一种电解电容极性检测方法、电子设备、存储介质、程序产品技术

本发明专利技术提供一种电解电容极性检测方法，包括步骤：电容正接测量，获取电解电容与电源正接时，测量的电解电容外壳电压，得到第一外壳电压；电容反接测量，获取电解电容与电源反接时，测量的电解电容外壳电压，得到第二外壳电压；电容极性判断，通过电源的输出电压、第一外壳电压、第二外壳电压计算中点电压，通过中点电压判断电解电容的正负极。本发明专利技术涉及一种电子设备、存储介质和程序产品。本发明专利技术通过分析无效检测的具体现象，对检测提出改进，解决了由于电解电容本身存在各种生产工艺、电解质差异等，导致部分产品的正负极无法被有效检测出来的问题，实现对电解电容的正负极进行快速、稳定的检测。稳定的检测。稳定的检测。

【技术实现步骤摘要】
一种电解电容极性检测方法、电子设备、存储介质、程序产品


[0001]本专利技术涉及电子产品自动在线测试
，尤其涉及一种电解电容极性检测方法、电子设备、存储介质、程序产品。

技术介绍

[0002]目前常用检测方法是对电容两端输出一个固定电压,然后检测引脚跟电容外壳的电压,检测结构如图1所示。
[0003]铝电解电容是电容的一种。铝箔为正极，与正极紧贴金属的氧化膜(氧化铝)是电介质，阴极由导电材料、电解质(电解质可以是液体或固体)和其他材料共同组成。因为电容外壳直接接触到电解质,所以会跟引脚产生电气特性，电容外壳跟引脚产生的电气特性可以简化为如图2所示。电容外壳分别跟引脚存在电阻R1,R2，因为电解质作为阴极(负极),电容外壳直接接触到电解质,所以R2的电阻会更小，R2电压会小于R1的电压,通过检查电阻(R1或R2)的电压就可以判断出正负极。一般来说，正极R1的电压在0.12
‑
0.18左右(0.2V总电压)。
[0004]由于电解电容本身存在各种生产工艺、电解质差异等,上述检测方法可能会不稳定,可能存在20％左右的产品无法有效检测。另外，电容在测试过程中容易被充电,检测前需要对电容放电,影响检测速度。

