ICT能极大地提高生产效率，降低生产成本。 但是针对当前国内众多ICT测试设备大多采用90年代设计方案，以PCI (称为个 人电脑接口，Personal Computer Interface)集成卡通信，控制系统采用离散数字与非门 实现控制逻辑的实现模式。 因此，现有技术存在如下缺陷： 1、应用逻辑更改与实现比较困难。现有技术由于采用离散数字与非门组成控制系 统实现逻辑，一旦硬件系统确定，比较难实现其他变更需求。 2、稳定性较差、硬件系统相对复杂。由于现有技术采用离散硬件方式实现系统，众 多分立元件的存在难以确保系统稳定性。 3、结构相对笨重、使用不够灵活。由于ICT需要配备工控机组成系统，而目前市面 主流工控设备逐步取消基于PCI的并行接口，因此通用性较差。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种ICT测试系统，提高测试系统的集成度、 稳定性以及灵活性。 为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为： 一种ICT测试系统，包括工控机系统、设备控制模块和压台系统； 所述设备控制模块包括控制板、背板和一个以上的开关板；所述控制板包括数模 转换芯片、模数转换芯片和FPGA芯片； 所述压台系统包括压台棒和针床； 所述工控机系统分别与数模转换芯片和模数转换芯片连接；所述数模转换芯片与 FPGA芯片连接；所述模数转换芯片与FPGA芯片连接； 所述FPGA芯片分别与背板和压台棒连接； 所述背板包括信号采样片选模块；所述开关板包括CPLD模块； 所述背板通过信号采样片选模块分别与一个以上的CPLD模块连接； 所述压台棒与针床连接； 所述针床用于放置待测PCBA板； 所述开关板用于测试待测PCBA板。 本专利技术的有益效果在于：在传统的ICT测试系统的基础上，在控制板上增加数模 转换芯片、模数转换芯片和FPGA芯片，以及在背板上增加信号采样片选模块，在开关板上 增加CPLD模块，所述数模转换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的12位精度DAC专用芯 片，设置于控制板上，与控制板配合可集成产生可编程电压源或者电流源激励，所述模数转 换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的14位高精度ADC专用芯片，与控制板配合可实现 高精度采样量测回路模拟信号参数，所述FPGA芯片集成度高，很多逻辑都可以通过FPGA实 现，稳定性自然提高；由于逻辑采用FPGA芯片硬件描述语言实现，因此提升了系统的灵活 性。通过上述连接方式，可实现支持更多开关板级联，控制板的FPGA芯片与CPLD芯片组合 方式扩展更多10管脚，并且可实现每个ICT设备支持最大16块开关板集成能力，背板信号 采样片选与并行总线组合方式，实现不同开关板的控制。本专利技术提供的一种ICT测试系统 可提高测试系统的集成度、稳定性以及灵活性。【附图说明】 图1为本专利技术【具体实施方式】的ICT测试系统的结构示意图； 图2为本专利技术【具体实施方式】的ICT测试系统的结构示意图； 标号说明： 1、控制设备模块；2、电源板；3、控制板；4、开关板；5、背板；6、压台系统；7、工控 机系统；8、电源接口；9、USB接口；10、显示器；11、打印机；12、针床；13、压台棒；14、工控 机系统；15、设备控制模块；151、控制板；1511、数模转换芯片；1512、模数转换芯片；1513、 FPGA芯片；152、背板；1521、信号采样片选模块；153、开关板；1531、CPLD模块；16、压台系 统；161、压台棒；162、针床。【具体实施方式】 为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附 图予以说明。 本专利技术最关键的构思在于：通过在控制板上增加数模转换芯片、模数转换芯片和 FPGA芯片，可提高测试系统的集成度、稳定性以及灵活性。 本专利技术涉及的技术术语解释： 请参阅图1，本专利技术提供的一种ICT测试系统，包括工控机系统14、设备控制模块 15和压台系统16 ; 所述设备控制模块15包括控制板151、背板152和一个以上的开关板153 ;所述控 制板151包括数模转换芯片1511、模数转换芯片1512和FPGA芯片1513 ; 所述压台系统16包括压台棒161和针床162 ; 所述工控机系统14分别与数模转换芯片1511和模数转换芯片1512连接；所述数 模转换芯片1511与FPGA芯片1513连接；所述模数转换芯片1512与FPGA芯片1513连接； 所述FPGA芯片1513分别与背板152和压台棒161连接； 所述背板152包括信号采样片选模块1521 ;所述开关板153包括CPLD模块1531 ; 所述背板152通过信号采样片选模块1521分别与一个以上的CPLD模块1531连 接； 所述压台棒161与针床162连接； 所述针床162用于放置待测PCBA板； 所述开关板153用于测试待测PCBA板。 从上述描述可知，本专利技术的有益效果在于：在传统的ICT测试系统的基础上，在控 制板上增加数模转换芯片、模数转换芯片和FPGA芯片，以及在背板上增加信号采样片选模 块，在开关板上增加CPLD模块，所述数模转换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的12位 精度DAC专用芯片，设置于控制板上，与控制板配合可集成产生可编程电压源或者电流源 激励，所述模数转换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的14位高精度ADC专用芯片，与控 制板配合可实现高精度采样量测回路模拟信号参数，所述FPGA芯片集成度高，很多逻辑都 可以通过FPGA实现，稳定性自然提高；由于逻辑采用FPGA芯片硬件描述语言实现，因此提 升了系统的灵活性。通过上述连接方式，可实现支持更多开关板级联，控制板的FPGA芯片 与CPLD芯片组合方式扩展更多10管脚，并且可实现每个ICT设备支持最大16块开关板集 成能力，背板信号采样片选与并行总线组合方式，实现不同开关板的控制。本专利技术提供的一 种ICT测试系统可提高测试系统的集成度、稳定性以及灵活性。 进一步的，所述控制板还包括DDS信号发生器；所述模数转换芯片通过DDS信号发 生器与FPGA芯片连接。 由上述描述可知，所述模数转换芯片通过DDS信号发生器与FP本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ICT测试系统，其特征在于，包括工控机系统、设备控制模块和压台系统；所述设备控制模块包括控制板、背板和一个以上的开关板；所述控制板包括数模转换芯片、模数转换芯片和FPGA芯片；所述压台系统包括压台棒和针床；所述工控机系统分别与数模转换芯片和模数转换芯片连接；所述数模转换芯片与FPGA芯片连接；所述模数转换芯片与FPGA芯片连接；所述FPGA芯片分别与背板和压台棒连接；所述背板包括信号采样片选模块；所述开关板包括CPLD模块；所述背板通过信号采样片选模块分别与一个以上的CPLD模块连接；所述压台棒与针床连接；所述针床用于放置待测PCBA板；所述开关板用于测试待测PCBA板。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王礼忠，罗显能，张科峰，彭进军，
申请(专利权)人：深圳市派捷电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44