技术实现思路

[0005]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种电解电容极性检测方法，解决了由于电解电容本身存在各种生产工艺、电解质差异等，导致部分产品的正负极无法被有效检测出来的问题。
[0006]本专利技术提供一种电解电容极性检测方法，包括以下步骤：
[0007]电容正接测量，获取电解电容与电源正接时，测量的电解电容外壳电压，得到第一外壳电压，所述电解电容与电源正接为电解电容的第一电极与电源的正极连接，电解电容的第二电极与所述电源的负极连接；
[0008]电容反接测量，获取电解电容与电源反接时，测量的电解电容外壳电压，得到第二外壳电压，所述电解电容与电源反接为电解电容的第一电极与电源的负极连接，电解电容的第二电极与所述电源的正极连接；
[0009]电容极性判断，通过所述电源的输出电压、所述第一外壳电压、所述第二外壳电压计算中点电压，通过所述中点电压判断所述电解电容的正负极，所述中点电压为电解电容与电源正接时，电解电容外壳分别与正负极之间电阻的连接点电压。
[0010]进一步地，所述电解电容的内部等效电路包括第一电阻、第二电阻、第一电容，所述电解电容的第一电极与所述第一电阻连接，所述电解电容的第二电极与所述第二电阻连接，所述第一电阻与所述第二电阻串联，所述第一电容的一端接在所述第一电阻与所述第二电阻之间，所述第一电容的另一端与所述电解电容的外壳连接。
[0011]进一步地，所述电容极性判断步骤中，当所述电解电容与电源正接时，电压计算公式为：
[0012]V1＝V
x
+V
g
[0013]其中，V1为第一外壳电压，V
x
为中点电压，V
g
为第一电容的电压。
[0014]进一步地，所述电容极性判断步骤中，当所述电解电容与电源反接时，电压计算公式为：
[0015]V2＝(V
s
‑
V
x
)+V
g
[0016]其中，V2为第二外壳电压，V
s
为电源的输出电压。
[0017]进一步地，所述中点电压计算公式为
[0018]V
x
＝(V1‑
V2+V
s
)/2。
[0019]进一步地，所述第一电阻的电压为
[0020]V
R1
＝V
s
‑
V
x
。
[0021]进一步地，所述电容极性判断步骤中，判断所述第一电阻的电压是否为所述电源的输出电压的60％～90％，是则判定与所述第一电阻直接连接的第一电极为正极，与所述第二电阻直接连接的第二电极为负极，否则判定与所述第一电阻直接连接的第一电极为负极，与所述第二电阻直接连接的第二电极为正极。
[0022]一种电子设备，包括：处理器；
[0023]存储器；以及程序，其中所述程序被存储在所述存储器中，并且被配置成由处理器执行，所述程序包括用于执行一种电解电容极性检测方法。
[0024]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行一种电解电容极性检测方法。
[0025]一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，该计算机程序/指令被处理器执行时实现一种电解电容极性检测方法。
[0026]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：
[0027]本专利技术提供一种电解电容极性检测方法，通过分析无效检测的具体现象，对检测提出改进，解决了由于电解电容本身存在各种生产工艺、电解质差异等，导致部分产品的正负极无法被有效检测出来的问题，实现对电解电容的正负极进行快速、稳定的检测。
[0028]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本专利技术的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。
附图说明
[0029]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0030]图1为本专利技术
技术介绍
的常用检测结构示意图；
[0031]图2为本专利技术
技术介绍
的电解电容外壳跟引脚产生的电气特性示意图；
[0032]图3为本专利技术的电解电容极性检测方法流程图；
[0033]图4为本专利技术实施例的电解电容等效特性示意图；
[0034]图5为本专利技术实施例的电解电容等效特性简化示意图；
[0035]图6为本专利技术的电容正接和反接检测示意图；
[0036]图7为本专利技术实施例的应用于ICT设备的结构示意图。
具体实施方式
[0037]下面，结合附图以及具体实施方式，对本专利技术做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
[0038]部分电解电容外壳对引脚存在电容性，而且电阻性很大,等效特性如图4所示。检测过程中,因为C1,C2本身存在未知电压,而且R1,R2的电阻非常大,导致检测不稳定,经简化后如图5所示，电解电容的内部等效电路包括第一电阻R1、第二电阻R2、第一电容C1，电解电容的第一电极与第一电阻连接，电解电容的第二电极与第二电阻连接，第一电阻与第二电阻串联，第一电容的一端接在第一电阻与第二电阻之间，第一电容的另一端与电解电容的外壳连接。
[0039]由于C1本身带电，存在未知电压,检测出的结果不稳定。使用多次检测,通过方程推导出C1带电电压,再得到检测电压。具体的，一种电解电容极性检测方法，如图3所示，包括以下步骤：本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电解电容极性检测方法，其特征在于，包括以下步骤：电容正接测量，获取电解电容与电源正接时，测量的电解电容外壳电压，得到第一外壳电压，所述电解电容与电源正接为电解电容的第一电极与电源的正极连接，电解电容的第二电极与所述电源的负极连接；电容反接测量，获取电解电容与电源反接时，测量的电解电容外壳电压，得到第二外壳电压，所述电解电容与电源反接为电解电容的第一电极与电源的负极连接，电解电容的第二电极与所述电源的正极连接；电容极性判断，通过所述电源的输出电压、所述第一外壳电压、所述第二外壳电压计算中点电压，通过所述中点电压判断所述电解电容的正负极，所述中点电压为电解电容与电源正接时，电解电容外壳分别与正负极之间电阻的连接点电压。2.如权利要求1所述的一种电解电容极性检测方法，其特征在于：所述电解电容的内部等效电路包括第一电阻、第二电阻、第一电容，所述电解电容的第一电极与所述第一电阻连接，所述电解电容的第二电极与所述第二电阻连接，所述第一电阻与所述第二电阻串联，所述第一电容的一端接在所述第一电阻与所述第二电阻之间，所述第一电容的另一端与所述电解电容的外壳连接。3.如权利要求2所述的一种电解电容极性检测方法，其特征在于：所述电容极性判断步骤中，当所述电解电容与电源正接时，电压计算公式为：V1＝V
x
+V
g
其中，V1为第一外壳电压，V
x
为中点电压，V
g
为第一电容的电压。4.如权利要求3所述的一种电解电容极性检测方法，其特征在于：所述电容极性判断步骤中，当所述电解电容与电源反接时，电压计算公式为：V2＝(V

【专利技术属性】
技术研发人员：王礼忠，
申请(专利权)人：深圳市派捷电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：